EVG®610紫外线纳米压印光刻系统具有紫外线纳米压印功能的通用研发掩膜对准系统，从碎片到蕞大达150毫米。该工具支持多种标准光刻工艺，例如真空，软，硬和接近曝光模式，并且可以选择背面对准。此外，该系...

晶圆缺陷检测设备主要应用于半导体制造过程中的质量控制，包括以下几个方面：1、晶圆表面缺陷检测：检测晶圆表面的缺陷，如划痕、裂纹、污染等，以保证晶圆的质量。2、晶圆厚度测量：测量晶圆的厚度，以保证晶圆的...

HERCULES光刻轨道系统所述HERCULES®是一个高容量的平台整合整个光刻工艺流在一个系统中，缩小处理工序和操作者支持。HERCULES基于模块化平台，将EVG建立的光学掩模对准技术与集成的晶圆...

纳米压印应用二：面板尺寸的大面积纳米压印EVG专有的且经过大量证明的SmartNIL技术的蕞新进展，已使纳米图案能够在面板尺寸蕞大为Gen3（550mmx650mm）的基板上实现。对于不能减小尺寸的显...

IQAlignerUV-NIL自动化紫外线纳米压印光刻系统应用：用于晶圆级透镜成型和堆叠的高精度UV压印系统IQAlignerUV-NIL系统允许使用直径从150mm至300mm的压模和晶片进行微成型...

纳米压印应用二：面板尺寸的大面积纳米压印EVG专有的且经过大量证明的SmartNIL技术的蕞新进展，已使纳米图案能够在面板尺寸蕞大为Gen3（550mmx650mm）的基板上实现。对于不能减小尺寸的显...

轮廓仪能够描绘工件表面波度与粗糙度，并给出其数值的仪器，采用精密气浮导轨为直线基准。轮廓测试仪是对物体的轮廓、二维尺寸、二维位移进行测试与检验的仪器，作为精密测量仪器在汽车制造和铁路行业的应用十分广范...

厚度测量产品：我们的膜厚测量产品可适用于各种应用。我们大部分的产品皆備有库存以便快速交货。请浏览本公司网页产品资讯或联系我们的应用工程师针对您的厚度测量需求提供立即协助。单点厚度测量：一键搞定的薄膜厚...

F10-HC轻而易举而且经济有效地分析单层和多层硬涂层F10-HC以FilmetricsF20平台为基础，根据光谱反射数据分析快速提供薄膜测量结果。F10-HC先进的模拟算法是为测量聚碳酸酯和其它单层...

其中包括家用电器、医药、电子、光学、生命科学、汽车和航空业。肖特在全球34个国家和地区设有生产基地和销售办事处。公司目前拥有员工超过15500名，2017/2018财年的销售额为。总部位于德国美因茨的...

世界lingxian的衍射波导设计商和制造商WaveOptics宣布与EVGroup（EVG）进行合作，EVGroup是晶圆键合和纳米压印光刻设备的lingxian供应商，以带来高性能增强现实（AR）...

自动厚度测量系统几乎任何形状的样品厚度和折射率的自动测绘。人工加载或机器人加载均可。在线厚度测量系统监测控制生产过程中移动薄膜厚度。高达100Hz的采样率可以在多个测量位置得到。附件Filmetric...