上海天梯检测——高压空载,低压限流态运行试验 测试说明: 高压空载运行是测试模块的损耗情况,尤其是带软开关技术的模块,在空载情况下,软开关变为硬开关,模块的损耗相应增大。低压满载运行是测试模块在较大输入电流时,模块的损耗情况,通常状态下,模块在低压输入、满载输出时,效率较低,此时模块的发热较为严重。 测试方法: A、将模块的输入电压调整为输入过压保护点-3V,模块的输出为较低输出电压,空载运行,此时,模块的占空比为较小,连续运行2小时,模块不应损坏; B、将模块的输入电压调整为欠压点+3V,模块的输出为较高输出电压的拐点状态,此时模块的占空比为较大,连续运行2小时,模块不应出现损坏LED地震测试有哪些项目?环境地震机构
上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 5、振动试验: 振动试验标准:电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fi: 振动 混合模式 只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动(数字控制)和导则 GB/T 2423.56-2006。只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm,载荷≤3000kg。 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动(正弦)只做:频率2Hz~3000Hz,位移≤51mm, 载荷≤3000kg。 6、温度变化试验: 环境试验 第2部分: 试验方法 试验N: 温度变化 7、温度/湿度组合循环试验: 环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AD:温度/湿度组合循环试验 8、跌落试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落 9、机械冲击试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击 10、碰撞试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞GB/T 18207.2-2005地震地震测试有什么意义呢?
上海天梯检测技术有限公司地震试验目的:
元件、产品、系统在一定时间内、在一定条件下无故障地执行指定功能的能力或可能性。可通过可靠度、失效率、平均无故障间隔等来评价产品的抗震性。
对产品而言,抗震性越高就越好。抗震性高的产品,可以长时间正常工作(这正是所有消费者需要得到的);从专业术语上来说,就是产品的抗震性越高,产品可以无故障工作的时间就越长。
产品实际使用的抗震性叫做工作抗震性。工作抗震性又可分为固有抗震性和使用抗震性。固有抗震性是产品设计制造者必须确立的抗震性,即按照抗震性规划,从原材料和零部件的选用,经过设计、制造、试验,直到产品出产的各个阶段所确立的抗震性。使用抗震性是指已生产的产品,经过包装、运输、储存、安装、使用、维修等因素影响的抗震性
上海天梯检测——输入电压跌落及输出动态负载 一次模块在实际使用过程中,当输入电压跌落时,电源模块突加负载的极限情况是可能发生的,此时功率器件、磁性元件工作在较大瞬态电流状态,试验可以检验控制时序、限流保护等电路及软件设计的合理性。 A、将输入电压调整为在欠压点+5V(持续时间为5s)、过压点-5V(持续时间为5s)之间跳变,输出调整在较大负载(较大额定容量,持续时间为500ms)、空载(持续时间为500ms)之间跳变,运行1小时; B、将输入电压调整为欠压点+5V(持续时间为5s)、过压点-5V(持续时间为5s)之间跳变,输出调整在较大负载(较大额定容量,持续时间为1s)、空载(持续时间为500ms)之间跳变,运行1小时。地震测试与质量检测有何区别?
地震一般会分为天然地震和人工地震两大类。天然地震的震源深度大多在10km度范围内 ,查明地壳上部断裂与深部断裂的关系 ,对地震危险性评价意义重大。根据发生原因的不同,天然地震主要有三种类型:构造地、火山地震、陷落地震。构造地震,由于地下深处岩层错动、破裂所造成的地震。这类地震发生的次数很多,破坏力也非常大,约占全球地震数的90%以上。火山地震,由于火山作用,如岩浆活动、气体等引起的振动。火山地震一般影响范围较小,发生得也较少,约占全球地震数的7%。陷落地震,由于地层陷落引起的地震,例如,当地下溶洞或矿山采空区支撑不住顶部的压力时,就会塌陷,引起振动。这类地震更少,大约不到全球地震数的3%,引起的破坏也较小。环境地震测试项目和环境地震测试标准!YD5083测试标准地震模拟实验室
什么叫地震测试和环境测试?环境地震机构
上海天梯检测技术有限公司较新检测项目及标准 15、IP防护等级(外壳防护试验): 外壳防护等级(IP代码):GB 4208-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验R:水试验方法和导则:GB/T 2423.38-2008 16、低温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.35-2005 17、高温/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BFc:散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005 18、温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/ABMFh:温度(低温、高温)/低气压/振动(随机)综合 19、温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合试验: 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验:温度(低温、高温)/低气压/振动(正弦)综合 环境地震机构
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