上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业

轨道交通综合测试中的EMC测试

EMC包括两个方面的要求：一方面是指电子、电气设备或系统在正常运行过程中对所在环境产生的电磁干扰不能超过一定的限值，即EMI（ElectroMagneticInterference）电磁干扰。

另一方面是指电子、电气设备或系统对所在环境中存在的电磁干扰具有一定程度的抗扰度，即EMS（ElectroMagneticSusceptibility）电磁抗扰度。

EMC（电磁兼容）=EMI（电磁干扰）+EMS（电磁抗扰度）

任何产生电磁兼容问题都必须具备以下三个条件：*扰源（干扰源）、耦合途径、敏感设备，我们称之为电磁兼容三要素，缺少任何一个都构不成电磁兼容问题。 机车车辆型式试验、系统互操作性测试。上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业

上海天梯检测技术有限公司振动测试的目的： 振动测试已经列为产品的重要质量指标加以考核和检验。长期以来，人们只用产品的技术性能指标作为衡量电子元器件质量好坏的标志，这只反映了产品质量好坏的一个方面，还不能反映产品质量的全貌。因为，如果产品不可靠，即使其技术性能再好也得不到发挥。从某种意义上说，振动测试可以综合反映产品的质量。 振动测试工程是一个综合的学科，它的发展可以带动和促进产品的设计、制造、使用、材料、工艺、设备和管理的发展，把电子元器件和其它电子产品提高到一个新的水平。正因为这样，振动测试已形成一个专门的学科，作为一个专门的技术进行研究。上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业知道轨道交通的试验标准是什么吗？上海天梯可以为您设计试验！出具专业报告！

⑷IPX 4

方法名称：水淋试验

试验方法：

a．摆管式溅水试验

试验设备和试样放置：与上述 IPX 3 之 a 款均相同；

试验条件：除后述条件外，与上述 IPX 3 之 a 款均相同；喷水面积为摆管中点两边各 90°弧段内喷水孔的喷水喷向样品。被试样品放在摆管半圆中心。摆管沿垂线两边各摆动 180°，共约 360°。每次摆动 （2×360°）

约 12s

试验时间：与上述 IPX 3 之 a 款均相同 （即10 min）。

b．喷头式溅水试验

试验设备和试样放置：与上述 IPX 3 之 b 款均相同；

试验条件：拆去设备上安装带平衡重物的挡板，其余与上述 IPX

3 之 b 款均相同；

试验时间：与上述 IPX 3 之 b 款均相同， 即按被检样品外壳表面积计算，每平方米为 1 min （不包括安装面积） *少 5min

轨道交通作为现代城市公共交通的骨干力量，以其大运量、高效率、准时性强等优势，在缓解城市交通拥堵、促进区域经济发展等方面发挥着不可替代的作用。然而，轨道交通系统的复杂性和高密度运营特性，使得其安全性和可靠性成为至关重要的关注点。为了确保轨道交通线路、车辆、信号设备等各组成部分在投入运营前达到设计标准和安全要求，轨道交通测试试验应运而生，并贯穿于轨道交通项目建设的全生命周期，成为保障轨道交通安全、高效运行的关键环节。轨道交通 机车车辆电子装置 GB/T 25119-2010,IEC 60571：2006。

轨道交通测试之交变湿热贮存试验：

（1） 在25℃±3℃、相对湿度75%条件下，贮存2h；在*后1h内，将相对湿度提高至不低于95%，温度仍保持25℃±3℃。

（2） 在3h内由25℃±3℃连续上升到55℃±2℃，*后15min内相对湿度不低于90%外，升温阶段相对湿度都不应低于95%；在55℃±2℃、相对湿度(93±3)%条件下，贮存9h；在3h内，将由55℃±2℃降至25℃±3℃，除*初的15min内不低于90%外，其他时间均不低于95%；在25℃±3℃、相对湿度不低于95%条件下，贮存9h。以上为一个循环，共进行2个循环。 上海天梯检测技术有限公司检测实验室、提供一站式测试服务。上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业

上天梯检测可提供涵盖设计、试验、整改在内的产品全寿命周期可靠性与环境技术服务。上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业

轨道交通综合测试之

静电放电抗扰度测试概述

静电放电抗扰度试验(ESD)的国家标准为GB/T17626.2(等同于国际标准IEC61000-4-2)。

静电放电（ESD)是一种自然现象,经验表明,人在合成纤维的地毯上行走时,通过鞋子与地毯的摩擦,只要行走几步,人体上积累的电荷就可以达到10-6库仑以上(这取决于鞋子与地毯之间的电阻),在这样一个"系统"里(人/地毯/大地)的平均电容约为几十至上百pF,可能产生的电压要达到15kV.研究不同的人体产生的静电放电,会有许多不同的电流脉冲,电流波形的上升时间在100ps至30ns之间.电子工程师们发现,静电放电多发生于人体接触半导体器件的时候,有可能导致数层半导体材料的击穿,产生不可挽回的损坏.静电放电以及紧跟其后的电磁场变化,可能危害电子设备的正常工作。上海TB/T 2760.1-2015轨道交通测试试验行业

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