ASONE亚速旺加热板GEC-7050

    本发明具如下有益于效用：通过将轴对称改成中心对称、将ω形状的加热板中心改成单独分体或封闭环形的构造，以及合理配置留置区和电压位置的安装，化解了传统加热板的构造的缺点，提高了采用的稳定性，增加了加热板的寿命。附图说明图1为传统加热片的构造示意图；图2为传统加热片的一种损坏方法；图3为传统加热片的另一个损坏方法；图4为本发明的一种加热板构造；图5为本发明的另一种加热板构造。图中，o中心点、1热弧板、2半圆形热片、21拐点、22空隙、3左电极、4右电极、5热环、6***加热片、60***热弧片、61***迂回端、7第二加热片、70第二热弧片、71第二迂回端、8留置区、91***电极、92第二电极。实际实施方法下面结合附图和实际实施例对本发明作更进一步详尽解释。为了化解现有技术存在的三个技术疑问，本发明提供一种加热板，包括，数目为偶数的若干组加热片。在实际使用中，偶数组加热片需将加热片分为两组，每组并联着分别联接到电源的两极。一般，还可以将加热片的数目设成4组或6组等，虽然分组越多，越易于致使加热的不平稳，但是对于需加热的较大面积，可以通过多组加热片实现延长加热片的寿命。所有加热片均为中心对称布置。传统加热板留置区分配不合理引致加热不平衡，也易于引致局部变形等疑问。ASONE亚速旺加热板GEC-7050

    晶圆加热装置的制作方法文档序号：30596935发布日期：2022-07-0120:52阅读：35来源：国知局导航：X技术>*****>电气元件制品的制造及其应用技术1.本技术属于晶圆加工技术领域，尤其涉及一种晶圆加热装置。背景技术：2.目前，常用的晶圆加热设备的加热丝呈螺旋状从中心向**旋转，加热丝在热盘中的分布不够均匀，无法达到均匀加热的目的，无法满足晶圆的高精度加热要求，而高精度加热对半导体工艺至关重要。3.另外，在晶圆加热前需要先行对晶圆进行定位，在先技术中通常通过真空吸盘定位，但现有的真空吸盘对晶圆的吸附力通常不够均匀，晶圆和真空吸盘间的间隙存在差异，这也会导致晶圆加热不均匀，导致无法满足晶圆加热的精度要求。技术实现要素：4.针对上述问题，本技术提供了一种晶圆加热装置，至少解决了在先技术中真空吸盘吸附力不均匀、晶圆加热不均匀的问题。5.本技术实施例提供一种晶圆加热装置，包括：6.基座；7.真空吸盘，设于所述基座上且用于吸附工件，所述真空吸盘上设有进气孔与气路，所述气路包括若干同心设置的环形气路以及沿若干沿所述真空吸盘的径向延伸的径向气路，每个所述径向气路与各所述环形气路均连通。

PA10005-PCC10A加热板经销晶圆加热盘一般是用于承载、加热晶圆的圆盘，所以也有人称它为晶圆加热器。

    本发明半导体加工领域，尤其涉及一种晶圆加热器。背景技术：现有的晶圆加热设备，加热丝呈螺旋状从中心向**旋转，加热丝在热盘中的分布不够均匀，无法达到均匀加热的目的，无法满足晶圆的高精度加热，而高精度加热对半导体的工艺至关重要。如中国发明专利cna所公开的一种能够提高照射效率的加热器。实施方式所涉及的加热器具备发光管、发热体及反射膜。发光管呈筒状，且所述发光管透光。发热体设置在发光管的内部，且发热体以碳作为主要成分。反射膜设置在发光管的外周面，并对光进行反射。上述现有技术的晶圆加热器无法恒温的均匀加热。技术实现要素：一、要解决的技术问题本发明的目的是针对现有技术所存在的上述问题，特提供一种晶圆加热器，解决现有加热器无法恒温的均匀加热的问题。二、技术方案为解决上述技术问题，本发明提供一种晶圆加热器，包括：加热盘、底板和若干垫柱；加热盘上设有七个加热区域，分别为***加热区域、第二加热区域、第三加热区域、第四加热区域、第五加热区域、第六加热区域和第七加热区域；***加热区域设置于中心区域，第二加热区域和第三加热区域设置于***加热区域外圆周。

