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闪存参考单元包括：衬底100，位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极101和漏极102，位于导电沟道上方的栅极单元，所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层103、浮栅104、栅间介质层105以及控制栅106,所述栅极单元的两侧分布有侧墙107。栅间介质层105例如可以为依次层叠的氧化硅层、氮化硅层和氧化硅层的多层结构，即为ono结构。具体的，闪存在其生产工艺过程中易在闪存参考单元的隧穿氧化层103中捕获(引入)空**3为本发明实施例的对闪存参考单元进行编译示意图，如图3所示，对所述闪存参考单元进行编译，包括：在所述源极101上施加***编程电压vb1，在所述漏极102上施加第二编程电压vb2，在所述控制栅106上施加第三编程电压vb3，在所述衬底100上施加第四编程电压vb4；其中，所述***编程电压vb1小于所述第二编程电压vb2；所述第二编程电压vb2小于所述第三编程电压vb3。所述***编程电压的范围为～0v,所述第二编程电压的范围为～，所述第三编程电压vb3的范围为8v～10v,所述第四编程电压vb4的范围为～-1v，编译过程中的脉冲宽度为100μs～150μs。编译通过热电子注入的方式对所述浮栅104中注入电子。
可靠性测试整体解决方案：可靠性设备，HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定，PCB设计制作，测试试验，满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟，数字，混合信号，SOC，RF等各类芯片的可靠性方案设计，原理图设计，PCBlayout加工制作，老化程序开发调试，可靠性测试试验，出具可靠性报告等全方面服务。上海顶策科技有限公司，拥有20年以上的丰富测试技术积累及运营经验，以及多项发明专利及软件著作权，自成立以来已经为超过500家半导体公司提供高质量，高效率，低成本，一条龙测试解决方案！TH801智能老化系统，监测数据异常自动报警，实时发现问题并介入分析，大幅度提高HTOL效率。
技术实现要素：本发明提供了一种闪存htol测试方法，以解决闪存htol测试中读点失效的问题。本发明提供的闪存htol测试方法，包括：提供待测闪存，所述闪存包括闪存参考单元和闪存阵列单元；所述闪存参考单元中捕获有空穴；对所述闪存参考单元循环进行编译和擦除，以在所述闪存参考单元中引入电子；对所述闪存进行htol测试，所述引入电子在所述htol测试过程中部分丢失，以对htol测试过程中所述空穴的丢失形成补偿。进一步的，所述闪存参考单元包括衬底、位于所述衬底中的导电沟道、位于所述导电沟道两侧的源极和漏极，位于所述导电沟道上方的栅极单元，所述栅极单元从下到上依次包括隧穿氧化层、浮栅、栅间介质层以及控制栅，所述栅极单元的两侧分布有侧墙。 上海顶策科技智能HTOL系统，实时监测并记录环境温度，以及每颗芯片电压，电流，频率，寄存器状态等数据。奉贤区HTOL测试机参数
上海顶策科技智能HTOL系统，可灵活配置芯片工作状态，并施加信号，非常方便HTOL Setup。奉贤区HTOL测试机参数
是一家专业致力于芯片测试服务，芯片测试设备，HTOL老化炉的研发和制造企业，所有产品均采用更先进的技术和工艺制造。涵盖了该国际标准在结构、资源、技术、体系等方面的全部要求。其发布与实施将进一步促进我国标准物质研制(生产)机构管理体系的规范化运行，确保标准物质的研发、生产和服务质量。仪器仪表目前国内很多高阶产品仍主要依赖于进口，就进来的新品来看，国外产品多为高精尖产品，国内虽然也有新技术和新产品的出现，但是主要仍出现在温湿度等低端产品。所以替代进口空间大，前景广阔。近几年，我国仪器仪表行业呈现出高速发展的态势。据中国仪器仪表行业协会发布的数据，过去的几年期间，除受全球经济的影响而此期间，全球仪器仪表市场的增幅只有3%～4%，我国仪器仪表行业的发展速度之快可见一斑。总结其中原因，与我国的经济发展环境是密不可分的。智能仪表带有微型处理系统，或可接入微型计算机智能化仪器。它通过电子电路来转换测量数据，并对数据进行存储运算逻辑判断，通过全自动化的操作过程得到准确无误的测量，因其强大的功能被应用于各个行业。目前，智能仪器仪表的更新需求、新增需求和智能化比率在不断提升。奉贤区HTOL测试机参数
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