湖南pcb绝缘电阻测试系统解决方案

NO.3PCB制程钻孔钻孔参数不当或钻针研磨次数太多会导致孔壁表面凹凸起伏大。在化学湿加工过程中，表面凹陷之处易聚集或包覆金属盐类溶液，易渗入到薄弱结合部的细微裂缝中，从而导致出现CAF的可靠性问题。因此需选择较合适的钻孔参数和较新的钻针，以确保钻孔的质量。除胶渣除胶渣若参数选择不当，除胶不净会影响电镀的质量，增加CAF失效的机会。因此根据不同类型材料需选择合适的除胶参数。压合需要选择合适的压合程序，尤其是多层板要注意层压参数的匹配性，确保压合的质量。表面绝缘电阻（SIR）测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压，经过长时间的试验。湖南pcb绝缘电阻测试系统解决方案

电子元器件筛选的目的：剔除早期失效产品。提高产品批次使用的可靠性。元器件筛选的特点：筛选试验为非破坏性试验。不改变元器件固有失效机理和固有可靠性。对批次产品进行*筛选。筛选等级由元器件预期工作条件和使用寿命决定。电子元器件筛选常规测试项目：检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、 X射线非破坏性检查。密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示 踪检漏、湿度试验、颗粒碰撞噪声检测。环境应⼒筛选：高低温贮存、高温反偏、振动、冲击、离⼼加速度、温度冲击、综合应⼒、动态老炼。 电子元器件筛选覆盖范围：半导体集成电路：时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片（稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等）、致模转换器（A/D、D/A、SRD）、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等;广西电阻测试以客为尊选择智能电阻时，用户需要考虑测量范围和分辨率。

智能电阻通过相应的软件或应用程序，用户可以轻松地进行电阻测试，并且可以实时查看和分析测试结果。这种便捷的操作方式提高了工作效率，减少了测试过程中的人为误差。此外，智能电阻还具有更加丰富的功能和应用场景。除了基本的电阻测试功能外，智能电阻还可以提供其他附加功能，比如温度测量、电流测量等。这些功能的集成使得智能电阻可以在更的领域中应用，比如自动化控制系统、电力系统和通信系统等。智能电阻的应用范围更加，可以满足不同行业和领域的需求。

离子迁移（ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从材料方面：树脂与玻纤纱束之间结合力不足；解决方案：优化CCL制作参数；选择抗分层的材料;填充空洞或树脂奶油层不足；解决方案：优化CCL制作参数；选择抗分层的材料;树脂吸温性差；解决方案：胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水；树脂与玻纤清洁度差（含离子成份）；解决方案：使用Anti-CAF的材料；铜箔铜芽较长，易造成离子迁移；解决方案：选用Lowprofilecopperfoil；多大传统的电阻器件在测量电阻时可能存在一定的误差。

PCBA测试是PCBA制程中控制产品品质的一个重要环节，是为了检测PCBA板是否有足够的可靠性来完成以后的工作，这会直接关系到以后的用户体验和返修率，所以PCBA可靠性测试显得尤为重要。一般的PCBA可靠性测试分为ICT测试、FCT测试、疲劳测试、模拟环境测试、老化测试。1、ICT测试：ICT测试主要是元器件焊接情况、电路的通断、电压和电流数值及波动曲线、振幅、噪音的测试。2、FCT测试：FCT测试需要进行IC程序烧制，然后将PCBA板连接负载，模拟用户输入输出，对PCBA板进行功能检测，发现硬件和软件中存在的问题,实现软硬件联调，确保前端制造和焊接正常。3、疲劳测试：老化测试主要是对PCBA板进行抽样，模拟用户使用进行功能的高频、长时间操作，观察是否出现失效，判断测试出现故障的概率，以此反馈电子产品内PCBA板的工作性能。4、模拟环境测试：模拟环境测试主要是将PCBA板暴露在极限值的温度、湿度、跌落、溅水、振动下，获得随机样本的测试结果，从而推断整个PCBA板批次产品的可靠性。5、老化测试：老化测试是对PCBA板进行长时间的通电测试，模拟用户使用，保持其工作并观察是否出现任何失效故障，经过老化测试后的电子产品才能批量出厂销售。系统标配≥256通道，可分为16组测试单元，同时测试16种不同样品。海南sir电阻测试发展

系统可通过曲线、表格的形式对测试数据进行实时监控，测试数据自动存储和管理。湖南pcb绝缘电阻测试系统解决方案

电阻值的测定时间可设定范围是：CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置，单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置，完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104-1x1014Ω，电阻测量精度：1x104-1x1010Ω≤±2%，1x1010-1x1011Ω≤±5%1x1011-1x1014Ω≤±20%，广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定：使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置，需设置测量电压，因为仪器恒压工作测量漏电流，用欧姆定理计算电阻值。湖南pcb绝缘电阻测试系统解决方案