RLK650便携式红外发射率测量仪，是采用较先进的光电检测技术、数字信号处理技术、嵌入式软件技术，以及人体工程学技术新型的光电检测仪器。其基于定向半球反射比（DHR）测量原理，完成双波段（3-5um和8-12um）发射率的贴近测量，产品针对野外、移动试验条件设计，集公司多项技术积累，吸收国际先进产品技术与特点，具有携带方便、操作简单等优点，测量结果保存在SD卡中。产品特点🔷测量原理：定向半球反射（DHR），20°±1°入射；🔷测量波段：光双波段，3-5um&8-12um;🔷便携式设计：良好的人体工程学外形设计，操作手感好；🔷彩色触摸屏：汉字界面、触摸操作、一目了然、一键测量、操作简便；🔷数字存储：MicroSD卡，比较大1024记录，分4组，TXT文件格式，方便在PC机上后续分析。 发射率通过把辐射计放在待测样品上并直接读出RD1上的发射率。明策科技发射率测量仪故障
根据能量守恒定律及基尔霍夫定律，只要将已知强度的辐射能投射到被测的不透明样品表面上，并用反射计测出表面反射能量，即可求得样品的反射率，进而计算发射率。多波长辐射测温法是在一个仪器中制成多个光谱通道，利用多个光谱的物体辐射亮度测量信息，假定发射率和波长关系模型，经过数据处理得到物体的温度和材料的光谱发射率。单独黑体法采购标准黑体炉作为参考辐射源，样品与黑体是各自单独的，辐射能量探测器分别对它们的辐射进行测量。测量材料全波长发射率时，探测器需要选择使用无光谱选择性的温差电堆或热释电等器件；测量材料光谱发射率时，需要选择使用光子探测器并配备特定的单色滤光片。明策科技发射率测量仪故障客户定制－定制测呈适配器，用来测量圆柱体表面或者其它形状设计表面。
15R-RGB便携式多波长镜面反射率产品特点：
USB：提供了一个USB端口，用于维护和下载数据集以及升级固件。
光源：高度白光发光二极管（400-800nm）。该光源以90Hz的频率进行斩波，消除了杂散光问题。
光学：LED光源安装在一个小孔径后面，提供近点光源。这通过会聚透镜准直成光束。一个相同的透镜将反射光束聚焦到收集孔中。
滤光片选择：通过滤光轮选择宽带红、绿、蓝和红外滤光片。一个额外的过滤器位置未经过滤，用于在白光LED的全光谱上进行测量。
孔径选择：五个孔径提供4.6、7、15、25和46毫弧度的全接收角。
对准系统：三个螺纹支撑提供调整，使反射光束与接收光学器件对准，并补偿第二表面反射器的不同厚度。
校准标准：工作标准安装在连接到仪器底座的保护外壳中。
分辨率：一个3½位LCD显示屏直接指示反射率为0.1%。增益调节旋钮允许用户使用工作标准校准仪器。
重复性：+/-0.002反射单位。
工作温度：32至122F（0至50C）。
在建筑反隔热涂料行业中，发射率是物质表面的一项重要的热物性参数，其测量精度水平、大小控制、变化特征控制是衡量各种相关产品质量的重要技术指标，在红外测量技术中占据着重要地位。然而，发射率与多种影响因素相关，对其测量的准确性非常重要。因此系统的认识材料发射率的特性，并提供可靠的实验数据，有重要意义。建筑反射隔热涂料：以合成树脂为基料，与功能性颜料及助剂等配置而成，施涂于建筑物外表面，具有较高太阳光反射比、近红外反射比和红外半球发射率的涂料。因此在建筑行业会对该种材料做以上参数的检测来评估涂料的性能。上海发射率测量仪的厂家排名。
通常采用的反射计有热腔反射计、积分球（抛物面、椭球面等）反射计、镜面反射计及测角反射计等。（1）热腔反射计法测量范围通常为1~15μm，精度3%~5%，但该方法的精度在很大程度上取决于样品温度，而且必须很大低于热腔壁的温度，所以不适于高温测量，但此方法能测出样品的光谱及方向发射率，样品制备简便，设备简单，测试周期也较短，故仍得到一定应用。2）积分球反射计主要部分是一个具有高反射率的漫反射表面积分球。工作原理是被测样品置于球心处，入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上，经过球面一次反射即均布在球表面上，探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。然后某一已知反射率的标准样品取代被测样品，重复前述过程。两次测量辐射反射能之比即为反射率系数，被测样品的反射率即为此系数乘以标准样品的反射率。此方法温度范围宽，上限可达5000℃以上。（3）激光偏振法测量精度优于5%，测量时间小于，但只能测量光滑表面的材料发射率。原理为分别测量反射光两个偏振方向的强度比。 发射率测量仪有什么特点？上海明策告诉您。明策科技发射率测量仪故障
把辐射计放在待测样品上并直接读出RDl上的发射率。明策科技发射率测量仪故障
量热法量热法基本原理是：被测样品与周围相关物体共同组成一个热交换系统，根据传热理论推导出系统有关材料发射率的传热方程，再测出样品有关点的温度值，就能确定系统的热交换状态，从而求出样品发射率。按热交换系数可分为稳态法及瞬态法两大类。（1）常用的稳态量热法是灯丝加热法，该方法测温范围宽，为-50~1000℃。但只能测全波长半球发射率，不能测量光谱或定向发射率。（2）瞬态量热法采用瞬态加热技术（如激光、电流等），使试样温度急剧升高，通过测量试样温度、加热功率等参数，再结合辅助设备测量物体的发射率。优点有：设备相对简单，测量速度快，测温上限高（4000℃以上），精度高，缺点是只能测导体材料。明策科技发射率测量仪故障