杭州BIX-8811 反射率测量系统供应商

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反射率测量系统，依据光反射原理，准确测定材料反射率，为光学材料研发提供数据。杭州BIX-8811 反射率测量系统供应商

SIX-8001红外辐射测量系统

【概述】实际是一套有源热源检测台式红外热像仪，通过热成像及测温技术直观呈现热缺陷或整体温度分布，并可以进行过程监控。通过本系统，可以助力研究电路板热分析、微米级元器件检测、材料应力温升分析、材料热力性能分析、化学反应温度分析、化工工艺温度监测等。

【特点】~桌面在线式设计，着重过程检测和记录。~可调焦式设计，全视距清晰，见微见著。~镜头分辨力50微米，热显微成像。~专业PC端软件，丰富的检测报告内容。

【应用】~电路板热分析。~微米级元器件检测。~材料应力温升分析。~化学反应温度分析。~化工工艺温度监测。 杭州BIX-8811 反射率测量系统供应商