极测（南京）技术有限公司采用相对湿度由外环境保证，大环境控制空气中的绝dui含湿量保持稳定，以实现环境仓内部湿度稳定性。其超精密环控舱内部构造先进，包括分区送风静压腔、分区回风流道、毫 K 级测温采集模组 + 1/10Bpt100 矩阵式分布、中低频吸 / 阻静音设计方案等。自研高精密温控技术，冷冻水的出水温度蕞高精度可达 ±0.002℃。
在温度控制方面，采用大风量小温差的设计思想，通过快速循环空气过滤并带走热量，使温度波动处于极低数值，关键区域可达 ±0.002℃。同时采用多级控温，将温度精度逐步提升。针对光路部分设计密闭防护罩，表面开孔可有效降低发热区域温度，控制风速。对于局部发热区域，采用局部气浴进行温度控制，确保该区域温度在一定范围内，且 30s 内的温度变化率不超过 0.03℃。
精密环控系统安装后，精度显著提高。温度稳定性从 ±2℃提升至 ±0.004℃，湿度稳定性从 ±10% RH 提升至 ±0.8% RH，洁净度从 100 级提升至 10 级，噪音值从 70dB 降低至 55dB，测量误差从 400 降低至 4。
专为高精度恒温恒湿控制设计的PID算法，使实验室内温度湿度处于稳定状态。芯片精密温控设计
极测（南京）关键技术市如何适配半导体严苛需求的？毫 K 级控温的技术密码专li级 PID + 逐级控温：通过 “超高精度工艺冷却水系统及其恒温控制方法” 专li，结合自主研发温度采集模块与多级制冷回路设计，实现对蚀刻机腔体温度的±0.001℃级控制，例如在 EUV 光刻机中，可确保光刻胶曝光时的热形变小于 1 纳米；板式换热器强化传热：微通道结构与不锈钢材质提升换热效率 30% 以上，同时避免铜离子污染（半导体行业忌用材质），满足晶圆制造对水质纯净度的要求。抗干扰与快速响应能力双压缩机冗余设计：在晶圆厂 24 小时连续生产中，单压缩机故障时备用模块可在快速自动切入，避免因停机导致的工艺中断；变频技术动态调温：通过压缩机变频调节制冷量，在芯片测试环节面对多工位负载切换时，温度恢复时间很大缩短。福建精密温控舱机器设备运行、人员走动等因素也会产生微小振动，在半导体厂房的设计和施工过程中，需要充分考虑这些因素。
高精密环控柜由我司自主研发，是一款精密环境控制产品，可实现ISOClass1-6级洁净度，以及±0.1℃、±0.05℃、±0.01℃、±0.002℃等不同精度的温度波动控制。拥有全场景非标定制能力，能针对用户的个性化需求（如温湿度稳定性、洁净度、抗微振、防磁、隔音等）提供解决方案。设备运行数据实时记录查询，且配备自动安全保护系统，确保长时间运行无忧。其构成部分包括设备主柜体、控制系统、气流循环系统、洁净过滤器、制冷（热）系统、照明系统、局部气浴等，主要为光刻机、激光干涉仪等精密测量与制造设备，提供超高精度的温湿度及洁净度工作环境。湿度控制采用 “外环境保证相对湿度、大环境稳定绝dui含湿量” 的方式，通过精确控温实现环境仓内部湿度稳定。为达成温湿度及洁净度要求，采用大风量小温差设计，通过空气快速循环过滤带走余热，使温度波动保持在极低数值（关键区域 ±0.002℃）；并通过多级控温（先经表冷盘降温，再由多级电加热逐步升温），将温度精度从 ±0.1℃升级至 ±0.002℃。
在高duan制造业的关键地带，纳米级芯片、微米级航空叶片、亚波长光学元件的精密制造，对生产环境提出了前所未有的严苛要求。其中，精密温控扮演着决定性角色——一丝微小的温度波动，都可能成为制约良率与性能的关键瓶颈。作为环境控制领域的关键要素，精密温控设备已从幕后走向前台，成为前列制造不可或缺的“精密制造基座”。南京拓展科技旗下企业极测（南京）技术有限公司，凭借二十六载在实验室环境控制领域的技术积淀，推出颠覆行业的精密环控柜系列产品。其高达±0.002℃ 的温控精度与ISO Class 3级洁净度（每立方米≥0.1μm颗粒数≤1，000个），为半导体制造、航空航天、生物医药等战略新兴产业筑起了坚实的“科技堡垒”。极测（南京）凭借其自主研发的精密环控系统，为键合设备提供了超稳定的运行环境，成为突破工艺的关键支撑。
三坐标测量仪通过探针接触或非接触式光学扫描等方式，对工件的尺寸、形状和位置进行精确测量。在测量过程中，环境温度的细微变化会引发测量仪自身结构以及被测工件的热胀冷缩。例如，当温度波动 1℃时，对于长度为 1 米的金属工件，其长度变化可达 10 微米左右，这在高精度测量中是不容忽视的误差来源。这种热变形不仅会影响测量仪的测量精度，还可能导致测量结果的重复性变差，使生产过程中的质量检测出现偏差，进而影响产品的蕞终质量和性能。智能闭环监控：内置自动安全保护系统，异常情况即时响应，故障自动处理机制确保设备 7x24 小时无忧运行。重庆微环境精密温控
稳定电子元件内部结构，应用于超声波清洗、真空镀膜等场景，防止清洗剂挥发并保障镀膜质量。芯片精密温控设计
极测的精密温控箱罩专为满足三坐标测量仪等精密设备的严苛环境需求而设计。其具备的 ±0.002℃高精密温度控制能力，犹如为三坐标测量仪构建了一个恒温 “堡垒”。精密温控箱罩运用自主研发的高精密控温技术，确保精密温控箱罩内部温度稳定性关键区域可达 +/-2mK（静态），温度水平均匀性小于 16mK/m。保证测量仪在长时间运行过程中始终保持稳定的测量精度，实现0.1% 的控制输出精度。除了温度控制，精密温控箱罩在湿度和洁净度方面同样表现。精密温控箱罩内部湿度稳定性可达 ±0.5%@8h，避免了因湿度问题导致的测量仪零部件生锈、电子元件短路等故障，延长了设备使用寿命。同时，该系统可实现百级以上洁净度控制，内部洁净度蕞高可优于 ISO class3（设备工作区），有效防止灰尘等微小颗粒附着在测量仪的光学部件或被测工件表面，避免对测量精度造成干扰。芯片精密温控设计