芯片设计公司研发实验室覆盖模拟、功率、数字、存储多品类样品验证,测试需求迭代快,固定整机ATE功能固化,无法灵活切换测试场景,进口模块化仪器整套采购预算较高,闲置功能模块造成资金浪费。杭州国磊全系GI系列测试板卡采用标准化PXIe模块化架构,客户可根据研发品类按需选配:低压模拟选GI-SMUBV04、中高压功率选GI-SMUMV04/GI-SMUHP01、高压宽禁带选GI-SMUHV01、数字逻辑选GI-DMUMS32、高速差分选GI-RIOMS32、波形激励选两款AWG、高精度基准与时序搭配对应**板卡,无需一次性采购全套硬件,按需扩容降低前期投入。2026年国内初创芯片设计公司数量持续增长,研发预算有限,对测试设备性价比、灵活性要求严苛,国磊板卡单通道价格*为进口同类产品50%,支持后续随时增配通道模块,机箱、控制器可重复复用,无硬件绑定限制。实验室研发阶段可完成器件级I-V表征、样品全参数扫描、可靠性预验证,定型后板卡可直接移植至量产产线,研发与量产硬件通用,避免重复采购设备。本土技术团队提供方案定制、测试程序调试、夹具适配全流程服务,快速搭建适配企业自研芯片品类的研发测试平台,大幅缩短芯片样品验证周期,降低初创企业硬件投入门槛。 杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32板卡对标NI,尺寸紧凑(3U),节省机箱空间。小批量芯片测试服务

工业自动化、光伏储能大量使用隔离驱动芯片、隔离运算放大器、隔离采样IC,这类器件输入侧与输出侧电气隔离,普通非浮动测试模块极易产生回路干扰,造成隔离漏电流、传输特性测试结果失真,是行业普遍存在的测试难点。杭州国磊GI系列源测量模块全部采用精密浮动隔离架构,完美适配隔离器件专项测试。±100V工况选用GI-SMUHP01,±60V场景采用GI-SMUMV04,高压隔离器件搭配GI-SMUHV01。浮动电源**电位,输入侧、输出侧可以施加不同电压电位,真实复现隔离芯片实际工作工况,精细测量隔离阻抗、隔离漏电流、信号传输增益、相位失真。搭配GI-WRTLF02高精度AWG产生低频模拟激励,GI-TMUHA04测量信号传输延迟。整套硬件可以搭建隔离芯片晶圆CP测试平台,也可以用于封装成品FT量产筛选。很多企业长期使用普通台式源表测试隔离器件,数据重复性差,难以满足工业芯片认证标准。国磊浮动SMU从硬件架构层面解决地环路干扰问题,测试精度明显提升。模块化方案灵活组合,帮助国产隔离模拟芯片企业搭建标准化测试平台,加速工业隔离芯片国产化替代进程。 广州控制板卡市价杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32对标NI,支持混合插槽机箱,资源利用更高。

