中山射频测试

射频测试项目其中包括：1.发射功率测试（传导法、辐射法）；2.发射瞬态功率测试；3.发射邻道与次邻道功率测试；4.发射宽带测试；5.发射频谱特性；6.发射频率误差相位误差；7.发射杂散测试（传导法、辐射法）；8.接收比较大可用灵敏度；9.接受邻近通道选择；10.接收信号阻塞；11.接收同信道抑制；12.接收杂散响应抑制；13.接收互调响应抑制；14.SAR测试。RF测试办理要求：1、低电压的条件下工作频率误差不超过±10ppm,且发射功率在杂散限制范围内；2、停止发射电压需低于制造商宣告的工作电压。射频中的屏蔽箱是利用导磁材料制成的各种形状的屏蔽体，限制电磁能力，用于抑制辐射干扰的金属体。中山射频测试

射频测试也面临着很多挑战。在现在的无线设备中越来越多样的移动通信标准得到采用，或者制造商可能会采用不同的标准生产各种设备。因此，测试仪器需要适用多种主流的移动通信标准（如GSM、GPRS、EDGE、WCDMA、CDMAOne 和CDMA2000等）。测试仪器必须有能力对每个标准做出精确的测量，比如需要保证较小的误差向量幅度即EVM（EVM在EDGE系统中相当重要）。而因为新的移动通信标准被制造商采用，测试仪器也面临更新的问题。理想来说，制造商希望能用简单和成本比较低的方式（比如改变软件）来更新测试仪器，以应对新的移动通信和调制标准。江西手机射频测试测试仪表是射频测试领域技术含量比较高的设备。

人们早采用射频测试探针技术与现在的工具是很不相同的，早期探针使用了由一个很短的线极尖(wire tip)而逐渐收敛的50-Ω微带线，通过探针基片上一个小孔而与被测器件(DUT)的压点（pad）相接触。此时，其技术难度在于如何突破4GHz时实现可重复测量。虽然有可能通过校准过程来剔除一个接触线极尖相对较大的串联电感的影响，但当圆晶片的夹具被移动时，线极尖的辐射阻抗会有较大的变化。高频测量使用的极尖设计与用于直流和低频测量的极尖不同，而且必须使50-Ω环境尽可能地接近于DUT压点。

早起在射频探针出现之前，由于没有一种能够在无需安装或贴合状态下对单片微波集成电路(MMIC)装置进行测试的简便方法，因此测试过程常常使得电路完整性遭到破坏，引发各种问题。早期的射频探针使用的是共面陶瓷材料，而陶瓷不能太弯曲，因而压触的弹性范围并不大，同时支持的射频频率也较低，首先出现的探针只覆盖到18GHz。在差不多三十年的时间里，射频探针技术便取得了长足的进步，从低频测量到适用多种应用场合的商用方案：如在110GHz高频和高温环境进行阻抗匹配，多端口，差分和混合信号的测量装置，连续波模式中直到60W的高功率测量，以及直到1.1THz的太赫兹应用，都能见到射频探针的身影。在手机终端中，重要的关键就是射频芯片和基带芯片。

一个传统的射频测试探针包括了以下几个部分：测试仪器接口（同轴或是波导）从测试接口到微同轴电缆的转接微同轴电缆到平面波导（CPW/MS等）转接共面接口到DUT部分即针尖。其他一些相关的概念Probepitch：指的是针尖(ProbeTips)之间的间距，一般在50-1000um之间不等。对于毫米波频率的应用，针尖间距一般都比较小。Probeskate:当你在Z轴方向往下“按压”探针时，当探针接触到DUT，它将在ZY平面弯曲移动。通常，这也是我们判断针是否扎上的一个现象。De-embeding:去嵌是在探针出现之前就有的技术，之前经常用在一些标准的分立的夹具测试中。对特定某一台仪器，射频夹具的插损和测试仪器的不确定度称为路径的系统损耗，可以通过校准来消除。苏州手机射频测试公司

无线产品测试的领域有电磁兼容EMC测试、RF射频测试等等，其中RF射频测试是其中一个重要的测试领域。中山射频测试

射频测试中都会有哪些术语呢？1.信噪比（SNR）信号电平与噪声电平的比值，其中的噪声是指宽带随机噪声，不包含失真。2.信纳比（SINAD）信号电平与噪声+失真电平的比值3.谐波（Harmonics）/总谐波失真（THD）在有用信号（基波）频率整数倍的频点出现的信号电平是谐波电平，除了基波以外各次的总的功率电平，与基波电平之比，是总谐波失真。4.驻波比（SWR）在入射波和反射波相位相同的地方，电压振幅相加为最大电压振幅Vmax，形成波腹；在入射波和反射波相反的地方电压振幅相减为小电压振幅Vmin，形成波谷。驻波比是驻波波腹处的电压幅值Vmax与波谷处的电压幅值Vmin之比。驻波比体现了电磁波传输节点的输出和输入部分的阻抗匹配情况，SWR=1表示匹配，节点没有信号反射；SWR>1,驻波越大，说明匹配越差，反射越大。5.差分（Differential）平衡（Balance）差分是一种信号传输方式，信号分成两个等幅相差180°的反相信号（一正一负）；差分传输线要求等长等宽完全对称；这样的信号传输时平衡的。中山射频测试

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