福建数字板卡

    时钟发生器、高速接口PLL、时序控制芯片、存储时钟驱动芯片主要指标围绕建立保持时间、相位差、抖动、传输延迟等时序参数，普通数字IO板卡时序测量精度不足，无法捕捉皮秒级微小时序误差，高精时序测试设备进口价格昂贵、交付周期漫长。杭州国磊GI-TMUHA044路高精度时间测试板卡，皮秒级时间测量分辨率，四路**时序采集通道，可同步测量多路信号相位抖动、传输延迟、建立保持时间，完美适配高速时钟、高速接口芯片时序性能表征，支持高低温环境下时序漂移连续监测。可与GI-RIOMS32高速LVDS数字板卡、GI-WRTHF02高精度波形板卡联动，构建“波形激励+时序采集+数字逻辑验证”一体化高速芯片测试平台，覆盖从低频时钟到高速差分时序全场景。2026年HBM、高速SerDes、AI算力配套时钟芯片需求激增，先进封装测试对时序精度要求持续升级，国内封测厂、设计企业面临进口时序测试硬件供货紧张问题，国磊时序板卡现货供应，底层驱动完全开放，可对接客户自研测试程序，无软件绑定限制。针对晶圆探针测试、封装后三温时序筛选场景，多板卡级联扩展时序通道，同步并行测试多颗芯片时序一致性，快速筛除时序失效器件，提升高精芯片良率，填补国产高精度时序测试硬件市场空白。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI，SMUMV04板卡提供±60V中压输出，兼容工控与电源管理芯片测试。福建数字板卡

    SiC、GaN功率器件双脉冲测试、开关损耗、动态导通电阻表征，需要高速纳秒级脉冲激励波形发生器，普通低速AWG边沿缓慢，无法复现器件高速开关工况，进口高速脉冲测试设备价格百万级，中小企业难以承担。杭州国磊GI-WRTHF044路高速AWG+2路DGT波形测试板卡，超快速信号边沿，可输出双脉冲、多段阶梯脉冲序列，精细模拟功率器件高速开关激励，配套高速采集通道实时捕捉开关电压电流波形，自动测算开关损耗、震荡电压、动态Rdson主要参数，完美支撑功率器件动态性能研发验证。可联动GI-SMUHV011000V高压SMU提供静态高压偏置，构建“高压静态表征+高速动态脉冲测试”一体化宽禁带器件测试平台，兼顾实验室研发与器件可靠性验证。2026年国内功率器件研发机构、第三方可靠性实验室数量激增，双脉冲测试硬件需求旺盛，但进口高速AWG预算门槛过高，国磊高速波形板卡性能对标进口中端脉冲发生器，采购成本降低60%，本土技术团队提供双脉冲测试方案调试支持。针对器件多批次动态特性对比、高温动态老化测试场景，多通道高速波形同步输出，并行测试多颗功率器件，大幅缩短样品动态性能验证周期，填补国产高速脉冲功率测试硬件空白。 珠海高精度板卡杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，每通道定时集，支持64组时序无缝切换（change-on-the-fly）。

    压力、温度、光电、工业振动传感器配套采集ADC、信号调理芯片，微弱低频模拟信号、低失真波形激励、高精度相位与增益测试，对波形发生器噪声、失真指标要求严苛，高速AWG失真大不适合小信号传感芯片测试，进口高精度波形设备价格昂贵。杭州国磊GI-WRTLF022路高精度AWG+2路DGT测试板卡，低失真模拟波形输出，谐波失真低于-90dB，低频至中频信号输出稳定，可生成正弦、三角、自定义微弱传感激励信号，配套双通道采集通道同步捕获芯片输出波形，精细测算增益、失调、幅频响应、噪声等传感芯片**参数。搭配GI-SMUBV04四路±10V低压精密SMU，提供多路低噪声稳定供电，消除电源噪声对小信号测量干扰，形成传感芯片高精度数模测试组合。2026年工业传感、智能家居传感器需求持续放量，本土传感芯片企业快速扩张，实验室高精度测试硬件采购成本压力大，国磊高精度波形板卡性能对标进口中端设备，价格减半，兼容通用PXI机箱，可对接现有自研测试软件。针对传感器芯片长期温漂测试、多点校准场景，整套硬件支持7×24小时连续采集数据，多板卡级联扩展多路并行校准通道，缩短样品验证周期，助力国产高精度传感芯片完成工业级认证。

