近红外光斑分析仪性能

光斑分析仪通过光学传感器将光斑能量分布转化为电信号，结合算法分析实现光束质量评估。Dimension-Labs 产品采用双技术路线：扫描狭缝式通过 0.1μm 超窄狭缝逐行扫描，实现 2.5μm 至 10mm 光斑的高精度测量；相机式则利用面阵传感器实时成像，支持 200-2600nm 全光谱覆盖。全系标配 M² 因子测试模块，结合 BeamHere 软件，可自动计算发散角、椭圆率等参数，并生成符合 ISO 11146 标准的测试报告。 产品优势： 满足测试需求的全系列产品 适配所有Beamhere光斑分析仪的M M2因子测试模块 精心设计的分析软件 软件真正做到交互友好，简单易用，一键输出测试报告。光束发散角应该如何测量。近红外光斑分析仪性能

在激光应用领域，高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏，在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和，常规激光器功率远超此强度，不衰减光束不仅无法测量光斑信息，还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 的高功率激光，无需额外衰减片。在此基础上，还推出单次取样与双次取样两款衰减配件，可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配，可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1，45° 倾斜设计，取样率 4% - 5%，有 C 口安装方式和锁紧环结构，能测量任意角度入射激光；双次取样配件型号 DL - LBA - 2，内部紧凑安装两片取样透镜，取样率 0.16% - 0.25%，可应对 400W 功率光束，多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光，大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求，单次取样 68mm，双次取样 53mm，为各类激光应用场景的检测提供了方案。光通信光斑分析仪厂家激光光斑的光斑尺寸、形状、强度分布、M²因子、空间位置与稳定性测试。

维度光电-BeamHere 光斑分析仪凭借高精度光束参数测量能力，为激光技术在各领域的创新应用提供支持。在工业制造中，其亚微米级光斑校准功能帮助优化激光切割、焊接与打标工艺，确保光束能量分布均匀性，提升加工一致性。医疗领域中，BeamHere 用于眼科准分子激光设备的光束形态监测，通过实时分析能量分布与光斑稳定性，保障手术精度与安全性。科研场景下，该设备支持超短脉冲激光的时空特性，为新型激光器与光束整形技术突破提供数据支撑。光通信领域，BeamHere 可检测光纤端面光斑质量，优化光信号耦合效率，确保通信系统性能稳定。全系产品覆盖 200-2600nm 宽光谱范围，支持千万级功率测量，结合 M² 因子分析与 AI 算法，为客户提供从光束诊断到工艺优化的全流程解决方案。

BeamHere 分析软件作为组件，支持多设备协同工作：扫描数据自动校准、光斑模式智能识别、M² 因子三维重建。通过机器学习算法，可自动补偿环境光干扰与温度漂移。通过可视化界面，用户可实时查看光斑能量分布云图、发散角变化曲线及束腰位置动态图，支持多参数联动分析。软件内置模板库，一键生成包含 20 + 参数的标准化报告，支持 PDF/Excel/XML 多格式导出，并支持数据追溯与批量处理，历史数据可自动关联测试条件，缩短测试周期。企业版支持用户权限分级管理与数据加密。光斑分析仪应该怎么选？

Dimension-Labs 维度光电相机式与狭缝式光斑分析仪的选择需基于应用场景的光斑尺寸、功率等级、脉冲特性及形态复杂度。相机式基于面阵传感器成像，可测大10mm 光斑（受限于 sensor 尺寸），小光斑为 55μm（10 倍 5.5μm 像元），结合 6 片衰减片（BeamHere 标配）实现 1W 功率测量，适合大光斑、脉冲激光（触发模式同步捕获单脉冲）及非高斯光束（如贝塞尔光束）检测，通过面阵实时反馈保留复杂形态细节。狭缝式采用正交狭缝扫描，刀口模式可测小 2.5μm 光斑，创新狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 高功率激光，适合亚微米光斑、高功率及高斯光斑检测，但需严格匹配扫描频率与激光重频以避免脉冲丢失，且复杂光斑会因狭缝累加导致能量分布失真。维度光电 BeamHere 系列提供双技术方案，用户可根据光斑尺寸（亚微米选狭缝，大光斑选相机）、功率等级（高功率选狭缝，微瓦级选相机）及光斑类型（复杂形态选相机，高斯光斑选狭缝）灵活选择，实现光斑检测全场景覆盖。无干涉条纹的光斑质量分析仪。光通信光斑分析仪厂家

半导体行业激光光束质量检测方案。近红外光斑分析仪性能

Dimension-Labs 推出的扫描狭缝式光斑分析仪，通过国内的双模式切换技术，实现 190-2700nm 宽光谱覆盖与 2.5μm-10mm 光束直径测量。其 0.1μm 超高分辨率可捕捉亚微米级光斑细节，创新设计解决三大检测痛点： 小光斑测量：刀口模式分析 < 20μm 光斑形态，避免像素丢失 高功率检测：狭缝物理衰减机制允许直接测量近 10W 激光，无需衰减片 大光斑分析：狭缝模式支持 10mm 光斑能量分布检测 设备采用正交狭缝转动轮结构，通过旋转扫描同步采集 XY 轴数据，经算法处理输出光束直径、椭圆率等参数。紧凑设计适配多场景安装，通过 CE/FCC 认证，适用于激光加工、医疗设备及科研领域，帮助客户提升光束质量检测效率，降**检测成本。近红外光斑分析仪性能