什么是光谱共焦干涉仪?非接触式轮廓测量技术中的测量精度,通常受机械振动和微扫描台位置不准确的限制。为不再受此类环境干扰,开发了对振动不敏感的全新干涉测量法。采用这种新型干涉仪系统,干涉仪显微镜的精度可达亚纳米级。光谱共焦干涉测量原理干涉测量法基于白光干涉图(SAWLI)的光谱分析。它包括分析在光谱仪上观察到的干扰信号,以便测量参比板和样品之间的气隙厚度。成熟系统的**性在于将参考板固定在检测目标上。由于参考板和样品固定在一起,机械振动不会影响测量结果。此外,该传感器可用于测量太薄而不允许使用光谱共焦技术的透明薄膜。**小可测厚度为0.4μm。光谱共焦传感器,就选马波斯测量科技,让您满意,欢迎您的来电哦!山西线光谱共焦传感器应用案例

多个产品同时测量减少成本测量对象可任意摆放,多个产品可同时测量,**节省测量时间,减少用工成本!低畸变图像无变形即便在镜头边缘部位测量,图像畸变也很小,无需担心测量对象所放位置。缺陷过滤测量位置包含有毛边或缺陷时系统能自动识别,排除异常点提高测量的准确度。数据追溯管理更简单测量结果自动保存,可按测量日期、产品名称、产品料号等信息搜索,数据追溯管理简单优势:测量更准确采用双倍率双侧远心光学镜头,具有较高的远心度,即使有段差情况下也能高精度正确的测量。倍率涵盖0.16X大视野/0.7X高精度。北京stil传感器测量范围马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器,有想法的不要错过哦!

光谱共焦位移传感器?外形尺寸测量?空气夹层测量?厚度(透明物体)测量?段差高度(非透明物体)测量?外形轮廓测量?表面型貌测量?表面粗糙度测量?表面微小划痕测量?三维测量?平面度测量优势??高分辨率,比较高可达纳米级??高精度,比较高可达16纳米??同轴光测量,相比较三角反射测量,无测量盲区??可以测量几乎所有材料的表面,不论是漫反射表面,或者是高光亮面,或者是透明物体表面??物体表面的颜色对于测量结果没有任何影响,可以解决对于激光难以测量的黑色或者白色物体??可以同时测量多层玻璃或者胶的厚度
STIL光学传感器为全球各个行业提供更好的质量控制,我们的产品系列适合于各种应用,为更高的质量标准提供可靠的控制和检测。1995年推出点光谱共焦传感器,2005年创新推出线光谱共焦传感器,2015出现线光谱共焦相机,通过持续创新,2025年将推出适用于工业4.0智能解决方案。在严苛的工业环境下客户要求速度、精度、质量和安全满足的同时,也要求减少对环境的影响和降低成本,这正是STIL传感器产品系列具有的优势。适用于任何材料同轴共焦原理兼容任何折射,同轴共焦原理,易于工业集成,大角度测量,符合ISO25178-602标准。光谱共焦的特点:1.共焦对环境光不敏感可过滤杂波;2.彩色光谱在测量范围内形成彩色光谱,各种景深3.光谱仪通过嵌入式光谱仪对反射或漫反射进行光谱分析,快速并精确4.同轴同轴光学设计,无阴影影响。可靠、精确、超高分辨率的尺寸测量;高速在线解决方案;适用各种材料和环境;优于传统测量方案的其他特性,如:大角度测量,亚微米级精度,测量多层厚度。粗糙度测量符合ISO标准25178-602传感器适用任何反射表面;通过塑料或玻璃等透明层。

ENITH控制器采用比较高质量标准制造,是一款坚固可靠的产品,可满足车间环境(如实验室)中**苛刻的应用,是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量,可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯,ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量,而不会对被测产品造成任何损坏。ZENITH框架紧凑,结构稳固,专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量,包括各种反射性材料。3高频率采样是ZENITH与编码器(**多5个)结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光学笔:CL-MG、OP、ENDO和EVEREST,实现达纳米级精度的计量表现。马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器,竭诚为您。天津stil传感器品牌
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Zenith采样频率:400Hz-5000Hz主要优势稳定通过15位编码增强性能,提供测量值稳定性非接触非接触式技术适用于所以不接触被测产品的情况下进行测量。全材料光谱共焦技术可测量各种能够反射的材料(例如:金属、玻璃、塑料、漆膜、液体等)。适配可更换的MARPOSSSTIL光学笔:CL-MG/OP/Endo/Everest系列同步主从模式的多传感器测量,编码器触发功能。应用汽车玻璃玻璃容器和包装行业(PCB)电子工业、3C、半导体行业(硅片)、精密仪器行业、电动车行业(电池)山西线光谱共焦传感器应用案例