小型台式定性粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析

X射线衍射仪在制药行业中的应用：药物多晶型研究与质量控制

X射线衍射（XRD）技术是制药行业药物研发和质量控制的**分析手段之一。药物活性成分（API）的多晶型现象（同一化合物存在不同晶体结构）直接影响药物的溶解度、稳定性、生物利用度及生产工艺。XRD能够快速、准确地鉴定药物晶型，确保药品质量符合监管要求（如ICH、USP、EP）。

药物多晶型研究（1）多晶型的发现与表征晶型筛选：通过XRD建立晶型库，区分不同晶型（如无水晶型、水合物、溶剂化物）。示例：利托那韦（Ritonavir）因未检测到新晶型（Form II）导致药品失效，损失超2.5亿美元。布洛芬（Ibuprofen）存在多种晶型，其中Form I和Form II的溶解性差异***。结构解析：结合单晶XRD（SCXRD）确定晶胞参数、分子堆积方式（如氢键网络）。 研究地质构造应力历史。小型台式定性粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析

YBCO薄膜的氧含量调控目标：确定退火后薄膜的δ值。步骤：测量（005）峰位，计算c轴长度。根据校准曲线（cvs.δ）确定氧含量。检测杂相（如BaCuO₂）确保薄膜纯度。设备：RigakuSmartLab，配备高温腔室。案例2：铁基超导体SmFeAsO₁₋xFx的掺杂分析目标：评估F掺杂对晶格的影响。步骤：精修a、c轴参数，观察F掺杂引起的收缩。分析（002）峰宽变化，评估晶格畸变。数据：x=0.1时，c轴缩短0.3%，与Tc提升相关。小型台式多晶XRD在超导材料研究中可高效完成相鉴定、氧含量估算、掺杂效应分析等任务，尤其适合实验室日常合成质量控制。小型台式多晶XRD衍射仪应用药物多晶型分析太阳能电池薄膜的现场质检。

X射线衍射在能源行业中的应用：核燃料与燃料电池材料研究

核燃料材料研究（1）核燃料芯体表征铀/钚氧化物燃料：定量分析UO₂/PuO₂固溶体的晶格参数变化（如(U,Pu)O₂的萤石结构收缩率）检测辐照损伤导致的缺陷簇（衍射峰宽化分析）新型燃料体系：UN（氮化铀）与UC（碳化铀）的相纯度控制（避免U₂N₃杂质相）事故容错燃料（ATF）中SiC包覆层的结晶质量评估（2）辐照效应研究原位辐照实验：同步辐射XRD实时监测UO₂晶格肿胀（中子辐照模拟装置联用）裂变产物相鉴定（如Mo-Ru-Pd合金相的析出行为）辐照后检验（PIE）：乏燃料中次生相的鉴别（如BaMoO₄、Cs₂UO₄）（3）核废料处理材料陶瓷固化体：验证钚玻璃固化体的非晶态程度（如硼硅酸盐玻璃的短程有序结构）检测Synroc（钛酸盐陶瓷）中ZrTiO₄等稳定相的生成地质储存研究：分析膨润土缓冲材料（蒙脱石）在辐射下的层间收缩

X射线衍射仪（XRD）是一种基于X射线与晶体材料相互作用原理的分析仪器，通过测量衍射角与衍射强度，获得材料的晶体结构、物相组成、晶粒尺寸、应力状态等信息。

电子与半导体工业：薄膜与器件材料的分析在半导体和电子器件制造中，XRD用于分析薄膜材料的晶体质量、厚度和应力。例如，在硅基半导体行业，XRD可测量外延层的晶格匹配度，减少缺陷。在第三代半导体（如GaN、SiC）研究中，XRD可分析位错密度，提高器件性能。此外，XRD还可用于LED、太阳能电池等光电器件的材料表征，优化能带结构设计。 测量复合材料的残余应力。

小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在环境科学领域的污染物结晶相分析中发挥着关键作用，能够准确鉴定复杂环境介质中的晶体污染物，为污染溯源、风险评估和治理技术开发提供科学依据。

电子垃圾拆解区污染检测发现：土壤中同时存在：SnO₂（33.9°，来自焊料）Cu₂O（36.4°，线路板腐蚀产物）BaSO₄（25.2°，阴极射线管玻璃）溯源结论：三种特征相组合指向电子垃圾非法拆解。

酸矿排水治理治理前：黄铁矿（FeS₂，33.1°）+褐铁矿（FeO(OH)，21.2°）治理后：新生相施氏矿物（Fe₈O₈(OH)₆SO₄，26.5°）效果评估：施氏矿物占比>70%表明治理成功。

检测工业固废危险成分。便携式粉末多晶衍射仪应用药物多晶型分析

同时获得结构和成分信息。小型台式定性粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析

小型台式多晶X射线衍射仪（XRD）在考古文物颜料分析中具有独特优势，能够无损、快速地揭示古代颜料物的晶体结构信息，为文物鉴定、年代判断和工艺研究提供科学依据。

绿色颜料分析典型矿物：孔雀石[Cu₂(CO₃)(OH)₂]：17.5°、24.0°（单斜晶系）绿铜矿（CuCl₂·3Cu(OH)₂）：16.2°、32.6°（腐蚀产物）案例：敦煌壁画中识别出氯铜矿与孔雀石混合使用的特殊工艺

蓝色颜料分析关键矿物：石青[Cu₃(CO₃)₂(OH)₂]：23.7°、31.4°青金石（Na₈₋₁₀Al₆Si₆O₂₄S₂₋₄）：30.5°、35.2°鉴别要点：青金石中的黄铁矿杂质峰（33.1°）可作为真伪判断依据 小型台式定性粉末X射线衍射仪应用于金属材料残余应力分析