    碳和沙石中的二氧化硅进行化学反应（碳与氧结合，剩下硅），得到纯度约为98%的纯硅，又称作冶金级硅，这对微电子器件来说不够纯，因为半导体材料的电学特性对杂质的浓度非常敏感，因此对冶金级硅进行进一步提纯：将粉碎的冶金级硅与气态的氯化氢进行氯化反应，生成液态的硅烷，然后通过蒸馏和化学还原工艺，得到了高纯度的多晶硅，其纯度高达99.%，成为电子级硅。接下来是单晶硅生长，**常用的方法叫直拉法（CZ法）。如下图所示，高纯度的多晶硅放在石英坩埚中，并用外面围绕着的石墨加热器不断加热，温度维持在大约1400℃，炉中的气体通常是惰性气体，使多晶硅熔化，同时又不会产生不需要的化学反应。为了形成单晶硅，还需要控制晶体的方向：坩埚带着多晶硅熔化物在旋转，把一颗籽晶浸入其中，并且由拉制棒带着籽晶作反方向旋转，同时慢慢地、垂直地由硅熔化物中向上拉出。熔化的多晶硅会粘在籽晶的底端，按籽晶晶格排列的方向不断地生长上去。因此所生长的晶体的方向性是由籽晶所决定的，在其被拉出和冷却后就生长成了与籽晶内部晶格方向相同的单晶硅棒。用直拉法生长后，单晶棒将按适当的尺寸进行切割，然后进行研磨，将凹凸的切痕磨掉。硅片划片方法主要有金刚石砂轮划片、激光划片。

    硅片划片方法主要有金刚石砂轮划片、激光划片。激光划片是利用高能激光束聚焦产生的高温使照射局部范围内的硅材料瞬间气化，完成硅片分离，但高温会使切缝周围产生热应力，导致硅片边缘崩裂，且只适合薄晶圆的划片。超薄金刚石砂轮划片，由于划切产生的切削力小，且划切成本低，是应用*****的划片工艺。由于硅片的脆硬特性，划片过程容易产生崩边、微裂纹、分层等缺陷，直接影响硅片的机械性能。同时，由于硅片硬度高、韧性低、导热系数低，划片过程产生的摩擦热难于快速传导出去，易造成刀片中的金刚石颗粒碳化及热破裂，使刀具磨损严重，严重影响划切质量[2]。晶圆制造工艺编辑晶圆表面清洗晶圆表面附着大约2μm的Al2O3和甘油混合液保护层,在制作前必须进行化学刻蚀和表面清洗。晶圆初次氧化由热氧化法生成SiO2缓冲层，用来减小后续中Si3N4对晶圆的应力氧化技术：干法氧化Si(固)+O2àSiO2(固)和湿法氧化Si(固)+2H2OàSiO2(固)+2H2。干法氧化通常用来形成，栅极二氧化硅膜，要求薄，界面能级和固定晶圆电荷密度低的薄膜。干法氧化成膜速度慢于湿法。湿法氧化通常用来形成作为器件隔离用的比较厚的二氧化硅膜。当SiO2膜较薄时，膜厚与时间成正比。SiO2膜变厚时。在测试过程中，每一个芯片的电性能力和电路机能都被检测到。MSA FACTORYPA9005-PCC10A加热板价格

外筒体4顶端与中心加热筒2顶端位于同一平面。ASONE亚速旺加热板GEC-7050

    为了保证测控精度，采用红外线温度测控模块作为温度测控模块。图1是本发明实施例的结构原理示意图；图2是未采用本发明技术方案的温度与时间关系示意图；图3为采用本发明技术方案的温度与时间关系示意图。具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明技术方案进一步说明如图1、图2和图3所示，本发明提供一种精确控温的高频加热装置，包括有对物件进行升温的高频机1，监测物件温度并反馈正比电压信号的美国雷泰红外线温度测控模块2和接收电压信号并控制高频机输出功率的信号调理模块3.采用上述精确控温高频加热装置的方法，包括如下步骤第一步，开始高频加热，高频机1满负荷加热升温，美国雷泰红外线温度测控模块2监测物件温度，当物件温度距目标温度80120°C时，改为动态功率加热；第二步，美国雷泰红外线温度测控模块2根据不同温度，反馈与温度成正比的电压值，信号调理模块3根据电压值的大小反比例调节高频机1的功率输出，使其越接近目标温度，输出功率越小；第三步，信号调理模块3动态调节高频机1的功率输出，物件温度保持在目标温度值的士5°C的范围内。本申请人在未采用上述高频加热温度控制装置及方法时，连续生产过程中测试分析数据。ASONE亚速旺加热板GEC-7050

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