相位噪声的测试技术---传统的测试方法主要有直接频谱仪法、基于低通采样的鉴频法和鉴相法,另外一种就是基于带通采样的中频频谱分析法。
直接频谱仪法是一种容易、简单的相位噪声测量技术，它可以直接显示单边带相位噪声 Lp(f),精确地显示两边带上的离散信号。该方法适宜测量漂移 较小但相位噪声相对较高的信号源。其缺点是不能测量频谱纯净的源，这主要是受频谱仪的动态范围和分辨带宽的限制:不能分辨调幅噪声和相位噪声，故对调幅噪声严重的源不能直接测得相位噪声Lp(f).也不适于测量漂移严重的源的 Lp(f)。
鉴频法具有不需要参考频率源、低的宽频带噪声底部、抑制调幅、结构简单等特点。但是该方案在近载频处系统灵敏度低，宽带移相器制作困难，只适宜于测量近载频噪声电平较高，即频率随机漂移较大振荡器。 AnaPico APPH系列高性能相位噪声分析仪,其不同型号的频率范围覆盖了从1MHz到65GHz.广东高性能相噪分析仪基带噪声分析
相位噪声指标是射频、微波领域非常重要的指标，相位噪声指标的测试为研发、设计、生产、调试是必须测试的指标，测试准确度要求高，需要考虑的因素很多。数字相位调整方法包括环路锁相环、环路带宽内的噪声抑制补偿、相同的灵敏度，提高了测试效率。数字相位调整方法可以轻松实现脉冲相位噪声、附加相位噪声、脉冲附加相位噪声测试、VCO测试和瞬态测试等多种测试要求，极大地满足了各种测试要求。可以同时测量各种测试要求。同时，数字相位调整法测试比较简单，没有复杂的操作设置，测试速度较快。特别是通过在数字相位调整方法的基础上添加相互相关的算法进行测试，测试灵敏度非常高，是目前进行相位噪声测试和其他相关测试的很出色的测试方法和手段。安徽APPH40G相噪分析仪销售AnaPico APPH系列高性能相位噪声分析仪频率输入范围分别覆盖1MHz至65GHz，频偏范围0.01Hz至100MHz。
频谱分析仪测量相位噪声，但有很多局限性。测量灵敏度不高，受光谱固有相位噪声的限制。由于频谱是超外差接收机结构，接收机本振的相位噪声限制了频谱测量仪测量相位噪声的灵敏度。无法区分幅度调制噪声和相位噪声。因为两者都会产生光谱的扩张。无法测量非常接近的载波的相位噪声。频偏受分辨率滤波形状因素的限制。频谱分析仪的动态范围也限制了相位噪声测量灵敏度。由于噪声功率和载波功率之间的巨大差异，频谱分析仪的动态范围也限制了相位噪声测量灵敏度。
在现代高科技电子技术中，相位精度是基本的参数之一，相位精度与其他许多外部参数的测量体系和测量结果有着直接的密切关系，因此相位精确测量将变得更加重要。测量相位的方法有很多。其中电子计数器测量相位具有精度高、使用方便、测量快速、测量过程自动化方便等优点，是相位测量的重要手段之一。现代相位测量技术的发展可以分为三个阶段。第一步是早期采用的，如阻抗法、和/差法、三电压法、对比法、平衡法等，方法简单，但测量精度低。第二步是利用数字电路、微处理器、FPGA/CPLD、DSP等。APPH64G是5MHz~64GHz信号源分析仪/相位噪声分析仪主机。
相位噪声通常定义为在某一给定偏移频率处的dBc/Hz值，其中，dBc是以dB为单位的该频率处功率与总功率的比值。一个振荡器在某一偏移频率处的相位噪声定义为在该频率处1Hz带宽内的信号功率与信号的总功率比值。相位噪声(Phasenoise)是指系统(如各种射频器件)在各种噪声的作用下引起的系统输出信号相位的随机变化。它是衡量频率标准源(高稳晶振、原子频标等)频稳质量的重要指标，随着频标源性能的不断改善，相应噪声量值越来越小，因而对相位噪声谱的测量要求也越来越高。传统的零拍测量法已面临严重的挑战，特别是在如何减少测量系统本身的噪声对测量结果的影响，提高系统的测量灵敏度方面尤为困难。APPH相噪分析仪可在0.01 Hz至100 MHz的偏移范围内实现低至-190 dBc/Hz的测量。嘉兴相噪分析仪基带噪声分析
APPH相位噪声分析仪具有极低的仪器本底噪声。广东高性能相噪分析仪基带噪声分析
相位噪声通常是针对CW信号而言的，是表征信号频谱纯度的非常重要的参数，衡量了信号频率的短期稳定度。相位噪声是频域的参数，在时域还有一个与之对应的参数——随机抖动，二者之间存在一定的数学关系，可以相互转换。相位噪声表征了某一频偏处的单边带相对噪声功率谱密度，由上式可知，θ2rms表征了双边带相对噪声功率谱密度。上面是以宽带随机噪声中的任意单频点信号作为调制信号为例，简要描述了相位噪声的形成，而宽带噪声包含无数个单频点信号，对载波进行相位调制后，那么从频谱上看，同样可以得到左右对称的两个边带，而且左右边带的频谱是连续的。广东高性能相噪分析仪基带噪声分析
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