晶圆搬送机采用轻量化设计，在保证设备结构刚性与性能的前提下，大幅减轻了设备重量，提升了设备的灵活性与机动性。设备的机身、机械臂等主要结构部件采用了铝合金、碳纤维等轻量化材料，相比传统钢材重量减轻了 3...

半导体研磨液的品质会影响晶圆抛光效果，不同批次研磨液成分略有差异，可结合水滴角完成来料抽检。研磨液中的添加剂、颗粒物配比，不*决定抛光平整度，还会在晶圆表面形成残留，改变润湿状态。新批次研磨液入库前，...

半导体合金靶材用于薄膜溅射工艺，靶材表面状态影响溅射薄膜品质，水滴角可辅助完成靶材预处理检测。溅射过程中，靶材原子脱离表面沉积到晶圆上，若靶材表面存在氧化、油污，杂质会一同进入薄膜内部。靶材上线使用前...

多层 PCB 是半导体电子设备（如服务器、芯片测试设备）的部件，由多层导电线路与绝缘层压合而成，微孔（孔径小于 0.2mm）用于层间电气连接，微孔尺寸精度、位置度、内壁完整性直接影响层间导通可靠性，影...

半导体行业检测人员需快速上手设备、高效完成批量检测工作，影像仪凭借人性化操作界面、简单编程流程、一键式操作功能，具备极强的操作便捷性，无需专业技术背景，普通操作人员经简单培训（1-2 天）即可熟练操作...

设备适配半导体超薄基材的厚度检测作业场景。随着半导体器件小型化发展，超薄晶圆、超薄基板等基材应用愈发，这类基材厚度极薄、韧性较低，接触式检测的按压动作极易造成基材弯折、破损。非接触式测厚仪无物理接触的...

针对异形结构工件检测，非接触式测厚仪优势优于传统接触式设备。接触式测厚设备的检测探头为固定结构，能适配平整、规则的平面工件，面对曲面、圆弧、凹凸异形结构，探头无法贴合检测面，会形成大量检测盲区，难以完...

非接触式测厚仪相较于接触式设备，对高温工件检测场景适配性更强。半导体回流焊、高温沉积、退火等工序后的工件表层留存高温余热，接触式设备的金属探头接触高温工件后，容易出现热胀冷缩形变，加速配件老化损耗，同...

设备可适配半导体异形结构工件的厚度检测。随着半导体器件品类不断丰富，各类特种半导体器件逐步普及，这类器件多具备异形曲面、圆弧端面、不规则凹凸结构，传统平面检测设备的检测光路固定，存在大量检测盲区，无法...

PCB 电路板作为电子设备的 “神经网络”，其制造精度直接影响电子设备的性能与可靠性，影像仪成为 PCB 电路板全流程检测的设备。在 PCB 制板环节，影像仪检测覆铜板的铜箔厚度、线路宽度、线间距，确...

在批量硅片生产的质量筛选中，非接触式多通道测厚方案较接触式、电容式测厚仪实现效率翻倍。接触式测厚仪单次能测量 1 片晶圆，批量检测时需人工上下料，每小时能处理＜100 片；电容式测厚仪虽支持自动上下料...

非接触式晶圆检测机搭载光谱共焦探头时，成为硅片厚度测量的设备，其原理基于 “颜色编码距离” 的创新逻辑：宽光谱白光经色散镜头后，不同波长光聚焦于光轴不同位置，晶圆表面精细聚焦的波长会以比较度反射回光谱...