产品中心
针对先进封装中3D堆叠结构的检测需求，超声扫描显微镜（SAM）结合太赫兹波谱技术，实现穿透多层结构的无损分析。例如，在TSV（硅通...
超声检测技术通过B扫描（沿一维扫描生成二维截面图像）和C扫描（固定深度生成二维平面图像）模式，实现缺陷可视化。以12英寸晶圆检测为...
超声波扫描显微镜在陶瓷基板材料性能评估中，提供了微观结构分析的新手段。陶瓷材料的晶粒尺寸、晶界状态等微观结构直接影响其热导率、机械...
无损检测技术的AI赋能提升了陶瓷基板缺陷识别的智能化水平。传统超声检测依赖人工判图，效率低且易漏检。新一代超声扫描显微镜集成深度学...
B-Scan超声显微镜的二维成像机制：B-Scan模式通过垂直截面扫描生成二维声学图像，其原理是将不同深度的反射波振幅转换为亮度信...
无损检测仪的选型与使用：无损检测仪是无损检测过程中必不可少的设备之一。选型合适的无损检测仪对于确保检测结果的准确性和可靠性至关重要...
半导体超声显微镜是专为半导体制造全流程设计的检测设备，其首要适配性要求是兼容 12 英寸（当前主流）晶圆的检测需求，同时具备全流程...
杭州芯纪源半导体设备有限公司成立于2024年6月，是一家从事半导体检测设备为主，公司产品主要采用声学、光学、等原理结合关键的AI算法，对半导体晶圆片、电子封装器件、大功率IGBTSMT贴片器件、焊接部件、陶瓷基板、复合材料等的内部、外观、进行无损检测、探伤、分析等。
查看更多