BladeCam2-XHR-UV 适用的应用领域BladeCam2-XHR-UV 是一款高分辨率、紧凑型光束质量分析仪，适用于多种应用场景。以下是其主要应用领域：1. 紧凑型光学系统特点：BladeCam2-XHR-UV 具有超小的外观设计，厚度*为 0.5 英寸（12.8 mm），可轻松集成到紧凑的光学系统和 OEM 应用中。应用：适用于空间受限的光学系统，如便携式激光设备、小型化光学仪器等。2. 连续和脉冲激光轮廓分析特点：支持连续光和脉冲光测量，带有触发功能，适用于高重复频率的脉冲激光。应用：用于激光加工（如切割、焊接、打标）、医疗激光设备（如眼科手术激光器）的光束质量分析。3. 激光器和激光系统的现场维修特点：便携性和高分辨率使其成为激光器和激光系统现场维修的理想工具。应用：快速诊断和解决激光系统中的光束质量问题，确保设备的正常运行。光束质量分析仪可以监测光束的稳定性，包括光束的位置、形状和功率的变化。深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪测量系统
光束特性光束半径或直径范围：确定要测量的光束半径或直径范围，以及所需的测量精度。光束形状：考虑光束是否接近高斯分布，或者具有复杂的形状，如二极管条的输出。光功率范围：确定光功率范围，是否需要大动态范围的设备，或者是否可以在狭窄的光功率范围内工作。3. 测量精度传感器类型：选择合适的传感器类型，如 CCD 或 CMOS。虽然 CCD 在影像品质上可能优于 CMOS，但 CMOS 具有低成本、低功耗和高整合度的特点。像素大小：像素大小影响可测量的**小光束尺寸。一般要求**小测试光斑直径大于等于10个像素点大小。动态范围和信噪比：高动态范围和高信噪比的传感器可以提供更准确的测量结果。北京光束漂移记录光束质量分析仪DataRayWinCamD-LCM光束质量分析仪适用于科研领域激光系统研发：用于评估激光器性能，优化激光系统。
DataRay WinCamD-IR-BB 中远红外光束质量分析仪产品概述WinCamD-IR-BB 是一款专为中波红外（MWIR）和远红外（FIR）波段激光设计的光束质量分析仪，覆盖波长范围从 2 µm 到 16 µm。该设备基于微测辐射热计（microbolometer）技术，具有高灵敏度和自动非均匀性校正功能，能够进行 ISO 11146 标准的光束测量。主要特点宽波长覆盖：2 µm 至 16 µm，适用于多种中远红外激光。高分辨率成像：640×480 分辨率，17 µm 像素尺寸，有效成像面积为 10.8 mm×8.2 mm。高信噪比：信噪比超过 1000:1，确保测量的精确性和可靠性。集成快门：支持 HyperCal™ 动态噪声和基线校正，提高测量精度。低辐照度能力：在 5 倍峰峰值噪声下可测约 75 µW/cm²。帧率：30 帧/秒（出口版本为 7.5 帧/秒）。USB 3.0 接口：即插即用，无需外接电源适配器。无需斩波器或热电冷却器：简化了操作流程，降低了维护成本。支持脉冲激光：可测量重复频率 ≥ 1 kHz 的脉冲激光。多相机并行采集：支持多台相机同时使用，提高测量效率。
DataRay 的 HyperCal™ 动态噪声校正技术可以显著提高测量精度。5. 机械和光学系统精度高精度机械控制系统：机械转动系统和位移测量系统的精度直接影响测量结果。采用高精度的机械控制系统和位移测量技术（如莫尔条纹测距方法）可以显著提高测量精度。光学系统校准：定期校准光学系统，确保光束质量分析仪的光学系统处于比较好状态。6. 环境和操作条件控制温度和振动控制：在稳定的环境条件下（如恒温、低振动）进行测量，可以减少环境因素对测量精度的影响。操作规范：按照操作规范进行测量，确保测量过程的准确性和一致性。7. 多次测量和统计分析多次测量：通过多次测量并取平均值，减少随机误差对测量结果的影响。统计分析：对测量数据进行统计分析，评估测量结果的可靠性和重复性。8. 校准和验证定期校准：定期使用标准光源或已知光束质量的激光器对光束质量分析仪进行校准。第三方验证：通过第三方机构对光束质量分析仪进行验证，确保其测量精度。通过以上方法和措施，光束质量分析仪能够实现高精度的测量，确保激光光束质量参数的准确性和可靠性。WinCamD-IR-BB：适用于2µm至16µm波长的远红外光束分析。
光学组装和仪器对准特点：高分辨率和精确的光束参数测量能力，有助于精确对准光学元件。应用：用于光学系统的组装和校准，确保光学组件的精确对准。5. 光束漂移记录特点：能够记录光束的长期漂移数据，帮助分析光束的稳定性和一致性。应用：用于激光器的长期运行监测，提前发现潜在问题，减少设备停机时间。6. M² 测量特点：搭配 M2DU 载物台，可以测量光束质量因子 M²，评估光束的传播特性。应用：用于激光器的研发和质量控制，确保激光器的光束质量符合标准。工业领域激光加工：在激光切割、焊接、打标等工业应用中，实时监测光束质量，优化加工参数。四川光学组装和仪器对准光束质量分析仪品牌
BladeCam2-XHR-UV是一款高分辨率、紧凑型光束质量分析仪，特别适用于激光切割中的光束质量分析。深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪测量系统
应用领域连续和脉冲激光轮廓分析：适用于多种激光器的光束质量分析。激光系统实时监控：用于激光加工、医疗激光等领域的实时监控。激光偏移测量与监控：监测光束的动态变化，记录漂移数据。M²测量：搭配M2DU载物台，可测量光束质量因子M²。订购信息WinCamD-LCM：355至1150nm，µm像素，2048×2048，mm×mm有效区域，包含MagND滤光片。WinCamD-LCM-UV：190至1150nm，包含UV**ND滤光片。WinCamD-LCM-型号：355至1350nm，包含长通滤光片。WinCamD-LCM-TEL：1480nm~1610nm，适用于电信波段。WinCamD-LCM系列光束质量分析仪以其高分辨率、高帧率和***的波长覆盖范围，成为激光光束质量分析的理想选择。 深圳光束偏漂移测试光束质量分析仪测量系统