在集成电路制造这一高精密的领域中，芯片生产线上的光刻工序堪称关键的环节，其对温湿度的要求近乎达到苛刻的程度。即便是极其微小的 1℃温度波动，都可能引发严重后果。光刻机内部的光学镜片会因热胀冷缩，致使光路发生细微偏移。这看似毫厘之差，却足以让光刻图案精度严重受损，使得芯片上的电路布线出现偏差，甚至短路等问题，进而大幅拉低芯片的良品率。而在湿度方面，一旦湿度突破 50% 的警戒线，光刻胶便极易受潮，其感光度发生改变，导致曝光效果大打折扣，无疑同样对芯片质量产生不可忽视的负面影响。该系统可实现洁净度百级、十级、一级，温度波动值±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.005℃、±0.002℃。材料恒温恒湿控制房
激光干涉仪用于测量微小位移，精度可达纳米级别。温度波动哪怕只有 1℃，由于仪器主体与测量目标所处环境温度不一致，二者热胀冷缩程度不同，会造成测量基线的微妙变化，导致测量位移结果出现偏差，在高精度机械加工零件的尺寸检测中，这种偏差可能使零件被误判为不合格品，增加生产成本。高湿度环境下，水汽会干扰激光的传播路径，使激光发生散射，降低干涉条纹的对比度，影响测量人员对条纹移动的精确判断，进而无法准确获取位移数据，给精密制造、航空航天等领域的科研与生产带来极大困扰。芯片恒温恒湿品牌提供专业的售后团队，定期回访设备使用情况，及时解决潜在问题。
在计量校准实验室中，高精度的电子天平用于精确称量微小质量差异，对环境温湿度要求极高。若温度突然升高 2℃，天平内部的金属部件受热膨胀，传感器的灵敏度随之改变，原本能测量到微克级别的质量变化，此时却出现读数偏差，导致测量结果失准。湿度方面，当湿度上升至 70% 以上，空气中的水汽容易吸附在天平的称量盘及内部精密机械结构上，增加了额外的重量，使得测量数据偏大，无法反映被测量物体的真实质量，进而影响科研实验数据的可靠性以及工业生产中原材料配比度。
激光干涉仪以其纳米级别的测量精度，在半导体制造、精密机械加工等领域发挥着关键作用。然而，它对环境变化极为敏感，温度、湿度的微小波动以及空气洁净度的差异，都可能干扰激光的传播路径与干涉效果，致使测量结果出现偏差。精密环控柜的超高精度温度控制，能将温度波动控制在极小区间，如关键区域 ±2mK（静态），同时确保湿度稳定性可达 ±0.5%@8h，并且实现百级以上洁净度控制，为激光干涉仪提供稳定、洁净的测量环境，保障其测量精度不受外界因素干扰。光谱分析仪用于分析物质的光谱特性，广泛应用于半导体材料检测、化学分析等领域。在工作时，外界环境的不稳定可能导致仪器内部光学元件的性能变化，影响光谱的采集与分析精度。精密环控柜通过调控温湿度，避免因温度变化使光学元件热胀冷缩产生变形，以及因湿度异常造成的镜片霉变、光路散射等问题。其稳定的环境控制能力，保证光谱分析仪能够准确、可靠地分析物质光谱，为科研与生产提供数据支持。高精密温湿度控制设备内部湿度稳定性可达±0.5%@8h。
超精密激光外径测量仪，在精密制造领域里，是线缆、管材等产品外径测量环节中不可或缺的存在。其测量精度直接关乎产品质量。然而，环境因素对它的干扰不容小觑。一旦温度产生波动，仪器的光学系统便会因热胀冷缩发生热变形，致使原本激光聚焦出现偏差，光斑尺寸也随之改变，如此一来，根本无法精确测量产品外径。像在高精度线缆生产中，哪怕只是极其微小的温度变化，都可能致使产品外径公差超出标准范围。而在高湿度环境下，水汽对激光的散射作用大幅增强，返回的激光信号强度减弱，噪声却不断增大，测量系统难以准确识别产品边界，造成测量数据的重复性和准确性都严重变差 。自面世以来，已为相关领域客户提供了稳定的实验室环境以及监测服务，获得了颇多好评。材料恒温恒湿控制房
精密环境控制设备依托自主研发的高精密控温技术，实现了 0.1% 的超高输出精度。材料恒温恒湿控制房
光学仪器的生产对环境的洁净度、温湿度有着极其严格的要求，精密环控柜成为保障光学仪器高质量生产设备。在镜头研磨和镀膜工艺中，微小的尘埃颗粒都可能在镜头表面留下划痕或瑕疵，影响光线的透过和成像质量。精密环控柜配备的高效洁净过滤器，能够将空气中的尘埃颗粒过滤至近乎零的水平，为镜头加工提供超洁净的环境。同时，温度的精确控制对于保证研磨盘和镜头材料的热膨胀系数稳定一致至关重要。温度波动可能导致研磨盘与镜头之间的相对尺寸发生变化，使研磨精度受到影响，导致镜头的曲率精度和光学性能不达标。材料恒温恒湿控制房