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江西pcb离子迁移绝缘电阻测试供应商

来源: 发布时间:2024年05月20日

01电化学迁移测试技术特点1、专业的设备:采用行业占有率比较高的主流进口设备,采样速度更快,漏电捕捉精细,电阻测量精度高。2、专业的工程技术能力支持:除能为客户提供专业的试验评估外,还具备针对测试失效品的专业级失效分析能力,可实现一站式打包服务。3、可灵活地同温湿度环境试验箱,HAST箱,PCT等设备配合测试。某些国际**汽车电子大厂要求其不同供应商,使用不同工艺,不同材质的PCB光板,每一种类型全部需要通过电化学迁移测试才能获得入门资格。电阻测试设备的售后服务对于用户来说非常重要。江西pcb离子迁移绝缘电阻测试供应商

电阻测试

CAF产生的原因:1、原料问题1)树脂身纯度不良,如杂质太多而招致附著力不佳;2)玻纤束之表面有问题,如耦合性不佳,亲胶性不良;3)树脂之硬化剂不良,容易吸水;4)胶片含浸中行进速度太快;常使得玻纤束中应有的胶量尚未全数充实填饱造成气泡残存。CAF形成过程:1、常规FR4P片是由玻璃丝编辑成玻璃布,然后涂环氧树脂半固化后制成;2、树脂与玻纤之间的附著力不足,或含浸时亲胶性不良,两者之间容易出现间隙;3、钻孔等机械加工过程中,由于切向拉力及纵向冲击力的作用对树脂的粘合力进一步破坏;4、距离较近的两孔若电势不同,则正极部分铜离子在电压驱动下逐渐向负极迁移。广西制造电阻测试系统提供质量的售后服务对于电阻测试设备的供应商来说至关重要。

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离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从设计方面:越小的距离(孔~孔、线~线、层~层、孔~线间)越易造成离子迁移现象;解决方案:结合制程能力与材料能力,优化设计方案;(当然重点还是必须符合客户要求)玻纤纱束与孔排列的方向;纱束与孔的方向一致时,会造成离子迁移的可能性比较大;解决方案:尽可能避免或减少纱束与孔排列一致的可能性,但此项受客户产品设计的制约;产品的防湿保护设计;解决方案:选择比较好的防湿设计,如涉及海运,建议采用PE袋或铝箔袋包装方式;

在高温高湿状态下施加电压,电极在电场和绝缘间隙存在水分的共同作用下,离子化金属向相反的电极间移动(阴极向阳极转移),相对的电极还原成本来的金属并析出树枝状金属的现象(类似锡须,容易造成短路),这种现象称为离子迁移。当存在这种现象时,表面绝缘电阻(SIR)测试可以通过电阻值显现出来。表面绝缘电阻(SIR)测试是通过在高温高湿的环境中持续给予PCB一定的偏压,经过长时间的试验,观察线路间是否有瞬间短路或出现绝缘失效的缓慢漏电情形发生。表面绝缘电阻(SIR)测试可以用来评估金属导体之间短路或者电流泄露造成的问题,也有助于看出锡膏中的助焊剂或其他化学物品在PCB板面上是否残留任何会影响电子零件电气特性的物质,通过表面绝缘电阻(SIR)测试数据可以直接反映PCB的清洁度。当PCB受到离子性物质的污染、或含有离子的物质时,一个的电阻测试设备供应商应该提供详细的产品说明和操作手册。

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铜镜实验IPC-TM-650方法_2.3.32用来测试未加热的助焊剂如何与铜反应,也叫做助焊剂诱发腐蚀测试。本质上讲,就是滴一滴定量的助焊剂到涂敷了一层铜膜的玻璃片上,然后在特定环境中放置一段时间。这个环境接近室温环境,相对湿度是50%。24小时后清理掉助焊剂,并在白色背景下观察铜膜被腐蚀掉多少。腐蚀穿透铜膜的程度决定了助焊剂的活性等级,通常用L、M和H表示。铜板腐蚀实验IPC-TM-650方法2.6.15是用来测试极端条件下,助焊剂残留物对铜的腐蚀性。助焊剂和焊料在铜板上加热直到形成焊接。然后把铜板放置在一个温度为40°C的潮湿环境,这样可以加速助焊剂残留物和铜可能发生的反应。铜板需要在测试前和测试后仔细检查其表面颜色的变化来确定是否有腐蚀的迹象。观察结果通常可以用L、M和H来表示腐蚀性的等级。测试配置灵活:每块模块可设置不同的测试电压,可同时完成多工况测试。浙江离子迁移绝缘电阻测试发展

CAF测试——电路板离子迁移测试的有效方法!江西pcb离子迁移绝缘电阻测试供应商

一般而言,SIR测试通常用于对助焊剂和/或清洁工艺进行分类、鉴定或比较。对于后者,SIR测试通常用于评估一个人的“免清洗”焊接操作。执行,例如85°C/85%RH和40°C/90%,并定期获得绝缘电阻(IR)测量值。表面绝缘电阻测试(SIR测试)根据IPC的定义,表面绝缘电阻(SIR)是在特定环境和电气条件下确定的一对触点、导体或接地设备之间的绝缘材料的电阻。在印刷电路板(PCB)和印刷电路组件(PCA)领域,SIR测试——通常也称为温湿度偏差(THB)测试——用于评估产品或工艺的抗“通过电流泄漏或电气短路(即树枝状生长)导致故障”。SIR测试通常在升高的温度和湿度条件下在制定SIR测试策略时,选择用于测试的产品或过程将有助于确定**合适的SIR测试方法以及**适用的测试工具。江西pcb离子迁移绝缘电阻测试供应商