SPM-5000高精度快速光谱辐射计完全符合LM-79的要求。它被设计用于可见光光谱分布分析，通过对各个LED发出的辐射功率进行反馈控制，模仿可见区域中的各种光源。SPM-5000采用先进的具备平常校正的全息光栅，精密光学系统和电子快门技术测试速度可达到毫秒级别，测试精度达到实验室级别。SPM-5000可以进行快速、高精度的测试，用于科学实验室。它与积分球、标准灯、供电电源、参数表共同组成一个测试系统IMS-2020/IMS2021快速光色电综合测试系统。SPM-5000高精度快速光谱仪光谱波长覆盖范围380-800nm，特殊波长范围可以定制。丽水植物生长灯光谱仪
SPM-5000积分球系统中，积分球作为漫射光源或匀光器来使用，消除由于光源自身特性而造成的出射光束不均匀或者带有偏振方向。积分球入射光在积分球内部发生多次漫反射造成的。正常测量时，球体内部或球壁上需要安装标准灯、辅助灯、温度探头、光纤探头、被测光源等各种部件。为了进行准确测量，这几个部件之间的位置关系需要遵循以下一些基本原则：A）辅助灯、标准灯或被测光源发出的光线都不应该直接照射到光纤探头，否则测量结果会出现重大误差。为了避免这种情况，通常在光纤探头正前方需要设置挡板。但挡板的大小，需要保证光纤探头部位的光照度与其它部分的光照度相同。B）辅助灯、标准灯、被测光源发出的光线不应直接照射到温度探头。通常温度探头对于光线比较敏感，接收光线强度不同，其温度也会不同，这就会引入测量误差，从而使其测量值不能反映积分球球体内部的真实温度。通常，我们也可以在探头前部设置挡板，以达到避免光线直射的目的。C）辅助灯发出的光不应直接照射到标准灯或被测光源。辅助灯的作用是为了比较标准灯与被测光源外形、颜色差异而设计。D）标准灯、被测光源的安装位置较好相同，应尽量接近，以减小由于校准灯位置与测量位置不同而产生的测量误差。衢州光谱仪商品价格IMS-2021植物生长灯光电综合测试系统QB/T 2944-2008 植物生长用荧光灯。
SPM-5000系列光谱辐射计采用独特的杂散光控制技术、宽动态线性技术、精密CCD电子驱动技术和复变矩阵软件技术，并成功应用了带通色轮校正技术（BWCT）、分光积分结合技术（SBCT），以及修正的NIST杂散光校正技术等多项**技术，整个系统实现了前所未有的5.00E-05的极低杂散光水平（在A光源严格条件下）和0.3%的全动态光度线性性能，是一款**的快速光谱辐射计，完全满足美国IESNA LM-79和中国GB/T 24824等标准要求，可实现LED的瞬态光学特性测量（脉冲测量）及稳态光学特性测量（直流测量）。
SPM5000系列高精度快速光谱仪测试系统满足Ponmax的测量，在新Erp法规(EU)2019/2020 &新能效标签法规(EU)2019/2015之一(DF篇)中有提到Pon的概念。在对DF进行判断时，对不同光源功率Pon范围，Erp要求是不一样的。2021年9月1日起，Erp对光源功率Pon有了规定，规定它不能超过比较大允许功率：既Pon≤Ponmax；Erp也给出对Ponmax的计算：Ponmax=C*(L+Φuse/(F*η))*R。其中：C是校正因子，取决于光源类型(见下图2)，L是终端损耗因子(见下图3)，Φuse是宣称有效光通量，F是能效因子:【1.0(非定向灯)、0.85(定向灯)】η是光效阈值(见下图3)，R是CRI因子：【CRI≤25:0.65、CRI>25:(CRI+80)/160】。在SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体Ponmax参数。SPM-5000高精度快速光谱仪测试数据可以导出IES TM-33 2018(*.xml)格式。
ErP指令（EU）2019/2020以及能效标签指令（EU）2019/2015已经正式实施，相移因数DF是新增的一个要求。相移因数也是cosφ，是基波电流与基波电压的相位角的余弦值。SPM5000高精度快速光谱仪测试系统报告中体现具体DF和PonMAX。对于不同功率的光源，DF的要求是不一样的。小于等于5W的灯是没有要求的;5W到10W要求DF大于等于0.5;10W到25W要求DF大于0.7;25W以上的要求DF大于等于0.9。使用公司的PM310H。PM310H使用大液晶屏显示，可以在一屏上显示电压、电流、功率、功率因数PF、相移因数DF、电压电流总谐波，电压电流波峰比等参数，读数非常方便。翊明SPM光谱仪满足能源之星IESNA LM-79和国标GB/T24824的标准要求。绍兴专业生产光谱仪
SPM-5000高精度快速光谱仪客户可自行进行系统校准和验证，无需将系统返厂校准。丽水植物生长灯光谱仪
SPM-5000高精度快速光谱仪光谱范围380nm-800nm(可定制全光谱光谱仪)，通常光谱仪器的选择需要覆盖此光谱范围，然后再考虑分辨率、响应速度、信噪比及动态范围等参数。合适的光谱范围有利于软件的数据分析，同时也可以增加响应速度。在测量LED的过程中，由于LED芯片的量子特性，在一定的温度条件下，它的输出能量、色温、色坐标及光谱特性在不断变化，即LED的特性每一刻都在变化，CCD光谱仪通常可以实现毫秒级的测量。使用CCD光谱仪测量时，由于扫描速度快，因此在若干秒内可以实现多次测量，同时还可以显示出测量过程中光源特性的变化。丽水植物生长灯光谱仪
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