表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。智能电阻具有更加丰富的功能和应用场景。海南国内电阻测试系统
5.1.硬件连接与操作步骤1)事先准备好要求测试的PCB样品,接好测试线,插入相对应的航空座。2)把纳伏表和可编程电源安装好,连接仪器与计算机通信线。3)接好机柜电源,并检查仪器是否有错误提示,如有提示需先按照仪器说明把错误提示排除。4)根据软件操作设置开始测试流程。注意:※在测试的过程禁止触摸被测物品。※禁止带电拔插测试线的航空头。※如需设备检修必须把电断开。本系统只提供自有版权的导通电阻实时监控测试操作软件,Windows操作系统、MS-office软件及相关数据库由客户自行购买*该系统可根据客户的不同需求,定制特殊要求以实现更多功能江西pcb绝缘电阻测试以客为尊锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质。
从监控的方式看(除阻值监控外):ECM/SIR可以通过放大镜进行直观的判断;而CAF只能通过破坏性的切片进行微观条件下的分析;ECM/SIR与CAF的重要性由于介电层变薄、线路及孔距变密是高密度电子产品的特性,而大多数的高阶电子产品也需要较高的信赖度,故越来越多的产品被要求进行ECM/SIR/CAF测试,如航空产品、汽车产品、医疗产品、服务器等,以确保产品在相对恶劣的使用条件下的寿命与可靠性;离子迁移既然是绝缘信赖度的***,因此高密度电子产品都十分在乎及重视材料的吸水性及水中不纯物的控管,因为这些正是离子迁移的重要元凶。例如:加水分解性氯、电镀液中的盐类、铜皮表面处理物、防焊漆的添加物……等等。一旦疏忽了这些控管,导致ECM或CAF的生成,便会造成产品在使用寿命及电性功能上的障碍;藉着控制卤素及金属盐类的含量、铜皮上的铬含量、树脂中的氯含量、表面清洁度(防焊前处理),这些对绝缘劣化影响很大的项目,可以大幅提升高密度电路板的信赖性。
从监控的方式看:都是通过监控其绝缘阻值变化作为**重要的判断指标;故很多汽车行业或实验室已习惯上把ECM/SIR从广义上定义为CAF的一种(线与线之间的表面CAF)。ECM/SIR与CAF的联系与差异差异点:从产生的原因看:ECM/SIR是在PCB的表面产生金属离子的迁移;而CAF是发生在PCB的内部出现铜离子沿着玻纤发生缓慢迁移,进而出现漏电;从产生的现象看:ECM/SIR会在导体间出现枝丫状(Dendrite)物质;而CAF则是出现在孔~孔、线~线、层~层、孔~线间,出现阳极金属丝;四线法的基本原理在于通过将电流引入被测件的两个端点,并通过另外两根单独的引线在被测件的两端测量电压。
PCB离子迁移绝缘电阻测试是一项重要的测试方法,用于评估PCB板的绝缘性能。在电子产品制造过程中,PCB板的绝缘性能是至关重要的,它直接影响着产品的可靠性和安全性。因此,进行PCB离子迁移绝缘电阻测试是必不可少的。PCB离子迁移是指在电场作用下,PCB板表面的离子会迁移到其他位置,导致电路短路或绝缘性能下降。这种现象主要是由于PCB板表面的污染物引起的,例如油污、灰尘、水分等。当这些污染物存在时,它们会在电场的作用下形成离子,进而迁移到其他位置,导致电路短路或绝缘性能下降。选择智能电阻时,用户需要考虑精度和稳定性。海南电阻测试推荐货源
绝缘体表面或内部有形成电解质物质的潜在因素。包括绝缘体本身的种类,构成,添加物,纤维性能,树脂性能。海南国内电阻测试系统
在进行电阻测试时,需要注意一些关键的因素,以确保测试结果的准确性。首先,测试仪器的选择非常重要,应选择具有高精度和稳定性的测试仪器。其次,测试环境的控制也很重要,应尽量避免干扰和噪声的影响。,测试方法的选择也需要根据具体的测试需求进行,以确保测试结果的可靠性和准确性,电阻测试是电子工程中不可或缺的一部分。不同的电阻测试方法适用于不同的测试需求,可以帮助工程师评估电路性能和改进产品设计。在进行电阻测试时,需要注意测试仪器的选择、测试环境的控制和测试方法的选择,以确保测试结果的准确性和可靠性。希望本文对读者了解电阻测试种类和应用有所帮助。海南国内电阻测试系统