抖动的频率范围。抖动实际上是时间上的噪声,其时间偏差的变化频率可能比较 快也可能比较慢。通常把变化频率超过10Hz以上的抖动成分称为jitter,而变化频率低于 10Hz的抖动成分称为wander(漂移)。wander主要反映的是时钟源随着时间、温度等的缓 慢变化,影响的是时钟或定时信号的***精度。在通信或者信号传输中,由于收发双方都会 采用一定的时钟架构来进行时钟的分配和同步,缓慢的时钟漂移很容易被跟踪上或补偿掉, 因此wander对于数字电路传输的误码率影响不大,高速数字电路测量中关心的主要是高 频的jitter。数字信号处理系统的性能取决于3个因素:采样频率、架构、字长。上海多端口矩阵测试数字信号测试
采用前向时钟的总线因为有专门的时钟通路,不需要再对数据进行编解码,所以总线效率一般都比较高。还有一个优点是线路噪声和抖动对于时钟和数据线的影响基本是一样的(因为走线通常都在一起),所以对系统的影响可以消除到小。
嵌入式时钟的电路对于线路上的高频抖动非常敏感,而采用前向时钟的电路对高频抖动的敏感度就相对小得多。前向时钟总线典型的数据速率在500Mbps~12Gbps.
在前向时钟的拓扑总线中,时钟速率通常是数据速率的一半(也有采用1/4速率、1/10或其他速率的),数据在上下边沿都采样,也就是通常所说的DDR方式。使用DDR采样的好处是时钟线和数据线在设计上需要的带宽是一样的,任何设计上的局限性(比如传输线的衰减特性)对于时钟和数据线的影响是一样的。
前向时钟在一些关注效率、实时性,同时需要高吞吐量的总线上应用比较,比如DDR总线、GDDR总线、HDMI总线、Intel公司CPU互连的QPI/UPI总线等。 广西数字信号测试参考价格数字总线采用的时钟 分配方式大体上可以分为3类,即并行时钟、嵌入式时钟、前向时钟,各有各的应用领域。
克劳德高速数字信号测试实验室
数字信号测试方法:
需要特别注意,当数字信号的电压介于判决阈值的上限和下限之间时,其逻辑状态是不 确定的状态。所谓的“不确定”是指如果数字信号的电压介于判决阈值的上限和下限之间, 接收端的判决电路有可能把这个状态判决为逻辑0,也有可能判决为逻辑1。这种不确定是 我们不期望的,因此很多数字电路会尽量避免用这种不确定状态进行信号传输,比如会用一 个同步时钟只在信号电平稳定以后再进行采样。
反映的是一个5Gbps的信号经过35英寸的FR-4板材传输后的眼图,以及经过CTLE均衡后对眼图的改善。
FFE均衡的作用基本上类似于FIR(有限脉冲响应)滤波器,其方法是根据相邻比特的电压幅度的加权值进行当前比特幅度的修正,每个相邻比特的加权系数直接和通道的冲激响应有关。下面是一个三阶FFE的数学描述:
e(t)=cor(t-(0Tp))+cir(t-(1Tp))+czr(t-(2Tp))
式中,e(t)为时间t时的电压波形,是经校正(或均衡)后的电压波形;Tp为时间延迟(抽头的时间延迟);r(t-nTp)为距离当前时间n个抽头延迟之前的波形,是未经校正(或均衡)的波形;c,为校正系数(抽头系数)。 高速数字接口原理与测试;
数字信号测试串行总线的8b/10b编码(8b/10bEncoding)
前面我们介绍过,使用串行比并行总线可以节省更多的布线空间,芯片、电缆等的尺寸可以做得更小,同时传输速率更高。但是我们知道,在很多数字系统如CPU、DSP、FPGA等内部,进行数据处理的小单位都是Byte,即8bit,把一个或多个Byte的数据通过串行总线可靠地传输出去是需要对数据做些特殊处理的。将并行数据转换成串行信号传输的简单的方法如图1.19所示。比如发送端的数据宽度是8bit,时钟速率是100MHz,我们可以通过Mux(复用器)芯片把8bit的数据时分复用到1bit的数据线上,相应的数据速率提高到800Mbps(在有些LVDS的视频信号传输中比较常用的是把并行的7bit数据时分复用到1bit数据线上)。信号到达接收端以后,再通过Demux(解复用器)芯片把串行的信号分成8路低速的数据。 数字信号的建立/保持时间(Setup/Hold Time);数字信号测试系列
传统的数字信号带宽计算;上海多端口矩阵测试数字信号测试
要把并行的信号通过串行总线传输,一般需要对数据进行并/串转换。为了进一步减少传输线的数量和提高传输距离,很多高速数据总线采用嵌入式时钟和8b/10b的数据编码方式。8b/10b编码由于直流平衡、支持AC耦合、可嵌入时钟信息、抗共模干扰能力强、编解码结构相对简单等优点,在很多高速的数字总线如FiberChannel、PCIe、SATA、USB3.0、DisplayPort、XAUI、RapidIO等接口上得到广泛应用。图1.20是一路串行的2.5Gbps的8b/10b编码后的数据流以及相应的解码结果,从中可以明显看到解出的K28.5等控制码以及相应的数据信息。上海多端口矩阵测试数字信号测试