技术实现要素：本发明提供了一种闪存htol测试方法，以解决闪存htol测试中读点失效的问题。本发明提供的闪存htol测试方法，包括：提供待测闪存，所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元；所述闪存参考单元中捕获有空穴；对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除，以在所述闪存参考单元中引入电子；对所述闪存进行htol测试，所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失，以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。进一步的，所述闪存参考单元包括衬底、位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极和漏极，位于所述导电沟道上方的栅极单元，所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层、浮栅、栅间介质层以及控制栅，所述栅极单元的两侧分布有侧墙。 上海顶策科技有限公司智能一体化HTOL测试机TH801可以为芯片HTOL测试节省更多时间、FA成本。松江区HTOL测试机设计
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htonl()简述：将主机的无符号长整形数转换成网络字节顺序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong：主机字节顺序表达的32位数。注释：本函数将一个32位数从主机字节顺序转换成网络字节顺序。返回值：htonl()返回一个网络字节顺序的值。参见：htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系统下：#include<arpa/(uint32_thostlong);相关函数：uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);网际协议在处理这些多字节整数时，使用大端字节序。在主机本身就使用大端字节序时，这些函数通常被定义为空宏。————————————————版权声明：本文为CSDN博主「gocpplua」的原创文章，遵循，转载请附上原文出处链接及本声明。 上海顶策科技有限公司提供可靠性测试整体解决方案，以及测试方案制定，PCB设计制作，测试试验。徐汇区HTOL测试机24小时服务
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本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除的电荷分布示意图；发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除后的电荷分布示意图。图8为本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。其中，具体标号如下：100-衬底；101-源极；102-漏极；103-隧穿氧化层；104-浮栅；105-栅间介质层；106-控制栅；107-侧墙；具体实施方式本发明提供一种闪存htol测试方法，以下结合附图和具体实施例作进一步详细说明。根据下面说明，本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精细的比例，*用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图，松江区HTOL测试机设计