DDR测试 大部分的DRAM都是在一个同步时钟的控制下进行数据读写,即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根据时钟采...
Max_FRL_Rate值具体含义如下,数字1支持3lanes模式下的3Gbps速率,其他速率和lane配置不支持;数字3支持3lanes模式下的3Gbps和6Gbps速率;4lanes模式下支持6G...
6.信号及电源完整性这里的电源完整性指的是在比较大的信号切换情况下,其电源的容差性。当未符合此容差要求时,将会导致很多的问题,比如加大时钟抖动、数据抖动和串扰。这里,可以很好的理解与去偶相关的理论,现...
转换成频域的TDR/TDT响应:回波损耗/插入损耗。蓝线是参考直通的插入损耗。当然,如果有一个完美直通的话,每个频率分量将无衰减传播,接收的信号幅度与入射信号的幅度相同。插入损耗的幅度始终为1,用分贝...
DDR测试 制定DDR内存规范的标准按照JEDEC组织的定义,DDR4的比较高数据速率已经达到了3200MT/s以上,DDR5的比较高数据速率则达到了6400MT/s以上。在2016年之前,...
DDR5发送端测试随着信号速率的提升,SerDes技术开始在DDR5中采用,如会采用DFE均衡器改善接收误码率,另外DDR总线在发展过程中引入训练机制,不再是简单的要求信号间的建立保持时间,在DDR4...
每一代USB新的标准推出,都考虑到了对前一代的兼容能力,但是一些新的特性可能只能在新的技术下支持。比如USB3.2的X2模式、USB4.0的20Gbps速率、更强的供电能力及对多协议的支持等,都只能在...
电子产品测试的基本流程 电子产品测试的基本流程包括以下几个环节: 1测试计划制定:根据产品的特点和需求,制定测试计划,明确测试目标、测试范围、测试方法和测试时间等内容。2测试用例设计:...
USB4.0的发送端信号质量测试 在 发 送 端 测 试 中 , 需 要 用 U S B 4 . 0 的 测 试 夹 具 在 T P 2 点 ( 即 T y p e - C 的 输 出 接 ...
电子产品测试是指对电子产品进行功能、性能、可靠性、安全和兼容性等方面的测试。电子产品测试的目的是保证产品的质量和可靠性,满足用户的需求和期望。电子产品测试的基本流程包括测试计划制定、测试用例设计、测试...