    芯片设计公司研发实验室覆盖模拟、功率、数字、存储多品类样品验证，测试需求迭代快，固定整机ATE功能固化，无法灵活切换测试场景，进口模块化仪器整套采购预算极高，闲置功能模块造成资金浪费。杭州国磊全系GI系列测试板卡采用标准化PXIe模块化架构，客户可根据研发品类按需选配：低压模拟选GI-SMUBV04、中高压功率选GI-SMUMV04/GI-SMUHP01、高压宽禁带选GI-SMUHV01、数字逻辑选GI-DMUMS32、高速差分选GI-RIOMS32、波形激励选两款AWG、高精度基准与时序搭配对应**板卡，无需一次性采购全套硬件，按需扩容降低前期投入。2026年国内初创芯片设计公司数量持续增长，研发预算有限，对测试设备性价比、灵活性要求严苛，国磊板卡单通道价格*为进口同类产品50%，支持后续随时增配通道模块，机箱、控制器可重复复用，无硬件绑定限制。实验室研发阶段可完成器件级I-V表征、样品全参数扫描、可靠性预验证，定型后板卡可直接移植至量产产线，研发与量产硬件通用，避免重复采购设备。本土技术团队提供方案定制、测试程序调试、夹具适配全流程服务，快速搭建适配企业自研芯片品类的研发测试平台，大幅缩短芯片样品验证周期，降低初创企业硬件投入门槛。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，支持Edge和Windows两种采样模式，兼顾效率与深度分析。

    先进工艺加持下的低功耗SoC，测试难度大幅提升。这类芯片存在漏电特性复杂、电源完整性要求严苛、时序窗口精度更高等特点，同时PLL、ADC、LDO等混合信号模块，对测试验证的精细度有着极高标准。传统测试设备性能受限，无法适配这类**测试场景，在静态电流、电压裕量、动态功耗曲线、唤醒延迟、电源序列控制等主要参数的测试中，难以实现精细测量，存在明显测试短板。在此场景下，国磊GT600SoC测试机的主要优势充分显现。设备搭载每通道**PPMU参数引脚监测单元，可实现纳安级静态电流检测，精细捕捉先进工艺SoC的细微漏电异常，有效保障休眠、深度休眠等低功耗工作模式的稳定性与有效性。同时，设备可选配高精度浮动SMU板卡，支持，可高效完成DVFS电压切换测试与多电源域上电时序验证，通用覆盖先进工艺低功耗SoC的各类高精度、高难度测试需求。 通道数不够用？杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32，32通道并行测试，大幅提升测试吞吐量。衡阳PXI/PXIe板卡精选厂家

测试系统扩展难？杭州国磊DMUMS32，兼容PXIe标准机箱，支持级联扩展。福建数字板卡

    2026年Chiplet、先进封装成为行业主流趋势，异构集成芯片同时包含高压功率Die、模拟信号Die、高速数字Die、存储Die，单一类型板卡无法覆盖多Die混合测试需求，进口先进封装ATE整机价格高昂、通道定制周期长达数月。杭州国磊全系GI模块化测试板卡支持自由混合级联，高压Die采用GI-SMUHV01/GI-SMUHP01，模拟Die搭配GI-SMUBV04/GI-WRTLF02，高速数字/存储Die使用GI-RIOMS32/GI-TMUHA04，电源域同步测试选用GI-SMUMV04，自动切换依靠GI-CBIT120，基准校准配套GI-SMUREF05，单套PXIe机箱集成多品类功能板卡，一站式完成Chiplet多Die异构同步测试，无需多台测试设备联调，系统集成难度大幅降低。国产先进封装产线持续扩产，长电、华天、通富等头部封测厂加速国产测试硬件验证，进口先进封装测试整机百万级起订，定制改造受限，国磊模块化板卡按需选配功能通道，硬件投入降低50%以上，交付周期控制在2周内，本土团队完成先进封装多Die测试方案定制。针对晶圆级系统测试WLT、封装后SLT系统级测试场景，多机箱级联扩展千级并行通道，同步采集不同Die电学、时序、波形参数，快速定位异构封装内部Die互连失效，提升先进封装良率，打破海外设备在Chiplet高阶测试领域垄断。 福建数字板卡