STIL光学传感器为全球各个行业提供更好的质量控制,我们的产品系列适合于各种应用,为更高的质量标准提供可靠的控制和检测。1995年推出点光谱共焦传感器,2005年创新推出线光谱共焦传感器,2015出现线光谱共焦相机,通过持续创新,2025年将推出适用于工业4.0智能解决方案。在严苛的工业环境下客户要求速度、精度、质量和安全满足的同时,也要求减少对环境的影响和降低成本,这正是STIL传感器产品系列具有的优势。适用于任何材料同轴共焦原理兼容任何折射,同轴共焦原理,易于工业集成,大角度测量,符合ISO25178-602标准。光谱共焦的特点:1.共焦对环境光不敏感可过滤杂波;2.彩色光谱在测量范围内形成彩色光谱,各种景深3.光谱仪通过嵌入式光谱仪对反射或漫反射进行光谱分析,快速并精确4.同轴同轴光学设计,无阴影影响。可靠、精确、超高分辨率的尺寸测量;高速在线解决方案;适用各种材料和环境;优于传统测量方案的其他特性,如:大角度测量,亚微米级精度,测量多层厚度。光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,用户的信赖之选,欢迎您的来电哦!黑龙江3D 视觉测量传感器厂家

在具体测量过程,需保证光强和量程预警指示灯为绿色,则测量的数据质量好,重复性精度高。如遇到橙色或红色显示,则需要根据上述方法调整传感器的状态。如尝尽上述方法都未能解决问题,请及时联系我们说的售后工程师,我们将帮助您解决该问题与您分享光谱共焦传感器光笔测头知识讲解与注意事项首先,测头是可以更换的:同一个控制器多可存储20个对应于不同的测头的校准表数据,即可配备20个不同的测头。其次,测头是完全无源的:因为它没有包含热源和移动部件,所以要避免可能影响传感器测量过程精度的任何热膨胀。将测头连接在控制器上的光缆长可以定做到10m,当整理光纤线时避免将其弯曲成曲率半径小于20mm的圆弧上海线光谱共焦传感器品牌马波斯提供非接触式传感器(测量力小)在内的多种传感器,以及显象或测量计算机。

非接触式晶圆厚度测量系统非接触式晶圆厚度测量系统是一种利用气体动静压原理工作的非接触式轴承,由于工作在平面度较好的花岗岩表面,因此本身也能获得非常理想的运动平面度及平顺性,特别适用于高精度检测以及超精加工领域。对射式非接触式同轴激光位移传感器测量?直线电机高精度龙门运动机构?兼容抛光、未抛光、透明及非透明晶圆测量?共面气浮移动轴承确保样品的移动获得极高的平面度及平顺性?兼容1-8英寸规格晶圆样品(可扩展至300mm12英寸产品)?晶圆的测量厚度范围为10um-20mm?抗震式花岗岩底座及高隔振一体式机架?比较大扫描速度1m/s?可自定义生成快速便捷的自动化测量模式?直观简单的2D或3D数据呈现方式?适用于厚度,TTV,LTV,TIR,Sori,Taper,Bow和Warp测量参数及标准
压力传感器:是工业实践中常用的一种传感器,广泛应用于各种工业自控环境,涉及水利水电、铁路交通、智能建筑、生产自控、航空航天、石化、油井、电力、船舶、机床、管道等众多行业。7.激光传感器:利用激光技术进行测量的传感器,应用于生产、医学和非电测量等。8.MEMS传感器:包含硅压阻式压力传感器和硅电容式压力传感器,两者都是在硅片上生成的微机械电子传感器,广泛应用于生产、医学和非电测量等。红外线传感器:利用红外线的物理性质来进行测量的传感器,常用于无接触温度测量、气体成分分析和无损探伤,应用在医学、空间技术和环境工程等。光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,让您满意,有想法可以来我司咨询!

ENITH控制器采用比较高质量标准制造,是一款坚固可靠的产品,可满足车间环境(如实验室)中**苛刻的应用,是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量,可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯,ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量,而不会对被测产品造成任何损坏。ZENITH框架紧凑,结构稳固,专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量,包括各种反射性材料。3高频率采样是ZENITH与编码器(**多5个)结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光学笔:CL-MG、OP、ENDO和EVEREST,实现达纳米级精度的计量表现。使用简单,拆装方便,扫描速度快,定位精度高重复精度±0.5~±1µm;稳定性高,抗干扰能力强。黑龙江3D 视觉测量传感器厂家
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生物医疗-人造膝关节粗糙度测量符合ISO标准25178-602,传感器适用任何反射表面机械手表特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射微流体类通过塑料或玻璃等透明层,使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点涡轮叶片特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°;高达±88°的漫反射电池点对点厚度测量2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量非接触式测量,一体化设计,3D轮廓扫描,多功能数据处理适用于各种材料的精确测量;使用简单,拆装方便,扫描速度快,定位精度高重复精度±0.5~±1µm;稳定性高,抗干扰能力强膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制非接触测量,适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm,适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理黑龙江3D 视觉测量传感器厂家