石家庄非接触式高温计价格

真空炉在半导体制造、金属热处理、单晶炉长晶等领域应用广，其高温、真空、密封的特殊环境，对测温设备的耐高温、抗干扰、准确度提出极高要求。思捷光电针对性研发系列红外测温仪，突破真空炉测温技术难题，为工艺温度控制提供可靠支持。真空炉内温度通常高达数百度至三千摄氏度，且无空气传导热量，传统接触式测温易受高温损坏且影响真空环境。思捷 STRONG-SR 系列双色红外测温仪（如 STRONG-SR-7026，700℃~2600℃）采用 304 不锈钢机芯，可选装带吹扫和冷却功能的防护套，在带水冷时可承受 - 20℃~200℃环境温度，适配真空炉高温工况。其双色测温技术不受炉内残留微量水汽、灰尘影响，测量精度 ±0.5% T，分辨率 0.1℃，能准确形成工艺温度曲线，为工件热处理提供数据依据。STRONG-SR-6016 等多款产品获 “常州市高新技术产品” 认定。石家庄非接触式高温计价格

针对工业场景中常规温度测量的需求，常州思捷推出 MARS 系列单色红外测温仪，以 “高稳定性 + 易操作 + 适配广” 为优势，成为热处理、有色金属加工、玻璃制造等行业的高性价比选择。该系列按探测器类型分为 MARS-S（硅光电池）、MARS-G（铟镓砷）、MARS-EXG（扩展型铟镓砷）三大类，测温范围覆盖 150℃~3050℃（分段），可匹配从低温涂层测温到高温炉窑监控的多样需求。MARS 系列的竞争力在于准确的常规测温能力：测量精度达 ±0.5% T（T 为测量温度值），分辨率 0.1℃，重复精度 ±2℃，搭配特殊设计的窄带红外滤片，能将发射率变化对测量结果的影响降至极低。例如在有色金属加工中，针对铝、铜等低发射率材料，仪器可通过微调发射率系数（0.100~1.100 可调），确保测温数据与实际温度偏差极小。石家庄非接触式高温计价格STRONG-GR 系列采用 InGaAs/InGaAs 探测器。

EX-SMART-F 系列采用光纤传导光学信号，相比传统测温仪具有明显的高温适配优势。光纤及镜头组件可承受 250℃高温，无需额外冷却装置，能直接安装在靠近热源的区域，减少信号衰减，适配真空炉、石墨炉、激光加热等高温场景。光纤采用铠装设计，抗冲击、抗腐蚀，可在狭窄空间灵活布线，解决复杂工况的安装难题。使用环境适应性强，测温仪不带水冷为 - 20℃~+60℃（极限 + 80℃），带水冷扩展至 - 20℃~+200℃，镜头吹扫压力 0.1MPa，流量 6L/min，有效防止粉尘、水汽污染。光纤长度可定制（2.5m、3m、5m、10m 等），满足不同安装距离需求，配合转向机构等附件，可在空间受限场景灵活安装，为超高温、强干扰工业场景提供可靠测温解决方案。

工业现场的高温、高粉尘、高水汽环境（如钢铁高炉、水泥窑、玻璃炉），会严重影响红外测温仪的使用寿命与测量精度 —— 高温可能损坏设备部件，粉尘覆盖镜头会导致信号衰减，水汽会干扰红外辐射传输。常州思捷针对这类场景，为 STRONG、EX-SMART、MARS 系列配备水冷与吹扫装置，形成完善的恶劣环境适配方案。水冷装置的作用是为设备降温，分为测温仪主体水冷与镜头水冷两类。以 STRONG 系列带水冷型号为例，设备主体可耐受 - 20℃~+200℃的环境温度，冷却水需满足压力 0.2MPa、流量 2L/min 的要求，通过循环水带走设备热量，避免高温导致的电路故障或探测器性能漂移；对于 EX-SMART 系列的光纤式产品，镜头及光纤可耐受 250℃高温，无需额外水冷，但设备主体仍可搭配水冷套，适配炉体周边的高温环境。在水泥窑测温场景中，窑体表面温度可达 180℃，带水冷的红外测温仪可长期稳定工作，而无水冷设备可能因高温频繁故障。思捷拥有 “高污染环境红外测温系统” 实用新型专利。

MARS-F系列光纤单色红外测温仪专为高温、强电磁干扰环境设计，通过耐高温光纤传导光学信号，使探测器远离恶劣工况，大幅提升设备稳定性与使用寿命。产品分为MARS-FS、MARS-FG、MARS-EXG子系列，测温范围覆盖200℃~3000℃分段区间，适配铸造、感应加热、单晶炉等场景。设备采用Si光电池或InGaAs探测器，测量精度±0.5%T℃，分辨率0.1℃，重复精度±2℃。M25调焦镜头在距离系数200:1时，光斑可小至0.75mm，准确定位被测目标。5ms快速响应可定制至3ms，能及时反馈温度变化。具备PID恒温控制与全量程温度补偿，内置EMI滤波器抗2500VDC脉冲群干扰。镜头及光纤可耐受-20℃~250℃高温，配合吹扫装置防尘防腐蚀，OLED屏与通讯接口实现数据可视化与自动化集成。三项管理体系认证，规范红外测温仪的生产与服务。莆田工业高温计定制

MARS 系列是单色红外测温仪，测温范围 150℃~3050℃（分段）。石家庄非接触式高温计价格

半导体制造对温度精度要求极高，思捷光电提供覆盖晶圆加工、薄膜沉积、长晶等环节的精密测温方案。晶圆加工阶段，蚀刻与沉积温度需控制在±1℃以内，EX-SMART系列光纤双色仪（350℃~3300℃）以1ms响应捕捉温度细微变化，三模式测温对比分析数据，抗电磁干扰设计适配光刻机等设备。第三代半导体长晶炉测温选用STRONG-SR系列双色仪（700℃~3200℃），准确监测炉内温度，形成工艺曲线，保障晶体质量；薄膜沉积环节，MARS-G系列（300℃~2500℃）监测沉积温度，确保薄膜厚度均匀。设备支持以太网通讯，与半导体自动化系统联动，实现温度闭环控制，提升产品良率。石家庄非接触式高温计价格