上海芯片可靠性测试实验室

在研制阶段要使产品达到预定的可靠性指标，为了使产品能达到预定的可靠性指标，在研制阶段需要对样品进行可靠性测试，以便找出产品在原材料、结构、工艺、环境适应性等方面所存在的问题，而加以改进，经过反复测试与改进，就能不断地提高产品的各项可靠性指标，达到预定的要求。在产品研制定型时要进行可靠性鉴定，因为新产品研制定型时，要根据产品标准（或产品技术条件）进行鉴定测试，以便多方面考核产品是否达到规定的可靠性指标。有口碑的可靠性测试机构可以保障产品检测质量。上海芯片可靠性测试实验室

上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 11、倾跌与翻倒： 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ec和导则:倾跌与翻倒 (主要用于设备型样品) GB/T 2423.7-1995，IEC 60068-2-31:1982。 12、砂尘试验： 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验L：沙尘试验 GB/T 2423.37-2006，IEC 60068-2-68:1994 只做：方法La2:恒定气压。 13、盐雾试验： 环境试验 第2部分:试验方法 试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2012，IEC 60068-2-52:1996； 人造气氛腐蚀试验 盐雾试验 GB/T 10125-2012，ISO 9227:2006； 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ka：盐雾 GB/T 2423.17-2008，IEC 60068-2-11:1981。 14、温度冲击试验： 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 GB/T 2423.22-2012，IEC 60068-2-14:2009。芯片可靠性测试可靠性测试具体怎么选择呢？

上海天梯检测技术有限公司振动测试： 系统整机振动测试标准 GBT2423.56 随机振动&包装振动 1.Test PSD1: 0.002G²/Hz, 1Grms for HDD 2.Test PSD2: 0.008G²/Hz, 2Grms for SSD 3.Test PSD3: 0.0147G²/Hz, 2.16Grms for package 4.Test Frequency: 5-500Hz 5.Test Axis: X, Y and Z axis 6.Test Time: 1Hr per axis GBT2423.10 正弦振动 1.Test Acceleration: 2G 2.Test Frequency: 5-500Hz 3.Displacement: 4.4mm(peak-to-peak) 4.Sweep velocity: 1 Oct/min 5.Test Axis: X, Y, Z three axes 6.Test Time: 1 hour per axis 上海天梯检测技术有限公司严格执行国家GBT2423.56法规以及国际通用的法规。

可靠性鉴定测试所需的测试时间长、测试费用高，不可能要求系统中的所有产品均进行可靠性鉴定测试，一般对影响系统安全或任务完成的新研、有重大改进的关键产品。能组成系统的尽量按系统考核，对于不能在实验室进行的，可对其中关键组件进行实验室测试，其他组件可利用外场使用数据进行综合评估，以确定产品是否达到规定的可靠性指标。可靠性鉴定测试剖面应尽可能模拟产品真实的使用环境，包括环境应力和工作应力。可靠性鉴定测试过程中如发生故障，只能修复，一般不能进行设计改进。否则，测试应从头开始。在对化工产品进行可靠性测试时，需要实施对应的质量管理措施。

可靠性试验与失效分析 可靠性是电子设备的重要质量特性之一，它直接关系到电子仪器装备的可用性，影响电子设备效能的发挥。上海天梯检测技术有限公司为客户提供从元器件级别，到电路板/模块级别，到整机系统级别的气候环境试验、机械力学试验、产品性能检测，以及相关的失效分析服务。 可靠性测试服务项目 高温测试 跌落测试 低温测试 寿命测试 高、低温循环测试 跌落测试 冷热冲击测试 盐雾实验 防火测试 电子产品性能测试 防水测试 大声压测试(EN50332) 防尘测试 音频性能测试 老化实验 天线性能测试 振动实验 太阳能光伏板(PV)性能测试所有可靠性测试可以用一个产品么？芯片可靠性测试

测试可靠性是指运行应用程序，以便在部署系统之前发现并移除失败。上海芯片可靠性测试实验室

上海天梯检测技术有限公司机械环境包含：振动试验（随机振动,正扫频振动,定频振动）,模拟汽输车运试验,碰撞试验,机械冲击试验（半正弦波,方波,后峰锯齿波）,跌落试验(1m和1.5m),G值跌落,滚筒跌落试验（0.5m和1m),斜面冲击试验,堆码压力试验,水平挤压试验,温湿度 振动三综合试验,高加速寿命试验（HALT）,高加速应力筛选（HASS,HASA）,插拔寿命试验（插拔力,拔出力）,钢球冲击试验,按键寿命试验,点划寿命试验,软压试验,摇摆试验,铅笔硬度测试,耐磨擦测试,附着力测试,百格测试等；上海芯片可靠性测试实验室

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