温控探针台的功能特点：1、可编程精密控温。可单独控制，也可从上位机软件控制；2、探针需开盖移动，样品台面电接地；3、探针分别导通冷热台外壳上的4个BNC接口；4、杠杆式探针支架，点针力度更大，电接触性更好；5、弯针探针，点针更精确；6、默认气密腔室，通问2个快速自锁接头，可充保护气体；7、上盖带有样品观察窗；8、台体内置干燥气体管道，用于负温时对视窗的除霜；9、视窗可拆卸与更换，可用不同材质窗片实现不同波段光观察；10、软件可拓展性强，可提供LabView等语言的SDK；探针台的观测和研究任务需要具备高水平的科研和管理人才。大型探针台定制价格
承片台结构设计要具有实现自动对准的兹 向 旋转，兹 向旋转的分度精度要求非常高，在150 mm (6 英寸)晶圆上的分度精度要臆0.05° ；为了实现与探针的紧密接触稳定地抬升、有效地达到接触 位置的精度，抬升机构的进给精度要高，同时承片 台要具备极高的刚性，而且在150 mm 的台面上 刚度一致是非常重要的。通过在Z 轴方向的往复 移动，实现高刚性、稳定的探针接触。承片台旋转结构在设计上采用THK 超精密 交叉滚柱轴环RB 型（外圈分隔，内环旋转）支撑 旋转。在交叉滚柱轴环中，因圆柱形滚柱在呈 90° 的V 形沟槽滚动面上通过间隔保持器被相互垂直排列。使得单个轴承就可承受径向、轴向及 力矩负荷等所有方向的负荷，具有很高的刚性。又 由于内圈或外圈是分隔的构造，轴承间隙可调整。大型探针台定制价格探针台可以促进人类文明的发展和太空探索的进程。
探针台(Prober station)又称探针测试台，主要用途是为半导体芯片的电参数测试提供一个测试平台，探针台可吸附多种规格芯片，并提供多个可调测试针以及探针座，配合测量仪器可完成集成电路的电压、电流、电阻以及电容电压特性曲线等参数检测。适用于对芯片进行科研分析，抽查测试等用途。探针台主要应用于半导体行业以及光电行业得研发，生产制造，失效分析等，是对晶圆(Wafer)上得器件进行电特性测试或故障分析而使用得精密机台，通过探针台能很好得帮助工程技术人员实现微小位置得电学参数测试。
探针台由哪些部分组成？样品台（载物台）：是定位晶圆或芯片的部件设备。通常会根据晶圆的尺寸来设计大小，并配套了相应的精密移动定位功能。光学元件：这个部件的作用使得用户能够从视觉上放大观察待测物，以便精确地将探针先进对准并放置在待测晶圆/芯片的测量点上。有的采用立体变焦显微镜，有的采用数码相机，或者两者兼有。探针（探针卡）：待测芯片需要测试探针的连接，才能与测试仪器建立连接。常见的有普通 DC 测试探针、同轴DC测试探针、有源探针和微波探针等。探针头插入单个探针臂并安装在操纵器上。探针先进尺寸和材料取决于被探测特征的尺寸和所需的测量类型。探针尖直接接触被测件，探针臂应与探针尖匹配。探针台能够帮助科学家解决在太空探索过程中的技术难题。
配置您的探针台，从这些探针台基础知识开始，您应该就您的测试要求提出一些问题，这些问题将允许您指定您的探针台所需的选项：您需要什么级别的自动化？您的测试将如何影响所选探针？您是否需要控制设备周围的温度和当地环境？您需要光刺激还是磁刺激？您正在探测什么尺寸的特征？您将如何联系被测设备？探针台主要应用于半导体行业、光电行业、集成电路以及封装的测试。 普遍应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。探针台能够观测到宇宙的细微之处，为人类探索宇宙提供了重要的线索。河北高精度探针台
探针台的建设需要对宇宙环境综合思考，并有针对性解决相关科技难题。大型探针台定制价格
探针台特性1:装载部件，令客户满意的测试环境，可以提供从前部开始的通常的8"，12"及基本检查单元。也为自动物料输送系统应用做好了准备。特性2:TTG(一点即到)，更加方便的操作，UF3000采用在显示屏上点一下，相关的屏幕就会切换到新的位置显示。相关的设定十分方便。屏幕的显示模式也可以由客户自行定义。晶圆测试的方式主要是通过测试机和探针台的联动，在测试过程中，测试机台并不能直接对待测晶圆进行量测，而是透过探针卡（Probe Card）中的探针（Probe）与晶圆上的焊垫（Pad）或凸块（Bump）接触而构成电性接触。大型探针台定制价格