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有哪些HTOL测试机多少钱

来源: 发布时间:2023年03月26日

包括:将所述源极101和漏极102均悬空,在所述控制栅106上施加***擦除电压vc1,在所述衬底100上施加第二擦除电压vc2;其中,所述***擦除电压vc1为负电压,所述第二擦除电压vc2为正电压。所述***擦除电压vc1的范围为-10v~-8v,本实施例中例如为-9v;所述第二擦除电压vc2的范围为8v~10v,本实施例中例如为9v;擦除过程中的脉冲宽度为10ms~20ms。本实施例中,闪存参考单元的擦除原理是基于fowler-nordheim隧穿(简称为fn隧穿),通过在衬底100上施加正电压,在控制栅106上施加负电压,以在隧穿氧化层103中注入空穴,同时减少浮栅104中的电子。上海顶策科技智能HTOL系统,全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性。有哪些HTOL测试机多少钱

在每个时间点读点过程为:将闪存参考单元的输出电流iref与闪存阵列单元的输出电流i的差值经由读出放大器进行比对判断,若iref<i,则闪存读出“1”;若iref>i,则闪存读出“0”。与现有技术相比,本发明具有如下有益效果:本发明所提供的闪存htol测试方法,对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除,以在所述闪存参考单元中引入电子;对所述闪存进行htol测试,所述引入电子在所述htol测试过程中存在丢失,以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量,从而使闪存htol读“0”通过,解决了闪存htol测试中读点失效的问题,提高闪存质量。附图说明图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图;图2为本发明实施例的闪存参考单元的结构示意图;图3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图;图4为本发明实施例的对闪存参考单元进行擦除示意图;图5为本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除直接进行htol测试的输出电流iref分布图;怎样选择HTOL测试机私人定做可靠性事业部提供各类芯片的可靠性测试方案,原理图设计,PCB加工制作,出具可靠性报告等一条龙服务。

    htonl()简述:将主机的无符号长整形数转换成网络字节顺序。#include<arpa/(uint32_thostlong);hostlong:主机字节顺序表达的32位数。注释:本函数将一个32位数从主机字节顺序转换成网络字节顺序。返回值:htonl()返回一个网络字节顺序的值。参见:htons(),ntohl(),ntohs().在Linux系统下:#include<arpa/(uint32_thostlong);相关函数:uint16_thtons(uint16_thostshort);uint32_tntohl(uint32_tnetlong);uint16_tntohs(uint16_tnetshort);网际协议在处理这些多字节整数时,使用大端字节序。在主机本身就使用大端字节序时,这些函数通常被定义为空宏。————————————————版权声明:本文为CSDN博主「gocpplua」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。

本发明实施例的闪存参考单元未经过编译和擦除的电荷分布示意图;发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除后的电荷分布示意图。图8为本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。其中,具体标号如下:100-衬底;101-源极;102-漏极;103-隧穿氧化层;104-浮栅;105-栅间介质层;106-控制栅;107-侧墙;具体实施方式本发明提供一种闪存htol测试方法,以下结合附图和具体实施例作进一步详细说明。根据下面说明,本发明的优点和特征将更清楚。需说明的是,附图均采用非常简化的形式且均使用非精细的比例,*用以方便、明晰地辅助说明本发明实施例的目的。图1为本发明实施例的闪存htol测试方法流程图,TH801智能老化系统,实时监测并记录环境温度,确保芯片处于正常HTOL状态,保证HTOL测试质量。

本发明实施例的闪存参考单元经过编译和擦除循环后再进行htol测试的输出电流iref分布图。闪存参考单元进行编译和擦除循环后,htol测试过程中。闪存参考单元的输出电流iref在48小时的测试值iref1与在初始的测试值iref0之间偏移量减小,实际验证多个型号的闪存产品采用本实施例的方法后,htol可靠性验证通过,而且测试可靠,使闪存产品较短时间内进入客户样品量产阶段。综上所述,本发明所提供的一种闪存htol测试方法,对闪存参考单元进行编译和擦除循环后,再进行闪存htol可靠性验证,编译和擦除循环会在闪存参考单元中引入电子,引入的电子在闪存htol可靠性验证过程存在丢失,进而对空穴在htol测试过程中的丢失形成补偿,降低了闪存参考单元的输出电流iref的偏移量,从而使闪存htol读“0”通过,解决了闪存htol测试中读点失效的问题,提高闪存质量。显然,本领域的技术人员可以对发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样,倘若本发明的这些改动和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包括这些改动和变动在内。上海顶策科技智能HTOL系统,有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。本地HTOL测试机供应

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