在全球半导体测试设备长期被美日巨头垄断的背景下,杭州国磊推出的GT600 SoC测试机标志着中国在**数字测试领域实现关键突破。该设备支持高达400 MHz的测试速率和**多2048个数字通道,足以覆盖当前主流AI芯片、高性能计算SoC及车规级芯片的验证需求。其模块化架构不仅提升了测试灵活性,还***降低了客户部署成本。更重要的是,GT600实现了从硬件到软件的全栈自主可控,有效规避了“卡脖子”风险。在中美科技竞争加剧、国产芯片加速落地的大环境下,GT600不仅是一台测试设备,更是保障中国半导体产业链安全的战略支点,为国内设计公司提供了可信赖、高效率、低成本的本土化验证平台。国磊GT600可选ALPG功能,生成地址/数据序列,用于测试集成了EEPROM或配置寄存器的模拟前端(AFE)芯片。金门PCB测试系统市场价格

MEMS麦克风消费电子中***采用的数字/模拟MEMS麦克风,内部包含声学传感MEMS结构与低噪声前置放大器ASIC。关键指标包括灵敏度、信噪比(SNR)、总谐波失真(THD)和AOP(声学过载点)。杭州国磊(Guolei)支持点:GT-AWGLP02AWG板卡生成纯净1kHz正弦激励(THD<-122dB);高分辨率Digitizer采集输出信号,计算SNR与THD;支持I²S/PDM等数字音频接口协议测试;可进行多颗麦克风并行测试(512Sites),满足手机厂商大批量需求。压力传感器(气压/差压/***压力)用于可穿戴健康监测(如血氧估算)、汽车胎压监测(TPMS)、工业过程控制等。其ASIC需处理pF级电容变化,并具备温度补偿与校准功能。杭州国磊(Guolei)支持点:PPMU施加精确偏置电压并测量微安级工作电流;AWG模拟不同压力对应的电容激励信号;Digitizer采集校准后数字输出(如I²C读数),验证线性度与零点漂移;支持高低温环境下的参数漂移测试(配合温控分选机)。 扬州CAF测试系统按需定制国磊GT600可用于测量电源上电时序(PowerSequencing),确保多域电源按正确顺序激发,避免闩锁效应。

杭州国磊GT600 SoC测试机凭借其面向AI芯片特性的高性能参数和灵活架构,精细契合当前人工智能产业爆发式发展的**需求。高测试速率(100/400 MHz)——支撑AI芯片高速接口验证,AI芯片(如GPU、NPU、AI加速器)普遍集成HBM3/HBM3E、PCIe Gen5、SerDes等高速接口,数据传输速率高达数Gbps。400 MHz测试速率可完整覆盖AI SoC中高速I/O的功能与时序验证,确保在真实工作频率下稳定运行。随着大模型训练对带宽需求激增,国产AI芯片亟需高效验证平台,GT600成为打通“设计—验证—量产”闭环的关键工具。
面对AI架构日新月异(如存算一体、稀疏计算、类脑芯片),测试平台必须具备高度灵活性。GT600采用开放软件架构,支持C++、Python及Visual Studio开发环境,允许用户自定义测试逻辑、数据分析模块与自动化脚本。高校、初创企业甚至“六小龙”中的技术团队均可基于GT600快速搭建专属验证方案,无需依赖封闭厂商的黑盒工具链。这种开放性极大缩短了从算法原型到芯片验证的周期,使杭州成为AI芯片创新的“快速试验田”。GT600不仅是量产设备,更是推动中国AI底层硬件从“跟随”走向“原创”的创新引擎。国磊GT600SoC测试机向量响应存储深度达128M,可完整捕获HBM高速数据传输过程中的误码行为。

测试数据闭环助力量子芯片协同优化,杭州国磊(Guolei)GT600支持STDF、CSV等格式输出,并具备数据分析与图形化显示功能。这些测试数据可与量子芯片的设计仿真平台联动,形成“测试—反馈—优化”闭环。例如,若某批次控制芯片的相位噪声超标,可反向指导量子比特布局或滤波器设计,提升整体系统相干时间。国产化替代保障量子科技供应链安全量子技术属于国家战略科技力量,其**装备的自主可控至关重要。杭州国磊(Guolei)作为国产**ATE厂商,其GT600系统已实现对国际同类设备(如Advantest、Teradyne)部分功能的替代。在量子科研机构或企业构建本土化测控生态时,采用国产测试平台可降低技术封锁风险,加速从实验室原型到工程化产品的转化。虽然杭州国磊(Guolei)GT600并非直接用于测量量子态或操控量子比特,但作为支撑量子系统“经典侧”电子学的**测试基础设施,它在量子芯片外围电路验证、控制SoC量产、供应链安全等方面具有不可替代的价值。未来,随着“量子-经典混合系统”复杂度提升,高性能SoC测试设备与量子科技的耦合将更加紧密。因此,杭州国磊的SoC测试系统不仅是半导体产业的利器,也正在成为量子科技产业化进程中的一块关键拼图。 国磊GT600SoC测试机通过地址/数据生成器验证片上存储器(RAM/ROM)或寄存器配置接口完成ALPG测试。高性能绝缘电阻测试系统现货直发
国磊GT600SoC测试机支持高达2048个数字通道,满足HBM接口千级I/O引脚的并行测试需求。金门PCB测试系统市场价格
Chiplet时代的“互联验证者” Chiplet(芯粒)技术通过将大芯片拆分为小芯片再集成,突破摩尔定律瓶颈,成为先进制程的重要方向。然而,小芯片间的高速互联(如UCIe)对信号完整性、功耗、时序提出极高要求。杭州国磊GT600凭借400MHz测试速率与100ps边沿精度,可精确测量Chiplet间接口的信号延迟与抖动。其高精度SMU可验证微凸块(Micro-bump)的供电稳定性,检测微小电压降。PPMU则用于测量封装后各芯粒的**功耗,确保能效优化。杭州国磊GT600的模块化设计也便于扩展,可针对不同芯粒配置**测试板卡。在Chiplet技术快速发展的***,杭州国磊GT600以高精度互联验证能力,为国产先进封装芯片的可靠性与性能保驾护航。金门PCB测试系统市场价格