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在实用性设计上，MARS 系列充分考虑工业现场操作需求：调焦范围覆盖 0.25m（近焦距）至无穷远，适配不同安装距离；瞄准方式支持 LED 绿光源或目视瞄准，1:1 显示目标大小，便于快速定位测量点；带水冷版本可在 - 20℃~+200℃环境工作，无水冷时耐受 - 20℃~+60℃，满足大多数厂房环境。此外，产品内置 PID 恒温控制和全量程温度补偿，避免环境温度波动影响精度；供电电源带过压、过流、短路保护，内置 EMI 滤波器可抗 2500VDC 脉冲群干扰，确保长期稳定运行。对于追求可靠性能与成本平衡的工业用户，MARS 系列无疑是理想选择。以太网输出功能，让红外测温仪融入工业互联网体系。石家庄比色高温计对比

思捷光电 EX-SMART 系列光纤双色红外测温仪，其测温范围 350℃~3300℃分段覆盖，满足超高温环境下的准确测温需求。该系列创新性实现双色、单色宽波段、单色窄波段三种测温模式，相当于 3 台测温仪同时工作，可根据实际场景灵活切换，保障温度测量的准确性与可靠性。探测器采用叠层铟镓砷（InGaAs/InGaAs），搭配 PID 恒温控制与全量程温度补偿，测量精度达 ±0.3% T℃+2℃（部分型号 ±0.5% T℃+2℃），重复精度 0.1% T+1℃，分辨率 0.1℃，数据准确。响应速度是其优势，1ms 快速响应，0.5ms 曝光时间，能瞬间捕捉超高速场景下的温度波动。镜头选择灵活，手动可调焦镜头与定焦镜头可选，距离系数 200:1 时，光斑可达 0.75mm，准确定位微小目标。供电电源带过压、过流、短路保护，内置 EMI 滤波器抗 2500VDC 脉冲群干扰，且电源、模拟量输出、数字通讯接口相互隔离，安全性与稳定性俱佳。此外，OLED 显示屏与 RS485/RS232 通讯接口，方便数据查看与传输，为超高温高速测温场景提供专业支持。北京非接触式高温计厂家价格所有系列均内置 EMI 滤波器，可抗 2500VDC 脉冲群干扰。

MARS系列单色红外测温仪凭借宽量程与高适应性，广泛应用于热处理、金属加工、半导体等行业，涵盖MARS-S、MARS-G、MARS-EXG三大子系列，测温范围从150℃延伸至3050℃分段区间，可匹配不同温度需求场景。根据型号差异，采用Si光电池、InGaAs或扩展型InGaAs探测器，搭配对应工作波长（0.85~1.1μm至1.45~2.1μm），确保测量准确。设备测量精度达±0.5%T℃，分辨率0.1℃，重复精度±2℃，调焦范围支持0.45m至无穷远（标准焦距）与0.25m~0.65m（近焦距）。5ms快速响应可定制至3ms，能捕捉动态温度变化。采用PID恒温控制与全量程温度补偿，避免环境温度干扰，工业级OLED屏与人机交互设计简化操作。支持单路模拟量输出与RS485通讯，带水冷时适应-20℃~200℃工况，是通用性极强的工业测温设备。

思捷光电红外测温仪具备完善的故障提示功能，常见故障可通过简单排查解决。若显示 “ERR”，多为测温超量程或光路遮挡，需检查目标温度是否在设备量程内，清洁镜头并确认瞄准无遮挡。数据波动过大可能是响应时间过短或电磁干扰，可延长响应时间至 50ms 以上，或更换屏蔽电缆、远离干扰源。通讯中断需检查 RS485/Ethernet 参数，确保地址码、波特率与系统匹配，测试电缆通断。显示温度偏低 / 偏高多为发射率设置错误，需重新校准发射率；若带水冷系统，水温过高也会影响精度，需检查冷却系统。无法开机需排查供电电压与线路，确保 20~32V 电压正常。多数故障可通过现场排查解决，复杂问题可联系思捷技术支持，通过远程指导或上门服务处理。环保危废焚烧监测，助力达标排放。

光伏单晶硅生产中，铸锭、长晶等环节的温度控制直接影响硅料纯度与成锭率，思捷红外测温仪凭借准确性能成为该领域的关键设备。以 STRONG-SR 系列为例，其测温范围 600℃~3200℃，能覆盖单晶硅生产全流程的温度需求，搭载 Si/Si 叠层硅探测器，测量精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，可准确监测炉内温度变化。在单晶硅铸锭炉中，双色测温模式能有效抵御炉内硅蒸汽、灰尘的干扰，即使信号衰减 95% 仍能保持测温准确，避免传统测温仪因污染导致的精度下降；长晶炉内，产品距离系数可达达 200:1，可调焦镜头能准确锁定晶体生长区域，响应时间快至 5ms，实时捕捉温度动态，确保长晶工艺温度曲线稳定。此外，产品支持 RS485 通讯与模拟量输出，可与铸锭炉、长晶炉控制系统无缝对接，实现自动化温控；PID 恒温控制与全量程温度补偿技术，避免环境温度波动对测量精度的影响，为光伏企业提升单晶硅生产效率与产品质量提供有力保障。STRONG-SR 系列采用 Si/Si 叠层硅探测器。石家庄比色高温计对比

以太网信号输出，实现红外测温仪数据联网管理。石家庄比色高温计对比

思捷红外测温仪普遍搭载 PID 恒温控制技术，这是保障测量精度的技术之一。该技术通过准确控制探测器温度（默认 40℃，部分机型可在 40℃~60℃调节），使探测器始终处于较好的工作状态，避免环境温度波动对其性能的影响。例如，在冶金车间，环境温度可能随生产过程大幅变化，PID 恒温控制能快速响应温度变化，通过加热或散热维持探测器温度稳定，确保测量数据不受环境干扰。同时，PID 恒温控制还配合全量程温度补偿技术，从硬件层面抵消环境温度对电路、光学系统的影响，使测温仪在 - 20℃~+200℃（带水冷）的宽温度范围内均能保持 ±0.5% T 的测量精度。无论是寒冷的冬季厂房，还是高温的夏季生产车间，或是带有水冷装置的高温工况，PID 恒温控制都能为思捷红外测温仪提供稳定的内部工作环境，确保温度数据的可靠性与一致性，为工业生产的准确温控奠定基础。石家庄比色高温计对比