储能、电动车BMS管理芯片多路电芯采集通道比较高60V电压,多通道电芯电压、均衡电流、保护阈值同步测试,单通道SMU测试效率极低,进口四路高压源表单价高、通道扩展受限,难以匹配储能芯片大批量量产需求。杭州国磊GI-SMUMV044路精密浮动±60V源测量模块,四路完全单独隔离通道,可同步模拟四路电芯电压,精细采集均衡充放电电流、过压欠压保护触发阈值、静态休眠功耗,单块板卡同时测试四颗BMS芯片或四路电芯采集通道,并行测试效率提升四倍。搭配GI-DMUMS32数字板卡输出通讯、均衡控制数字信号,同步验证BMSSPI、CAN通讯逻辑,一套硬件覆盖BMS模拟采集与数字控制全测试项目。2026年储能行业装机量持续攀升,本土BMS芯片企业扩产提速,第三方封测厂新增大量BMS测试工位,进口多通道60VSMU供货紧张,国磊四路SMU批量现货,多板卡级联可扩展数十路并行电芯模拟通道,适配大容量储能BMS芯片量产分选。搭配GI-CBIT120继电器驱动板卡自动切换多路电芯模拟回路,对接三温分选机实现全自动无人测试,硬件具备多重过压过流安全防护,适配储能芯片长期老化可靠性测试,明显降低BMS芯片产线设备投入,加速储能芯片国产替代进程。
工业变频器、光伏逆变器IGBT隔离驱动芯片,控制侧±100V宽电压域、多路隔离电源、数字PWM逻辑同步测试,常规±60VSMU无法覆盖驱动芯片高压控制轨,多通道数字供电与逻辑验证需要复合型数字板卡协同。杭州国磊GI-SMUHP011路精密浮动±100V源测量模块,覆盖IGBT驱动高压控制电压区间,浮动隔离架构规避高低压测试回路串扰,精细测量驱动芯片静态功耗、隔离漏电流、欠压保护阈值;配套GI-DMUMS32集成数字测试板卡,PPMU多路可编程电源、VPP高压激励、32路DIO同步输出PWM控制信号,完整复现变频器实际驱动工况。一套硬件同步完成驱动芯片高压模拟参数与数字逻辑功能测试,无需两套**测试系统,大幅节省实验室与产线空间。2026年光伏储能、工业自动化赛道持续高景气,国产IGBT驱动芯片加速替代进口,头部工控企业批量搭建驱动芯片测试工位,进口±100VSMU供货周期长,国磊中高压SMU批量现货,模块化设计可快速扩展多工位并行测试。搭配GI-TMUHA04时序板卡测量PWM信号死区时间、传输延迟,GI-CBIT120继电器实现多路驱动芯片自动切换,适配三温老化量产筛选,硬件宽温稳定运行,大幅提升工业驱动芯片测试效率。 36.杭州国磊半导体PXIe板卡系列可为鸿石智能AC3芯片提供从研发调试到批量生产的全流程测试解决方案。

2026年半导体国产替代进入深水区,进口ATE整机、模块化测试板卡普遍存在采购周期6-12个月、硬件溢价高、软件封闭、运维备件昂贵、定制改造受限五大痛点,国内封测厂、芯片设计企业设备采购成本持续走高,压缩产品利润空间。杭州国磊半导体全自研GI系列测试板卡,覆盖SMU源测量、数字IO、高速LVDS、高低精度AWG、时序测量、基准源、继电器驱动全品类功能,完整对标NI、爱德万、是德进口PXIe测试模块性能,同等通道配置采购成本降低40%-60%,全部硬件元器件国内供应链配套,无海外断供风险,现货交付周期控制在7-15天,大幅缩短产线建设等待时间。板卡采用标准PXIe通用架构,客户可复用现有工控机箱、测试分选机、探针台,无需整套更换进口主机,原有测试程序*需少量底层驱动适配即可兼容,软件无强制授权年费,长期运维成本下降70%。针对功率、模拟、数字、存储、先进封装全赛道芯片测试需求,支持自由组合模块化方案,小批量研发按需选配,大批量量产无限级联扩展通道,本土技术团队覆盖方案设计、系统集成、程序调试、售后运维全流程服务,快速完成进口设备替换落地。当前国内头部模拟、功率芯片企业已批量导入国磊测试板卡搭建自研ATE系统。 杭州国磊半导体PXIe板卡SMU系列对标NI,背板供电即可运行;支持外接48V,输出功率提升至40W。PXIe板卡工艺
杭州国磊半导体PXIe板卡DMUMS32板卡对标NI,与PXIe机箱完美匹配,构建高可靠性测试系统。小批量芯片测试服务
大量采购进口商用ATE整机的企业长期面临隐性成本:年度维保服务费高昂、备件订货周期长达数月、维修只能依赖海外原厂工程师,一旦设备故障停机,直接造成产线停滞。很多企业意识到,长期运维成本甚至接近硬件采购价格。选择模块化自研测试平台搭配国磊GI系列板卡,是控制运维开支的有效方案。杭州国磊所有测试板卡国内生产,主要备件现货储备,售后工程师常驻华东,故障响应速度远高于海外厂商。不存在强制年度维保协议,按需提供维修、校准服务。硬件架构标准化,单块故障板卡**更换,不需要整机停机检修,大幅缩短产线停机时间。产品线覆盖GI-SMU全梯度源测量模块、数字IO、AWG、时序、继电器等全部功能品类,一站式配齐所有测试硬件,无需对接多家供应商。无论是实验室研发平台,还是量产FT、CP测试产线,均可依靠模块化架构降低运维风险。大量模拟芯片、功率器件企业逐步以GI自研板卡方案替代老旧进口ATE,摆脱长期高额维保负担,测算下来3~5年节省的运维费用十分可观,明显优化企业长期资本开支结构。 小批量芯片测试服务