VX1bus仪器系统-虚拟仪器系统,VXIbus仪器系统是一种标准总线式模块仪器系统,一般由微机、VXIbus模块和 VXTbus 机箱组成。若干仪器模块插入 VXTbus 机箱,便构成了 VXIbus 仪器系统。VXIbus仪器系统是一个微机、软件技术和测量系统的有机结合体,在VXIbus仪器系统中,高性能的微机处于主要地位,传统仪器的某些硬件乃至整个仪器都被计算机软件所代替,为指挥微机化仪器及其系统工作。VXIbus仪器及其系统和PC仪器、IEEE-488仪器及测试系统一起,已在超大规模集成电路测试、通信及测试、模拟电路/数字电路测试、现代家用电器测试、印制板电路/混合信号电路测试、电子元件/电力电子器件测试以及官方、航天、生物医学、TI测试、电工技术领域等的可移动式现场测试工作中得到普遍的应用。功能测试系统能够及时发现和解决产品功能性问题。常州单元测试系统方案
电路类型主要包括:差分测量电流,在差分测量系统中,信号输入端的两极分别与两个不同的模拟输入(简称模入)端相连接,并通过多路开关(MUX)分别连接到仪用放大(简称仪放)的正负极上。一个8通道的差分测量系统如图1所示,其中仪用放大器通过多路开关进行通道转换。标有AIGND(模拟输入地)的引脚为测量系统的地。参考地单端测量电流,在参考地单端RSE(Referenced Single Ended)测量系统中,被测量信号一端接模拟输入通道,另一端接系统地(AIGND)。无参考地单端测量电路,无参考地单端测量系统(NRSE)中一端接模拟输入通道,另一端接公用参考端,但这个参考端电压相对于测量系统的地来说是不断变化的。常州单元测试系统方案静动态测试:分别针对电子设备在静止和运动状态下的性能进行检测。
治具,常规的治具设计,大多采用双载板平衡杆和针板平衡杆。在测试过程中压板下压时,如果压板、载板、针板固定不佳,容易产生晃动,从而使UUT产生翘边变形,进行而导致测试针和测试点接触不良或者位置偏移,使得测试针弯曲变形引起误测甚至导致UUT裂损。上述情况的发生,尤其是在UUT的厚度发生较大变化时更容易产生。治具定位原理,根据电路板的不同, 可采用以下几种定位方式根据工件的不同情况。1、以外缘轮廓定位,对于面积尺寸较小而且外廓一致性较好的电路板,可采用外轮廓定位方式。长边用定位板,限制2个自由度;短边用定位针,限制1个自由度。在另一短边,还可以增加1只定位针,形成所谓的约束性过定位。这种方式中,两根定位柱所限位的尺寸应比UUT尺寸略大,在0.3mm~0.5mm即可。虽然由于此间隙的存在,定位精度会略有降低,但操作方便、制造简单。2、以“边/孔”定位,对于面积尺寸较大的电路板,可以采用“边/孔”定位,这也属于约束性过定位的一种。定位板限制2个自由度,定位柱限制2个自由度。这种形式中,通常定位柱和UUT定位孔的间隙需要留的更大一些。
ICT测试要做到故障定位准、测试稳定,与电路和PCB设计有很大关系。原则上我们要求每一个电路网络点都有测试点。电路设计要做到各个器件的状态进行隔离后,可互不影响。对边界扫描、Nand-Tree的设计要安装可测性要求。为了确保对电路板上的器件进行功能测试,就必须强制驱动器件的逻辑电平,各脚驱动器必须能够吸收或输出足够的电流。根据国际防护标准文件(00-53/1)所推荐的后驱动安全标准,测试仪的较大驱动电流被设计为240mA,测试时间在200ms以内。通过实验,基本能够较好地对被测器件进行隔离,同时也确保了被测器件的安全性。PCB测试:对印刷电路板(PCB)进行电气性能、可靠性等方面的检测。
系统介绍,各类电子产品的实装电路板(PCBA)在批量生产过程中,设备状态和人为操作因素都可能引入缺陷,因此要求在生产中加入各种测试设备和测试工具,以保证所有出厂的实装电路板符合设计的规格和参数。因此,对PCBA要求进行ICT、AOI、FCT等各种测试和检测。组成,功能测试系统FCT 是指采用测控计算机(TCC)实现自动化测试的系统,通常建立在标准的测控总线或仪器总线如GPIB、PXI 的基础上,从结构组成来看,FCT自动测试系统一般由测控计算机、测试软件、测试电路、测试针床、机械传动等部分组成。功能测试系统的发展将不断推动电子行业的进步与发展。测试系统定制
电路板功能测试系统用于检测电路板的各项功能。常州单元测试系统方案
PCBA通用型自动化测试系统优越性,测试速度提高5-10倍,为企业带来经济效益,缩减工位。整机测试环境下测试,所以不介入被测产品的技术主要内幕。免去所有人为因素,所以判断更为准确、可靠。特殊I/O及夹具构造,转Model不需拆焊或再焊连接线,一次连线长久使用,提高转Model的效率。人性化编程环境,电子技术人员只需4个小时,可完全学会测试程序的编程及优化。统计报表功能随时查阅产量及品质状况。远程控制功能。管理层权限设置功能。条码扫描、打印功能。常州单元测试系统方案