Probe Card---乃是Tester与wafer上的DUT之间其中一个连接介面，目的在连接Tester Channel 与待测DUT。大部分为钨铜或铍铜，也有钯等其他材质；材质的选择需要强度高、导电性及不易氧化等特性，样子如下面所示。当 probe card 的探针正确接触wafer内一顆 die的每个bond pads后, 送出start信号通过Interface给tester开始测试, tester完成测试送回分类讯号 ( End of test) 给Prober, 量产時必須 tester 与 prober 做连接(docking) 才能测试。较终测试(FT,或者封装测试)：就是在图（3）中的Package Device上进行测试.下图就是一个完整的FT的测试系统。对比wafer test，其中硬件部分，prober换成了handler，其作用是一样的，handler的主要作用是机械手臂，抓取DUT，放在测试区域，由tester对其进行测试，然后handler再根据tester的测试结果，抓取DUT放到相应的区域，比如好品区，比如坏品1类区，坏品2类区等。设计和制造的冗余度越高，越能提供成品的良率。深圳芯片测试机平台
芯片测试是指对集成电路芯片的功能、性能、可靠性等进行测试和验证的一系列工作。检测过程中，会检查芯片的各个部分是否达到设计要求，并评估其在不同使用环境下的工作表现。芯片测试的原理，芯片测试的基本原理是通过特制的测试仪器，将预定信号注入被测试的芯片引脚上，然后检测芯片输出端口所产生的响应情况，以此来判断芯片能否正常工作，达到预期效果。芯片测试的数据分析主要依赖于数字信号处理、模拟信道仿真、统计推断等技术手段。江苏LED芯片测试机设备在芯片制造完成后进行测试，对测试数据进行分析，从而分析失效模式，验证研发。
晶圆、单颗die和封装的芯片。Wafer就是晶圆，这个由Fab进行生产，上面规则地放着芯片（die），根据die的具体面积，一张晶圆上可以放数百数千甚至数万颗芯片（die）。Package Device就是封装好的芯片，根据较终应用的需求，有很多种形式，这个部分由芯片产业价值链中的封装工厂进行完成。Prober--- 与Tester分离的一种机械设备，主要的作用是承载wafer，并且让wafer内的一颗die的每个bond pads都能连接到probe card的探针上，并且在测试后，移开之前的接触，同时移动wafer，换另外的die再一次连接到probe card的探针上，并记录每颗die的测试结果。
芯片测试的目的及原理介绍，测试在芯片产业价值链上的位置，如下面这个图表，一颗芯片较终做到终端产品上，一般需要经过芯片设计、晶圆制造、晶圆测试、封装、成品测试、板级封装等这些环节。在整个价值链中，芯片公司需要主导的环节主要是芯片设计和测试，其余的环节都可以由相应的partner来主导或者完成。所以，测试本身就是设计，这个是需要在较初就设计好了的，对于设计公司来说，测试至关重要，不亚于电路设计本身。RF Test: 测试芯片里面RF模块的功能及性能参数。芯片设计是行业的顶端，包含电路设计、版图设计和光罩制作，主要环节是电路设计，涉及多元知识结构。
芯片测试机是一种专门用来检测芯片的工具。它可以在生产中测试集成电路芯片的功能和性能，来确保芯片质量符合设计要求。芯片测试机的主要作用是对芯片的电学参数和逻辑特性进行测量，然后按照预定规则进行对比，从而对测试结果进行评估。芯片测试机常见的用途是测试运行纹理阵列器（FPGA）和应用特定集成电路（ASIC）。FPGA作为可编程芯片，通常是初步设计，测试和验证过程中关键的部分。ASIC则是根据设定的电路、电子设备和/或存储器进行硬件配置的特定集成电路。Mixed Signal Test: 验证DUT数模混合电路的功能及性能参数。江苏CPU芯片测试机价位
设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。深圳芯片测试机平台
设备软件：1.中英文软件界面，三级操作权限，各级操作权限可自由设定力值单位Kg、g、N，可根据测试需要进行选择。2.软件可实时输出测试结果的直方图、力值曲线，测试数据实时保存与导出功能，测试数据并可实时连接MES系统软件可设置标准值并直接输出测试结果并自动对测试结果进行判定。3.SPC数据导出自带当前导出数据值、较小值、平均值及CPK计算。传感器精度：传感器精度±0.003％；综合测试精度±0.25％测试传感器量程自动切换。测试精度：多点位线性精度校正，并用标准法码进行重复性测试，保证传感器测试数据准确性。软件参数设置：根据各级权限可对合格力值、剪切高度、测试速度等参数进行调节。测试平台：真空360度自由旋转测试平台，适应于各种材料测试需求，只需要更换相应的治具或压板，即可轻松实现多种材料的测试需求。深圳芯片测试机平台