半导体炉红外测温仪吹扫器

德国欧普士optrisP20LT系列便携式红外测温仪的温度量程为0~1300℃，使其适合于工业用温度测量。由于其光学分辨率为120:1，可为距离12米的高达100毫米的物体提供高精度的测量结果。其配有USB接口和内部数据存储多达2000个测量值。附带的optrisConnect评估和报告软件另外具有每秒20次测量的示波器功能。此外，双激光护目镜和瞄准镜可以使测量对象在每一个距离内都能对准。德国欧普士optrisP20LT系列便携式红外测温仪专为在非金属表面上制作便携式测量任务提供帮助而设计。此款测温仪特别适用于*需要零星和准时执行的温度测量。作为一种高度工业测温仪，可测量高达1300℃的温度，例如在熔化槽耐火衬。该仪器可在所提及的点和许多其他地方进行温度控制。主要参数：温度量程：0~1300℃光谱范围：8~14µm响应时间：300ms笼统的说，红外测温仪的原理是：被动吸收目标的红外辐射能量，从而获得物体温度数值。半导体炉红外测温仪吹扫器

    数字式红外测温仪42系列用于工业应用。不锈钢坚固的外壳可以允许在恶劣的工况应用。响应时间10ms或100ms，这些适合于快速运动的过程测温；温度为线性，标准输出信号为4-20mA，允许快速集成到现有测温和控制系统中。发射率可以在红外测温仪上直接调整。应用场合：建筑材料、陶瓷、纸张、食品、包装等非金属表面、带涂层的金属以及低温金属表面；型号DT42L测温范围-20~300℃0~700℃光谱响应8~14μm测量误差1%测量值或1℃重复精度℃响应时间100ms发射率，温度线性，最大负荷：500Ω@24V瞄准激光瞄准（可选）功耗比较大（不带激光瞄准灯）操作温度0~70℃存储温度-20~70℃重量450g尺寸螺纹M40×，长度125mm安全等级IP65供货范围主机，操作手册，检测单，2个螺母。 半导体炉红外测温仪吹扫器首先要理解红外测温仪实际检测是一个区域温度的平均值,激光点只是起到一个瞄准的作用。

在发射率变化10%时，温度测量的误差百分比。比如在1000°C，使用8-14μm(参见**上面的一条黄色线)的红外测温仪或热像仪测温时，那么误差%=8%，所以：在1000°C时，误差测量的***误差=1000°Cx8%=80°C。同样的，我们也可以像第一张图一样算出1μm时的在1000°C的误差为12°C，在1500°C时的误差为近20°C。也就是说，上面2个图是完全一样的；上面2个图都说明，温度越高，红外测温设备误差越来越大；高温时，尤其是超过1000°C时，尽量使用短波测量高温--就是说，红外测温仪或红外热像仪使用的波长越短，其测量误差要比波长越长的要低得多。这就是为什么使用红外测温时，使用的波长越短越好！

对金属或钢铁来说，在同一个温度，测温的红外波长越大，发射率就越小，反之，测量的波长越小，发射率就越大。(注意，这个规律只是针对金属或钢铁来说的，不适合其它材料，其它材料有其它材料的发射率规律，比如玻璃则反之)。发射率表提供的往往是一个发射率范围，你无法准确确认发射率的值，也就是发射率设置经常会有误差，而且有时误差还特别大而且，**重要的一点就是：除了黑体以外，实际物体的发射率值往往在一个范围里，而不是一个固定的值，比如上图中的哈氏合金在1μm时，发射率值是0.5~0.9；同样，铁、钢材，也是如此，比如不锈钢在1μm时发射率为0.35，而在8-14μm时发射率是0.1~0.8。换言之，在这个范围里，提供的发射率表很多都是一个范围，而不是一个确定的值，在这个范围里，谁也弄不清到底具体发射率值是多少，所以你如何确切地设定发射率呢？又如何确保发射率没有误差呢？所以，发射率误差1%~10%是应用红外测温仪、红外热像仪中非常常见的、经常发生的。红外测温仪测量的是一个区域内的平均温度，测量值受发射率、镜头的污染以及背景辐射的影响。

在资料中也可以找到。也就是每个点的值是按公式计算出来的。说明：这张图是发射率变化1%时导致的红外测温设备的***误差。下面做一些简单计算：温度在1500°C时，发射率变化1%或10%：再比如在温度1500°C时，发射率变化1%，用8-14μm红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是12°C(参见图片中**上面的那条曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x12°C=120°C。用1μm红外测温仪或红外热像仪，测量温度的***误差是2°C(参见图片中红色曲线)。如果发射率变化10%呢？那么测温的***误差=10%发射率变化要乘以10x2°C=20°C。为了实时监控自己的健康状况，很多人都会购买红外测温仪来测量自己的体温。半导体炉红外测温仪吹扫器

他们用非接触性红外测温仪，为我们筑起一道防护墙。半导体炉红外测温仪吹扫器

红外测温仪由光学系统、光电探测器、信号放大器及信号处理、显示输出等部分组成。光学系统汇聚其视场内的目标红外辐射能量，视场的大小由测温仪的光学零件及其位置确定。红外能量聚焦在光电探测器上并转变为相应的电信号。该信号经过放大器和信号处理电路，并按照仪器内部的算法和目标发射率校正后转变为被测目标的温度值。在自然界中，一切温度高于***零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。物体的红外辐射能量的大小及其按波长的分布 —— 与它的表面温度有着十分密切的关系。因此，通过对物体自身辐射的红外能量的测量，便能准确地测定它的表面温度，这就是红外辐射测温所依据的客观基础半导体炉红外测温仪吹扫器