常州双色红外高温计使用

常州思捷光电科技有限公司是集研发、生产、销售和售后服务于一体的科技型企业，深耕红外测温领域二十余年，已成为国内专业的比色（双色）测温产品供应商。公司产品涵盖非接触式红外测温仪、检测仪器及工业自动化检测仪表，测温范围覆盖-50至3300℃，拥有60多款系列化产品和近20款比色测温产品，可适配不同行业的温度监测需求。凭借雄厚的技术实力，思捷光电掌握红外测温技术，拥有自主知识产权，且与高校及多行业深度合作，持续优化产品性能。生产环节实施严格的质量管理，从产品设计、零件选型到成品检验均层层把控，并搭建了EMC测试平台、老化测试平台及无尘实验室，搭配十多台进口与国产标准黑体，确保每台产品的高精度与高稳定性。硅光电池探测器，适合可见光波段测温场景。常州双色红外高温计使用

思捷EX-SMART-F系列光纤式双色红外测温仪，凭借双色测温技术的优势，成为多尘、高湿、目标遮挡等复杂工业环境的理想测温设备。它通过测量两个不同波长红外辐射能量的比值来确定温度，即使检测信号衰减95%，也不会影响测温结果，有效消除水汽、灰尘、目标大小变化及发射率波动的干扰，解决了传统单色测温仪在复杂环境下精度不足的痛点。该系列测温范围覆盖350℃~3300℃，部分型号如EX-SMART-FGR-5533可直接适配3300℃超高温场景，探测器采用InGaAs/InGaAs叠层铟镓砷，工作波长根据型号不同分为(1.45~1.65)μm/(1.65~1.8)μm、1.4μm/1.64μm等，适配不同材质的温度测量。测量精度达±0.3%T+2℃（1800℃以下），超过1800℃为±0.5%T，分辨率0.1℃，重复精度0.1%T+1℃，能稳定输出准确温度数据。漳州如何选高温计厂家价格红外测温仪的信号处理模块可计算峰值、谷值与平均温度。

钢铁连铸是将钢水连续铸造成钢坯的关键环节，温度监控直接影响钢坯质量与生产安全，常州思捷的红外测温仪凭借非接触、高精度、抗干扰的特点，成为该过程的监测设备。无论是连铸结晶器出口的钢坯表面测温，还是二次加热炉的温度调控，思捷的 STRONG 系列与 MARS 系列均能提供稳定可靠的解决方案。在连铸结晶器环节，钢水从 1500℃以上的高温状态进入结晶器，需实时监测铸坯表面温度分布，防止因温度不均导致裂纹。此时选用 STRONG-SR 系列双色红外测温仪（测温范围 600~3200℃），其 200:1 的高距离系数可实现远距离小目标测量，避免高温辐射对设备的损伤；双色模式能抵御结晶器周边的水汽、粉尘干扰，即使铸坯表面存在局部氧化层，仍能准确捕捉温度（测量精度 ±0.5% T），确保铸坯冷却速率均匀。

针对玻璃窑炉高温、多尘的恶劣测温环境，常州思捷光电推出 MARS-F 系列光纤单色红外测温仪，以强环境适应性与准确测温性能，成为玻璃生产行业的理想选择。该系列产品测温范围 300℃~3000℃，分段覆盖玻璃熔融、成型、钢化等全流程，搭载 Si 硅光电池或 InGaAs 铟镓砷探测器，工作波长适配 (0.85~1.1)μm 或 (1.45~1.7)μm，测量精度 ±0.5% T℃，分辨率 0.1℃，确保温度监测准确无误。采用耐高温光纤传导光学信号，抗电磁干扰能力强，镜头及光纤可耐受 - 20℃~+250℃高温，搭配水冷装置时测温仪可在 - 20℃~+200℃环境下稳定工作。距离系数可达 200:1，M25 调焦镜头在测量距离 150mm~5000mm 时，光斑 0.75mm，能准确测量玻璃生产中的关键部位温度。响应时间 5ms 快速响应，可定制至 3ms，实时捕捉玻璃熔融状态的温度波动，为工艺调整提供及时数据支持。产品具备过压、过流、短路保护功能，内置 EMI 滤波器，抗干扰能力突出，适配玻璃窑炉的复杂工业环境。OLED 显示屏操作便捷，绿光源瞄准 1:1 显示目标大小，定位准确。思捷光电作为集研发、生产、销售、售后于一体的科技型企业，为玻璃企业提供从产品选型到安装调试的全流程服务，助力企业实现准确温控，提升玻璃产品品质与生产效率。多晶硅铸锭，红外测温仪确保晶体成型质量。

常州思捷光电深耕红外测温领域多年，打造的 MARS-S 系列单色红外测温仪，以高精度、高稳定性成为半导体行业真空炉温度监测的关键设备。该系列测温范围 580℃~3050℃，分段适配单晶炉、多晶炉、真空炉等半导体生产场景，搭载 Si 硅光电池探测器，工作波长 (0.85~1.1)μm，测量精度 ±0.5% T℃，分辨率 0.1℃，重复精度 ±2℃，确保温度数据准确可靠。产品距离系数达 100:1 或 200:1，调焦范围覆盖 0.25m~0.65m 至无穷远，能准确锁定真空炉内小目标区域温度。响应时间 5ms 快速响应，可定制至 3ms，实时捕捉温度动态变化，搭配峰值、谷值、平均值信号处理功能，满足不同监测需求。PID 恒温控制与全量程温度补偿技术，有效抵消环境温度对测量精度的影响，特殊设计的窄带红外滤片，大幅降低发射率变化带来的误差。供电电源采用 DC (20~30) V 设计，带过压、过流、短路保护，内置 EMI 滤波器可抗 2500VDC 脉冲群干扰，适配半导体生产的复杂电磁环境。工业级 OLED 显示屏操作便捷，支持 LED 绿光源或目视瞄准，1:1 显示目标大小，定位准确。思捷光电凭借与高校及行业企业的合作优势，结合先进的 EMC 测试平台与无尘实验室，为半导体企业提供稳定可靠的测温解决方案，助力提升芯片生产良率。双色红外测温仪受灰尘、遮挡影响小，测量更稳定。北京在线式红外高温计对比

思捷测温仪需配合吹扫装置（0.1MPa，6L/min）防止镜头污染。常州双色红外高温计使用

半导体制造对温度精度要求极高，思捷光电提供覆盖晶圆加工、薄膜沉积、长晶等环节的精密测温方案。晶圆加工阶段，蚀刻与沉积温度需控制在 ±1℃以内，EX-SMART 系列光纤双色仪（350℃~3300℃）以 1ms 响应捕捉温度细微变化，三模式测温对比分析数据，抗电磁干扰设计适配光刻机等设备。第三代半导体长晶炉测温选用 STRONG-SR 系列双色仪（700℃~3200℃），准确监测炉内温度，形成工艺曲线，保障晶体质量；薄膜沉积环节，MARS-G 系列（300℃~2500℃）监测沉积温度，确保薄膜厚度均匀。设备支持以太网通讯，与半导体自动化系统联动，实现温度闭环控制，提升产品良率。常州双色红外高温计使用