接触探头测量弯曲和难测的表面CP-1-1.3测量平面或球形样品,结实耐用的不锈钢单线圈。CP-1-AR-1.3可以抑制背面反射,对1.5mm厚的基板可抑制96%。钢制单线圈外加PVC涂层,ZUI大可测...
EVG510® HE 热压印系统 应用:高度灵活的热压印系统,用于研发和小批量生产 EVG510® HE 半自动热压印系统设计用于对热塑性基材进行高精度压印。该设备配置有热压印腔室,其...
IQAligner®NT特征:零辅助桥接工具-双基板概念,支持200mm和300mm的生产灵活性吞吐量>200wph(手次打印)间端对准精度:顶侧对准低至250nm背面对准低至500nm宽带强度>12...
F40系列将您的显微镜变成薄膜测量工具F40产品系列用于测量小到1微米的光斑。对大多数显微镜而言,F40能简单地固定在c型转接器上,这样的转接器是显微镜行业标准配件。F40配备的集成彩色摄像机,能够对...
F10-ARc:走在前端以较低的价格现在可以很容易地测量曲面样品,包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层,瑾需其他设备一小部分的的价格就能在几秒内得到精确的色彩读值和反射率测量.您也可选择升级薄膜厚度测量...
F60系列生产环境的自动测绘FilmetricsF60-t系列就像我们的F50产品一样测绘薄膜厚度和折射率,但它增加了许多用于生产环境的功能。这些功能包括凹槽自动检测、自动基准确定、全封闭测量平台、预...
AVI主动隔振台AVI主动隔振系统帮助精密仪器在基础研究、应用研究、生产等方面创造稳定的测量和生产环境。AVI系列可以在非常宽的频率范围内为原子力显微镜、非接触式表面轮廓仪、激光干涉计、微检测设备等提...
TS-140+40结合了久经考验的技术桌越性与优雅且用户友好的设计TS-140+40的隔离始于0.7Hz,超过10Hz后迅速增加至40db缺少低频谐振意味着比大多数常见的被动空气阻尼方法要好得多TS系...
AVI主动隔振台AVI主动隔振系统帮助精密仪器在基础研究、应用研究、生产等方面创造稳定的测量和生产环境。AVI系列可以在非常宽的频率范围内为原子力显微镜、非接触式表面轮廓仪、激光干涉计、微检测设备等提...
1.更换SEM侧面板(如有必要)。检查隔离系统和SEM的所有电缆是否松动连接。检查并确保没有将SEM耦合到地面或其他振动源。2.将电源线插入控制器背面。翻转前面板上的“ON”开关。按红色按钮启用活动隔...
TS-140TS-140结合了久经考验的技术特点与优雅且对用户友好的设计这种中型动态隔振系统非常适合所有需要顶板上空间比TS-150更大的应用。在公制(M6x25mm)或非公制网格上钻孔的顶板可将各种...
TS-150支撑面测试:尽管这些系统几乎可以在任何支撑面上运行,但采用软支撑结构共振放大某些建筑物的振动频率,因此这些振动频率会降低隔离的。您可以通过观察诊断信号来了解支持结构的适用性同时推动支持。此...
桌面必须足够坚硬,以防止两个隔离单元绕其长水平轴相对旋转。蜂窝状垫板或30mm厚的铝板效果蕞好,但可以使用石板甚至实木板。有关连接孔的位置,将电缆连接至隔离装置的两侧。附加装置通常与弟一个装置平行放置...
晶圆缺陷检测设备的成像系统原理主要是基于光学或电学成像原理。光学成像原理是指利用光学原理实现成像。晶圆缺陷检测设备采用了高分辨率的CCD摄像头和多种光学进行成像,通过将光学成像得到的高清晰、高分辨率的...
高精度电容位移传感器是一种用于测量物品位移的传感器,具有高精度、高稳定性和高灵敏度等特点。其工作原理是利用电容元件的变化来测量位移。通过传感器上的电场感应器和移动部件,可以检测到位移,并将位移转换成电...
薄膜应力分析仪的未来发展趋势是什么?1. 多功能化:未来的薄膜应力分析仪将集成更多的功能,如电学、热学、光学等,实现对薄膜材料性能的全方面分析。2. 智能化:未来的薄膜应力分析仪将配备更先进的智能软件...
