测量MIPI测试测试流程

MIPICSI/DSI的协议测试

对于从事MIPICSI/DSI的芯片和模块开发的用户来说，需要的是能够地验证被测件的功能及在各种可能出现的情况下的表现，依靠示波器提供的信号质量分析和协议解码功能就不太够了(主要是内存深度和触发功能的限制)，这时的协议分析仪是个更好的选择，例如Agilent公司基于U4421A平台的MIPICSI/DSI的协议分析和信号激励方案。如图13.14所示，U4421A采用的也是AXIe的模块式结构，是插在AXle机箱里的一个分析模块，根据不同的License选件可以配置分析仪或训练器功能,或者两者兼有。 MIP测试I接口到底是什么?测量MIPI测试测试流程

数据通道0具有高速数据接收，以及低功耗下的Escape模式，数据通道1具有高速数据接收和功耗模式，在闲置状态时，通道都处于LP-II状态。当主机向从机发送高速接收请求序列LP-II->LPOI->LPOO，从机通过检测LP-II->LPOI和LPOI->LPOO的变化，使能差分放大电路的中的终端电阻控制信号，打开高速接收，从机开始准备接收主机高速发送过来的数据。当主机向从机发送Escape模式进入序列LP-II->LP-IO>LPOO>LPOI->LPOO时，从机开始检测序列，在正确接收到的LPOO状态后即进入Escape模式，然后等待主机发送Entrycommands。再进行相应的操作，退出Escape模式的序列是LP-IO>LP-II。 浙江MIPI测试测试流程MIPI M-PHY的协议解码；

MIPI一致性测试

MIPI一致性测试是一种用于检查MIPI设备是否符合MIPI联盟制定规范的测试方法。这种测试方法通常包括两个方面：功能性测试和互操作性测试。在功能性测试中，测试设备会执行一系列针对特定MIPI协议的测试程序，并检查设备是否正确地响应和处理测试指令。例如，针对MIPIDSI（DisplaySerialInterface）协议的测试可以确保显示器能够正常接收和显示图像数据。在互操作性测试中，测试设备会模拟多种不同的设备和情境对MIPI设备进行测试，以确保设备能够与其他设备和系统稳定通信并正常工作。例如，在MIPICSI（CameraSerialInterface）协议的互操作性测试中，测试设备会模拟各种不同的摄像头组件，并测试是否能够正确地从摄像头接收数据。通过MIPI一致性测试，厂商能够检查其MIPI产品是否符合MIPI联盟制定的标准和规范，确保其设备能够与其他MIPI兼容设备无缝集成并可靠地工作。

在四条通路之间，在以2.5 Gbps/路运行时，D-PHY 1.2信号的最大吞吐量约为10 Gbps。物理层信号有两种模式：高速(HS)模式和低功率(LP)模式。高速[HS]模式用于快速传送数据。在系统处于空闲时，低功率[LP]模式用来传送控制信息，以延长电池续航时间。HS和LP模式有不同的端接方式，系统应能够动态改变端接方式，以支持这两种模式

HS数据的速度越高，显示器能够支持的分辨率越高，影像的清晰度也就越好。数据速率与分辨率之间的关系，还要看一下其他几个参数。

●像素时钟：决定着像素传送的速率

●刷新速率：屏幕每秒刷新次数

●色彩深度：用来表示一个像素的颜色的位数像素时钟的推导公式如下：像素时钟=水平样点数x垂直行数x刷新速率。其中水平样点数和垂直行数包括水平和垂直消隐间隔。 MIPI-DSI接口以MIPI D-PHY协议定义的物理传输层为基础;

MIPI物理层一致性测试是一种用于检测MIPI接口物理层性能是否符合规范的测试方法；测量MIPI测试测试流程

MIPI还是一个正在发展的规范，其未来的改进方向包括采用更高速的嵌入式时钟的M-PHY作为物理层、CSI/DSI向更高版本发展、完善基带和射频芯片间的DigRFV4接口、定义高速存储接口UFS(主要是JEDEC组织)等。当然，MIPI能否成功，还取决于市场的选择。

当前，终端市场要求新设计具有更低功耗、更高数据传输率和更小的PCB占位空间，在这种巨大压力之下，一些智能化且具有更高性能价格比的替代方案开始逐渐为相关设计人员所采用。现在使用的几种基于标准的串行差分接口当中，MIPI接口在功率敏感同时又要求高性能的移动手持式设备领域中的增长极为迅速。而基带和显示器/相机模块对MIPI显示器串行接口(DisplaySerialInterface，DSI)和相机串行接口(CameraSerialInterface，CSI-2)协议的采纳，正是这种增长的主要推动力。DSI和CSI-2是分别针对显示器和相机要求的逻辑层(logical-level)协议，它们通过物理互连对主机与外设之间的数据进行管理、差错和通信。MIPID-PHY规定了连接处理器和外设的物理层的物理及电气特性，这些MIPI接口为服务移动设备市场而专门设计。 测量MIPI测试测试流程