发明人检查失效的原因，发现读点失效为读“0”失效，并且进一步研究发现闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间有偏移，具体偏移量经测试统计在4μa以内，而且iref1＜iref0，即48小时后iref往电流变小的方向偏移。闪存测试中，若iref＞i，则读出“0”(即闪存读“0”操作时，iref＞i)。闪存判断读“0”的具体操作过程为：将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断。当差值变弱到由读出放大器无法进行识别时，读“0”失效。当htol可靠性验证经过***时间点例如48小时后，由于闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移即iref变小，如此一来，闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值变小，超出读出放大器识别范围，于是读“0”失效。测试发现经48小时闪存参考单元的输出电流iref往电流变小的方向偏移后，进一步做htol测试，闪存参考单元的输出电流iref在第三时间点例如168小时,第四时间点例如500小时,第五时间点例如1000小时测试均不会进一步偏移。上海顶策科技有限公司智能一体化HTOL测试机TH801通过监测数据，可实时发现问题并介入分析，大幅提高效率。智能HTOL测试机参数
3.试验方法标准试验方法备注JESD22-A108F-20171.应力持续时间应符合要求，在必要时进行测量；2.如果制造商提供了验证数据，不需要在偏置下进行冷却。中断偏置1min，不应认为消除了偏置。1.测量所用时间不应纳入器件试验时间；2.偏置指电源对引脚施加的电压。，一般在老化结束96h内进行；2.在消除偏置之前，器件在室温下冷却到稳定状态的10℃以内。如果应力消失，则试验时间延长。GJB548B-2015方法：1.四种标准都保证了器件高温工作时间的完整性。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接：。 智能HTOL测试机参数上海顶策科技提供可靠性测试整体解决方案，包括各类可靠性测试设备，满足各类芯片的测试需求。
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