电阻率测量仪具有哪些应用价值?1. 电子元器件生产:电阻率测量仪可用于对电子元器件的电阻率进行精确测量,这是电子元器件生产过程中必不可少的工具。2. 半导体工艺:电阻率测量仪可以用于半导体工艺过程中的...
电阻率测量仪可以用于检测什么问题?电阻率测量仪主要用于检测物质的电阻率,从而分析物质的性质和特征。1. 材料测试:电阻率测量仪可以用于测试金属、陶瓷、玻璃、塑料等材料的电阻率,从而分析材料的特性、纯度...
薄膜应力分析仪是一种用于测试薄膜应力及其它特性的仪器。它利用光学干涉原理,实现对薄膜层的厚度和应力(含切向应力、法向应力)等参数的测量。薄膜应力测量目前已经被普遍应用于光刻胶、有机光电器件、光纤光学元...
晶圆缺陷检测光学系统是一台高精度的设备,使用时需要注意以下事项:1、操作人员必须受过专业培训,了解设备的使用方法和注意事项。2、在使用前,必须检查设备是否正常工作,例如是否缺少零件、是否需要更换光源等...
薄膜应力分析仪的使用要点:1. 样品制备:样品制备是薄膜应力分析仪测试中非常重要的步骤,必须确保薄膜完全贴附在衬底表面上,没有气泡和杂质存在。2. 仪器操作:正确的仪器操作非常重要,必须严格按照使用说...
薄膜应力分析仪是一种通过测量薄膜在不同工艺条件下的形变而分析薄膜膜层应力状态的仪器。其工作原理主要基于弹性应变理论,测量薄膜在不同状态下的形状改变,根据相关参数计算出薄膜膜层的应力状态。通常,薄膜应力...
晶圆缺陷检测设备的使用有哪些注意事项?晶圆缺陷检测设备是一种非常精密的仪器,使用时需要注意以下几点:1、设备应该放置在干燥、无尘、温度适宜的地方,避免影响设备的正常运行。2、在使用设备前应该认真阅读使...
薄膜应力分析仪的未来发展趋势是什么?1. 多功能化:未来的薄膜应力分析仪将集成更多的功能,如电学、热学、光学等,实现对薄膜材料性能的全方面分析。2. 智能化:未来的薄膜应力分析仪将配备更先进的智能软件...
晶圆缺陷检测光学系统具有如下优势:1、高精度:光学系统可以精确检测到微小的缺陷,如尺寸为几微米的缺陷,从而提高产品质量和稳定性。2、高效率:光学系统可以对整个晶圆进行快速检测,大幅提高生产效率。3、可...
电阻率测量仪由哪些结构组成?1. 探头或电极:电阻率测量仪的探头或电极是负责接触被测样品的部件,通常与测试物品相连,以便其测量电阻率变化。2. 仪表或显示器:电阻率测量仪的仪表或显示器是控制测量参数和...
电阻率测量仪如何选购?需要注意哪些?1.应用领域:在进行选择时,首先要确认要测试的材料类型以及应用领域,这是选择电阻率测量仪的关键。例如,如果需要测试塑料或橡胶等绝缘材料的电阻率,则需要选择一个专门用...
市场上常见的晶圆缺陷检测设备主要包括以下几种:1、光学缺陷检测系统:通过光学成像技术对晶圆进行表面缺陷检测,一般分为高速和高分辨率两种。2、电学缺陷检测系统:通过电学探针对晶圆内部进行缺陷检测,可以检...
高精度电容位移传感器特点:高精度电容位移传感器是一种非接触电容式原理的精密测量仪器。1.使用优于纳米级别的分辨率,应用在高精度的测量;2.往优越的温度稳定性;3.多种类的高精度的电容式传感器;4.单独...
Microsense的高精度电容式位移传感器具有一般非接触式仪器所共有的非接触式特点外,还具有信噪比高,灵敏度高,零漂小,频响宽,非线性小,精度稳定性好,抗电磁干扰能力强和使用操作方便等优点。在国内研...