GEN高阻测试设备供应商

可穿戴设备的“微功耗**” AI眼镜、智能手表等可穿戴设备依赖电池供电，对SoC功耗极其敏感。一颗芯片若待机漏电超标，可能导致设备“一天三充”。杭州国磊GT600的PPMU可精确测量nA级静态电流（Iddq），相当于每秒流过数亿个电子的微小电流，能识别芯片内部的“隐形漏电点”。通过FVMI模式，杭州国磊GT600可在不同电压下测试芯片功耗，验证其电源门控（Power Gating）与休眠唤醒机制是否有效。其高精度测量能力确保只有“省电体质”的芯片进入量产。同时，杭州国磊GT600支持混合信号测试，可验证传感器融合、语音唤醒等低功耗功能。在追求“轻薄长续航”的可穿戴市场，杭州国磊GT600以“微电流级”检测能力，为国产芯片的用户体验提供底层保障。国磊GT600SoC测试机可编写脚本实现电压/频率组合扫描，准验证芯片在不同工作条件下的稳定性与功耗表现。GEN高阻测试设备供应商

GT600每通道集成PPMU，具备nA级电流分辨率。在电源门控测试中，将PPMU连接至被门控模块的电源引脚（VDD）或地引脚（VSS），在门控信号（PG_EN）关闭后，测量该模块的静态电流（IDDQ）。若电流**高于设计预期（如>1μA），则表明存在异常漏电，可能由工艺缺陷或电源开关未完全关断导致。GT600支持多路**SMU/PPMU，可同时监测主电源域与被门控电源域的电流。测试时，保持主逻辑供电，关闭目标模块的电源门控信号，通过对比门控前后该域电流的变化，精确提取**由门控网络控制的漏电成分，排除其他模块干扰。GT600支持电压扫描（VoltageSweeping）和温控联动（通过探针台接口），可在高温（如125°C）和高电压条件下进行测试，放大漏电效应，提升缺陷检出率。例如，在VDD=1.2V、125°C下测量关断电流，可暴露常温下难以发现的微小漏电。通过GTFY软件系统编写C++脚本，可自动化执行：施加正常工作电压；发送指令进入低功耗模式并触发电源门控；延时稳定（如10ms）；启动PPMU进行电流采样；重复多次以验证一致性。该流程确保测试可重复，并能捕捉间歇性漏电。国磊导电阳极丝测试系统厂家选择GM8800，就是选择了一款多功能的测试平台。

医疗成像芯片 CT、MRI、内窥镜等设备的图像传感器（CIS）和图像信号处理器（ISP）对图像质量要求极高。国磊GT600可通过高速数字通道测试ISP的图像处理算法（如降噪、边缘增强），并通过AWG注入模拟图像信号，验证成像链路的完整性与色彩还原度。 4. 植入式医疗设备芯片 心脏起搏器、神经刺激器等植入设备的芯片必须**功耗、超高可靠。国磊GT600的FVMI模式可精确测量uA级静态电流，筛选出“省电体质”芯片；其支持长时间老化测试，可模拟10年以上使用寿命，确保植入后万无一失。 综上，国磊GT600以“高精度、高可靠、全功能”测试能力，为国产**医疗芯片的上市提供了坚实的质量保障。

国磊GT600支持400MHz高速测试与128M超大向量深度，足以运行手机芯片内部复杂的AI推理算法、多任务调度协议等长周期测试程序，避免传统设备因内存不足导致的“中断加载”，大幅提升测试覆盖率和效率。其512站点并行测试能力，更可满足手机芯片大规模量产需求，***降低测试成本。更重要的是，国磊GT600采用开放式GTFY系统，支持C++自主编程，工程师可深度定制测试流程，无缝对接内部研发与生产体系，实现从实验室到工厂的快速转化。在外部供应链受限的背景下，国磊GT600作为国产**测试设备，可以为国产手机芯片的持续迭代与稳定量产，提供坚实、安全、可控的底层保障。国磊GT600SoC测试机尤其适用于高引脚数、高集成度、混合信号特征明显的先进芯片。

    1.高边沿精度保障高速接口时序合规性。现代智能驾驶SoC普遍集成PCIe、GMSL、FPD-LinkIII等高速串行接口，用于连接传感器与**计算单元。这些接口对信号边沿时序要求极为严苛。杭州国磊GT600具备100ps的向量边沿放置精度，能够精确模拟高速信号的上升/下降沿，并配合Digitizer板卡捕获实际输出波形，验证眼图、抖动与建立/保持时间是否符合协议规范。这种高精度时序控制能力，是确保车载高速通信链路稳定性的关键测试手段。开放式软件生态赋能定制化测试开发。杭州国磊GT600采用基于VisualStudio与C++的开放式GTFY编程环境，允许客户根据自身芯片特性开发定制化测试流程。对于智能驾驶芯片厂商而言，这意味着可将内部验证方法论（如ISO26262功能安全测试用例）直接嵌入测试程序，实现自动化安全机制验证。同时，图形化数据显示与用户管理界面便于测试工程师快速定位故障引脚或模块，大幅提升调试效率，缩短芯片迭代周期。 国磊GT600SoC测试机向量响应存储深度达128M，可完整捕获HBM高速数据传输过程中的误码行为。广州GEN3测试系统市价

国磊GT600可用于测量电源上电时序（PowerSequencing），确保多域电源按正确顺序激发，避免闩锁效应。GEN高阻测试设备供应商

“风华3号”的推出标志着国产全功能GPU在大模型训练、科学计算与重度渲染领域实现从0到1的突破。其集成RISC-VCPU与CUDA兼容GPU架构，支持PyTorch、CUDA、Triton等主流AI生态，对芯片功能复杂度、接口带宽与时序精度提出了极高要求。此类高性能GPU通常具备数千个逻辑引脚、多电源域、高速SerDes接口及复杂状态机，传统测试设备难以完成**验证。国磊GT600测试机支持**2048个数字通道与400MHz测试速率，可完整覆盖“风华3号”类GPU的高引脚数、高速功能测试需求。其32/64/128M向量存储深度支持复杂计算指令序列的Pattern加载，确保GPU**、NPU单元及RISC-V子系统的功能正确性。GEN高阻测试设备供应商