上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发TH801智能一...
芯片HTOL测试如何做到省力省心?上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可...
导致偏移量发生的原因是在htol可靠性验证过程中闪存参考单元会有空穴丢失,而丢失的空穴是在制作闪存的生产工艺过程中捕获(引入)的,短期内无法消除。而闪存产品从工程样品(es,engineeringsa...
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智能一体化HTOL测试机,可靠性测试整体解决方案,自主研发可实时监控每颗芯片状态的高温老化测试炉,通过监测数据,可以实时发现问题并介入分析,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性。上海顶策科技有限公司,...
集成电路动态老化设备,20年发展历史,自主研发TH801智能一体化HTOL测试机,拥有多项发明专利及软件著作权,可实时发现问题并介入分析,大幅提高HTOL效率。上海顶策科技有限公司,自成立以来已经为超...
高效率HTOL自研设备,高质量HTOL品质保障,低成本HTOL测试方案。上海顶策科技有限公司TH801智能一体化老化测试机,自主研发在线实时单颗监测技术,通过监测数据,可以实时发现问题并介入分析,大幅...
上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案,包括HTOL、LTOL、双85、HAST等可靠性设备,以及测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。自主研发TH801智能一...
高温工作寿命实验(Hightemperatureoperatinglifetest:HTOL)测试目的:芯片处于高温条件下,加入动态信号,并长时间工作,以评估其使用寿命,并确定其可靠性。测...
自有发明专利的智能HTOL系统,自主研发在线实时单颗监测技术,可灵活配置芯片工作状态,并施加信号,非常方便HTOLSetup,实时监测并记录环境温度,以及每颗芯片电压,电流,频率,寄存器状态等数据,确...
芯片HTOL测试如何做到省力省心?上海顶策科技有限公司,提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可...
提供可靠性测试整体解决方案:可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各...