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江苏SIR表面绝缘电阻测试系统

来源: 发布时间:2024年01月14日

电阻测试配件的稳定性也是一个重要的考虑因素。稳定的测试配件可以保证测试结果的一致性,减少误差的发生。不同的电子产品对电阻测试配件的要求不同,因此需要根据实际需求选择适用范围的配件。一般来说,具有多种电阻值可选的配件更加灵活和实用。选择品牌的电阻测试配件可以保证其质量和售后服务。品牌通常具有丰富的经验和技术,能够提供高质量的产品和专业的技术支持。电阻测试配件是电子行业中不可或缺的测试工具,它的准确性和稳定性对于电子产品的制造和维修至关重要。在选择电阻测试配件时,需要考虑准确性、稳定性、适用范围和品牌信誉等因素。只有选择合适的配件,才能保证电子产品的质量和性能。智能电阻可以在更宽广的领域中应用,比如自动化控制系统、电力系统和通信系统等。江苏SIR表面绝缘电阻测试系统

电阻测试

智能电阻具有更高的精度和稳定性。传统的电阻测试仪器往往受到环境因素的影响,导致测试结果的不准确。而智能电阻通过内置的智能芯片和传感器,可以实时监测环境温度、湿度等因素,并自动进行校准,从而提高测试的精度和稳定性。这将提高电子产品的质量和可靠性,满足市场对产品的需求。智能电阻具有更高的自动化程度。传统的电阻测试需要人工操作,耗时耗力且容易出错。而智能电阻可以通过与测试设备的连接,实现自动化测试。只需设置测试参数,智能电阻就能自动完成测试,并将测试结果传输给设备或计算机进行分析。这不仅提高了测试的效率,还减少了人为因素对测试结果的影响,提高了测试的准确性。江西CAF电阻测试监测模块:状态、数据曲线、测试配置、增加测试、预警。

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1、保持测试样品无污染,做好标记,用无污染手套移动样品。做好预先准备,防止短路和开路。清洁后连接导线,连接后再清洁。烘干,在105±2℃下烘烤6小时。进行预处理,在中立环境下,保持23±2℃和50±5%的相对湿度至少24h。2、在该测试方法中相对湿度的严格控制是关键性的。5%的相对湿度偏差会造成电阻量测结果有0.5到1.0decade的偏差。在有偏置电压加载的情况下,一旦水凝结在测试样品表面,有可能会造成表面树枝状晶体的失效。当某些烤箱的空气循环是从后到前的时候,也可能发现水分。凝结在冷凝器窗口上的水有可能形成非常细小的水滴**终掉落在样品表面上。这样可能造成树枝状晶体的生长。这样的情况必须被排除,确保能够得到有意义的测试结果。虽然环境试验箱被要求能够提供并记录温度为65±2℃或85±2℃、相对湿度为87+3/-2%RH的环境,其相对湿度的波动时间越短越好,不允许超过5分钟。

广州维柯信息技术有限公司多通道SIR/CAF实时监控测试系统测量电流的设定:使用低阻SIR系统测样品导通性时可以设置测量电流范围0.1A~5A。使用高阻CAF系统测样品电阻时测量电流是不用设置,需设置测量电压,因为仪器恒压工作测量漏电流,用欧姆定理计算电阻值。电阻值的测定时间可设定范围是:CAF系统的单次取值电阻测定时间范围1-600分钟可设置,单次取值电阻测定电压稳定时间范围1-600秒可设置,完成多次取值电阻测定时间1-9999小时可设置。电阻测试范围1x104 -1 x1014 Ω,电阻测量精度:1x104 -1x1010Ω≤±2%, 1x1010 -1x1011Ω≤±5%1x1011 -1x1014Ω≤±20%HAST是High Accelerated Stress Test,是加速高温高湿偏压应力测试,是通过对样品施加高温高压高湿应力。

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离子迁移(ECM/SIR/CAF)的要因分析与解决方案从材料方面:树脂与玻纤纱束之间结合力不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;填充空洞或树脂奶油层不足;解决方案:优化CCL制作参数;选择抗分层的材料;树脂吸温性差;解决方案:胶片与基板中的硬化剂由Dicy改为PN以减少吸水;树脂与玻纤清洁度差(含离子成份);解决方案:使用Anti-CAF的材料;铜箔铜芽较长,易造成离子迁移;解决方案:选用Lowprofilecopperfoil;多大电阻测试设备比较复杂。湖南CAF电阻测试分析

其中作为阳极的一方发生离子化并在电场作用下通过绝缘体向另一边的金属(阴极)迁移。江苏SIR表面绝缘电阻测试系统

   定义CAF又称导电性阳极丝,是指印刷电路板电极间由于吸湿作用,吸附水分后加入电场金属离子沿玻纤纱从一金属电极向另一金属电极移动时,分析出金属与化合物的现象。CAF现象会导致绝缘层劣化。背景当前,无论是多层板的层数还是通孔的孔径,无论是布线宽度还是线距,都趋于细微化。由于绝缘距离的缩短以及电子设备便携化的影响,导致电路板容易发生吸湿现象,进而发生离子迁移。同时,当电路板发生离子迁移后,短时间内极易产生故障。待测PCB其正负两极间绝缘距离之规格分别为:两通孔铜壁间的距离为(26mil)孔铜壁到内层**近铜导体的距离为()孔环到外层**近导体的距离为()。 江苏SIR表面绝缘电阻测试系统