参考标准 IEC 60068-2-14 试验方法 N:温度变化中的 Nc。实现方式为吊篮式,将产品放置在吊篮中按照要求浸入不同的温度液体中。则适用于玻璃-金属密封及类似产品,因此电器产品中不予考核该项目。IEC 60068-2-14,Na 以及 ISO 16750-4 5.3.2 冷热冲击试验中推荐的循环数为 5,实际应用中过少,推荐使用表 3 参数。IEC 60068-2-14、ISO 16750-4 、MIL-STD-810F 及 GJB150 中对于冷热冲击的要求循环数都为 5 个循环以内。该三类标准对此试验的定义为:确定装备能否经受其周围大气温度的急剧变化,而不产生物理损坏或性能下降,模拟的情况为:产品的航空运输、航空下投以及其它产品从不同温度区域转移的情况。对于汽车类产品,执行此标准时,因为我们考核的模拟情况不一样,故参数需要进行变动,主要变动参数为:循环数增加(因应用到汽车电器产品中为加速老化试验,故其循环数一般超过 100)。早期检测可减少批量生产后的召回风险,例如某汽车电子厂商通过CAF测试优化基材选择后,将故障率降低60%。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试服务
目前5G+乃至未来毫米波通讯市场上,**高频高速PCB的制造趋势依然是多层化、高密度化以及小型化。正如祝大同老师前两年在文章《论高频高速覆铜板发展的新发展趋势》中提到:降低电路的尺寸,减小基站体积、装置小型化,射频和数字信号集成化、基板多层化等设计新特点,对基板材料提出了高导热的需求。热固性高频高速覆铜板若进军高频电路基板的市场,特别是在高频性多层板市场中去替代PTFE基材,就需要赋予它高导热性功能。这已经是热固性高频高速覆铜板在功能扩大、解决基材导热技术上,所面临的新课题。当然,除了导热率之外,选择薄型的基材,合适的铜箔表面粗糙度、低损耗因子等材料特性也都有利于降低毫米波频段下电路的发热情况。但是,提升基板导热率是**直接有效的办法。 海南表面绝缘电阻测试服务此外,金属薄膜沉积不均匀(工艺固有缺陷)是电迁移发生的根本诱因。

必须重视和加快发展元器件的可靠性分析工作,通过分析确定失效机理,找出失效原因,反馈给设计、制造和使用,共同研究和实施纠正措施,提高电子元器件的可靠性。电子元器件失效分析的目的是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辨其失效模式和失效机理,确认结果的失效原因,提出改进设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件可靠性。电迁移的发生不仅同离子有关,它需要离子,电压差,导体,传输通道,湿气以及温度等各种因素综合作用,在长期累积下产生的失效。所以,通过在样品上施加各类综合应力来评估产品后期使用的电迁移风险就显得异常重要。
《优化清洗工艺的智慧眼:GWHR256系统在PCBA清洗中的应用》在PCBA的清洗工艺中,确保污染物得到有效处理,是提升产品可靠性的关键一环。广州维柯的GWHR256系统以其独特的监测能力,成为优化清洗工艺的得力助手。系统能够实时追踪清洗前后阻抗的变化,直观反映清洗效果,指导企业选择**合适的清洗剂和工艺参数,减少有机酸焊剂、松香等残留物对PCBA性能的影响。【智能评估,精确指导】通过精细的电阻测量,系统能够精确到1x106至1x1014Ω的范围,确保即使是**微弱的阻抗变化也不被遗漏。这一功能对于评估清洗后PCBA的清洁度至关重要,特别是在要求严苛的航天、医疗和***领域,任何细微的残留都可能成为故障的源头。GWHR256系统通过提供准确的数据分析,帮助制造商优化清洗流程,确保产品在恶劣环境下的稳定运行。维柯产品: 提供高达5KV的 测试电压。 国外同行: 测试电压以低电 压为主 , 高电压不到3KV。

作为电子可靠性测试领域的技术先锋,维柯科技深耕SIR/CAF绝缘电阻测试与TCT低阻测试领域逾十年,以“全场景覆盖、全精度适配”的产品矩阵,为半导体、PCB、新能源等行业提供一站式测控解决方案。m作为国内首批自主研发SIR/CAF绝缘电阻测试系统的企业,我们以12年技术积淀打造全自主知识产权产品。**模块采用**恒压源与超微型电流表设计,单通道**控制,精细捕捉1pA级电流信号,电阻测量范围覆盖1×10⁶Ω至1×10¹⁴Ω,精度比较高达±2%(1×10⁶-1×10⁹Ω区间)。模块化架构支持16通道/模块灵活扩展,单模块故障*需替换,不影响其他通道运行,搭配多任务并发测试功能,可在25天长期测试中同步启动新任务,效率提升300%。数据实时存储、曲线可视化及失效智能提醒,为**电子可靠性测试提供全流程保障。 配置 16 台多通道 SIR/CAF 测试系统,实现 4000 + 通道同时量测,绝缘电阻精度达飞安级。江苏国内电阻测试发展
通过模拟极端环境,提前暴露潜在失效风险。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试服务
在精密电子制造业的舞台上,每一块PCBA(印刷电路板组装)的质量都是产品性能与寿命的基石。随着技术的飞速发展,PCBA的复杂度与集成度不断提升,如何有效控制生产过程中产生的污染物,确保电路板的长期可靠性,成为行业共同面临的挑战。广州维柯推出的GWHR256-500多通道SIR/CAF实时离子迁移监测系统,正是这一挑战的解决方案。【深度洞察,精确监测】GWHR256系统遵循IPC-TM-650标准,专为PCBA的可靠性评估而设计,它能够实时监控SIR(表面绝缘电阻)和CAF(导电阳极丝)的变化,精确捕捉哪怕是微小的离子迁移现象。这意味着在焊剂残留、有机酸盐类、松香等污染物可能导致的电性能退化之前,该系统就能预警,为制造商提供宝贵的数据支持,及时调整清洗工艺,避免潜在的失效风险。广州SIR和CAF表面绝缘电阻测试服务