机械MIPI测试配件

本文中的MIPI接口用于@示驱动芯片，基于MIPI-DSI协议来设计，包括一个时钟通道和两个数据通道。全部数据通道都可用于单向的高速传输，但只有条数据通道才可用于低速双向传输，从属端的状态信息，像素等是通过该数据通道返回。时钟通道用于在高速传输数据的过程中传输同步时钟信号。高速接收电路是MIPI接口实现高传输速率的关键模块，在本文中，时钟通道和两个数据通道采用相同的高速接收电路结构，单通道数据传输速率可达到1Gbps。。时钟线的LP信号质量测试；机械MIPI测试配件

MIPI信号完整性测试是一种测试方法，

用于检查MIPI接口传输的信号是否具有稳定性和可靠性。在MIPI接口中，由于信号速率很高，需要确保信号传输的完整性和准确性，以避免数据丢失或出现错误。

MIPI信号完整性测试通常包括以下方面：

1.噪声测试：检测信号波形中的噪声水平，了解噪声对信号的影响，并确定信号噪声的能力以确保传输数据的可靠性。

2.抖动测试：测试信号波形在某些时刻出现的随机抖动，评估其对信号传输的影响，并确定抖动的性能指标。

3.失真测试：检查信号在传输过程中是否发生失真，并分析失真的原因及其对信号的影响，从而确定信号失真的能力。

通过对MIPI信号进行完整性测试，可以帮助厂商确定其MIPI设备的信号传输性能，并提高其产品的稳定性和可靠性 USB测试MIPI测试故障MIPI-DSI接口以MIPI D-PHY协议定义的物理传输层为基础;

MIPI-DSI接口电路构架

MIPI-DSI从机接口电路主要包括4个模块:物理传输层模块、通道管理层模块、协议层模块以及应用层模块。

物理传输层:接收时钟通道、数据通道0和数据通道1的高摆幅低功耗序列信号，并进行序列检测，当检测到高速接收请求时，时钟通道接收高速率低摆幅的差分DDR时钟信号，并进行四分频为数据处理逻辑提供并行数据传输时钟，数据通道接收高速率低摆幅的差分数据信号，并进行串并转换输出8位的并行数据到通道管理层，数据通道0在检测进入Escape模式时，则接收高摆幅低速率的数据和命令，并进行串并转换输出到通道管理层;在检测到TA(turnaround)请求时，则将从机的数据或命令进行串行化，以数据通道0发送给主机。

MIPIMobileIndustryProcessorInterface是2003年由ARM,Nokia,STTI等公司成立的一个联盟)，目的是把手机内部的接口如摄像头、显示屏接口、射频基带接口等标准化，从而减少手机设计的复杂程度和增加设计灵活性。MIPI联盟下面有不同的WorkGroup，分别定义了一系列的手机内部接口标准比如摄像头接口CSI、显示接口DSI、射频接口DigRF、麦克风喇叭接口SLIMbus等。统一接口标准的好处是手机厂商根据需要可以从市面上灵活选择不同的芯片和模组，更改设计和功能时更加快捷方便。。MIPI D-PHY的接收端容限测试；

根据D-PHY的CTS的要求，D-PHY的发送信号质量测试主要应该包含以下测试项目:

(1)数据线的LP信号质量测试:包含数据信号在LP模式下的高电平、低电平、上升时间、斜率等。

(2)时钟线的LP信号质量测试:包含时钟信号在LP模式下的高电平、低电平、上升时间、斜率等。

(3)数据线的HS信号质量测试:包含数据信号在HS模式下的差分电压、单端电压。共模电压、上升时间等。(4)GlobalOperation的测试:由于从LP模式切换到HS模式以及HS模式下数据传输完成后退出到LP模式都有一定的时序要求，这部分测试项目有时又称为GlobalOperation的测试项目，其中一些相关时序参数的定义

(5)时钟线的HS信号质量测试:测试项目与数据线的HS信号质量测试项目类似。

(6)HS模式下时钟和数据线间的时序关系测试:包括在HS模式的数据有效前时钟应该提前的准备时间、HS数据传输完后时钟应该保持的时间、数据和时钟信号间的时延等。 MIPI D-PHY信号质量测试；USB测试MIPI测试故障

MIPI如何满足工业物联网需求；机械MIPI测试配件

2，MIPID-PHY测试项目

(1)DataLaneHS-TXDifferentialVoltages

(2)DataLaneHS-TXDifferentialVoltageMismatch

(3)DataLaneHS-TXSingle-EndedOutputHighVoltages(

4)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltages

(5)DataLaneHS-TXStaticCommon-ModeVoltageMismatchΔV_CMTX(1,0)

(6)DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsBetween50-450MHz

(7)1.3.10DataLaneHS-TXDynamicCommon-LevelVariationsAbove450MHz

(8)DataLaneHS-TX20%-80%RiseTime

(9)DataLaneHS-TX80%-20%FallTime

(10)DataLaneHSEntry:T_LPXValue

(11)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPAREValue

(12)DataLaneHSEntry:T_HS-PREPARE+T_HS-ZEROValue

(13)DataLaneHSExit:T_HS-TRAILValue

(14)DataLaneHSExit:30%-85%Post-EoTRiseTimeT_REOT

(15)DataLaneHSExit:T_EOTValue

(16)DataLaneHSExit:T_HS-EXITValue

(17)HSEntry:T_CLK-PREValue

(18)HSExit:T_CLK-POSTValue

(19)HSClockRisingEdgeAlignmenttoFirstPayloadBit

(ata-to-ClockSkew(T_SKEW[TX])

(21)ClockLaneHSClockInstantaneous:UI_INSTValue

(22)ClockLaneHSClockDeltaUI:(ΔUI)Value 机械MIPI测试配件