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ESAPSS-01-708）中提出：“当被焊接在导电图形中的元件与焊接表面镀层不相容时，要避免采用金镀层。在任何情况下都不允许在金镀层上直接进行焊接。”★1991年3月，ESA在《表面安装和混合工艺印制电路板的高可靠性焊接》（ESAPSS-01-738）中强调：“绝不允许用锡一铅合金去焊黄金。如果陶瓷基片或器件的表面有镀金层或涂金层，则可以采取某种形式的机械打磨去金，以保证更好的焊接性能。”★2002年桂林电子科大周德俭与吴兆华教授在《表面组装工艺技术》中介绍，金在SnPb焊料中快速溶解，出现金向焊料的扩散溶蚀现象，并与焊料形成脆性的金属间化合物，所以不宜用SnPb焊料焊接金。在高可靠电子装联元器件焊接中规定必须用铅锡合金焊料，特别是在航天**行业的生产中，为防止金脆，镀金的引线和接线端子必经过搪锡处理。对镀金表面的处理问题已经明确提出，并作为禁（限）用工艺项目重点关注。国内外的**行业标准有关镀金表面去金的要求见表1。6.无须纠结的镀金引线/焊端除金处理尽管对于镀金引线及焊端在焊接前为了确保焊接质量必须进行除金处理，但实际上镀金引线及焊端需要预**行除金处理的元器件并不多，主要是电连接器镀金焊杯和个别片式器件的镀金焊端。粘合剂是使锡膏具有一定粘性和可塑性的成分。如果粘合剂不足，会导致锡膏过硬、过脆，甚至无法使用；广东直销搪锡机共同合作

从而减少集成电路ic搪锡时的热冲击。所述预热装置可不是本发明改进要点，可以采用现有技术来实现。根据需要，在进行预热前通过粘助焊剂装置对密集引脚器件的引脚粘助焊剂，便于后序预热和搪焊。根据需要，所述搪锡系统还包括对搪焊引脚上助锡剂的上助锡剂装置和对搪焊引脚进行预热的预热装置，其中上助锡剂装置和预热装置不是本发明的发明点，其采用现有技术来实现，不再赘述。以上实施例*用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，而这些修改或替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。广东使用搪锡机用户体验全自动搪锡机在在焊接工艺中，为保证焊接品质，必需在其表面涂敷一定的可焊性镀层。

而案例中所提供的金脆案例也恰恰是使用量*****的民用电子产品—手机。因此，我们不能对此掉以轻心，也不能因为故障的概率较低，或者自己从未遇到而忽视或否定镀金引线/焊端除金处理的必要性和重要性。实施镀金元器件引线或焊端的“除金”工艺，关键在于人们对“除金”重要性的认知程度，实际上是对产品质量的重视问题，或者说是对客户的责任性问题；航天二院706所张永忠研究员说：“认为间距太密而认为去金没有必要，是一个误区，是把必要性和可行性混杂了”。其二，要深入了解金脆化的危害性，并从理论上了解金脆化产生的机理；第三，要确切掌握自己所负责的产品中那些元器件的引脚和焊端是镀金的；第四，通过工艺试验不断提出和完整镀金元器件引线或焊端的“除金”工艺；第五，必须开展镀金元器件引线或焊端的“除金”的岗位练兵活动，造就一支技术上过得硬的“除金”工匠队伍。美国在2005年**军力报告中提到：“**尚处于对质量重要性的认识阶段”；这是一句外交辞令，实际上是说我们对质量重要性还**停留在口头“认识阶段”，没有付之行之有效的实际行动！而实际情况是，确实有那么一部分片面追求GDP，满足应付和“凑乎”的企业和人员，连“认识阶段”都还没有达到。

所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成圆锥形，所述出锡口位于锥形喷嘴的顶部。进一步地说，所述喷嘴本体弧形斜面至少设有一个使锡流速减缓锡厚均匀的折流槽。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成的圆锥形时，其表面折流槽为环形或弧形。进一步地说，所述折流槽与喷嘴出锡口平行。本发明还提供一种搪锡装置，该搪锡装置包括搪锡喷嘴，该搪锡喷嘴包括使设有出锡口的喷嘴本体，该喷嘴本体设有使液态焊锡从其表面锡流形成焊锡膜的弧形斜面，该焊锡膜的厚度自上而逐渐变薄。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成圆锥形，所述出锡口位于锥形喷嘴的顶部。进一步地说，所述喷嘴本体弧形斜面至少设有一个使锡流速减缓锡厚均匀的折流槽。进一步地说，所述喷嘴本体外侧由弧形斜面形成的圆锥形时，其表面折流槽为环形或弧形。进一步地说，所述折流槽与喷嘴出锡口平行。进一步地说，所述恒定送焊机构包括浸没于锡槽焊锡液内的锡腔，该锡腔一端与圆锥形喷嘴连通，该锡腔一端设有由恒定闭环的伺服马达驱动的叶轮，所述锡腔设有叶轮的一端还设有与锡槽连通的进锡口。进一步地说，所述搪锡系统还包括对搪焊引脚上助锡剂的上助锡剂装置。进一步地说。全自动搪锡机采用精密的机械结构，能够确保搪锡层的均匀性和平滑度，提高产品质量。

**后计算出它们之间的百分比？上述规定没有可操作性。如果把这两个数据作为是否需要进行引脚除金的依据，按照**装机用元器件必须100%进行筛选的规定，不管元器件的生产厂商能否提供上述依据，元器件的使用方仍然必须复验；那么是否每一个元器件的使用方都必须在入库检验时增加一道元器件引脚镀金层厚度的检验？即使做到了这一条，那么对于元器件引脚的镀金层的金含量与被焊端子焊料之比小于2%又如何控制？是不是首先要对每一个元器件引脚镀金层的金含量进行定量分析，然后对每一个被焊端子焊料量进行定量分析，**后计算出它们之间的百分比？没有可操作性。2009年，航天五院总工艺师范燕平在访德期间就此事咨询了德国科研人员，德国科研人员向来以技术上的严谨而闻名，他们说：3%金含量很难控制，也不了解，因此应严格执行镀金引线的除金规定。实际上，无论是3%金含量还是μm或μm厚的镀金层，工艺人员都需要获取明确的元器件引线和焊端表面金镀层厚度的信息，否则工艺人员和操作工人既不了解也很难把控，要么以为金镀层小于μm而不除金，要么金镀层有多厚全部作除金搪锡处理。甚至于个别时候对是否是镀Au引线/焊端都难以确定和把握。在搪锡过程中，全自动搪锡机能够严格控制温度和时间，确保锡层的质量和稳定性。广东使用搪锡机应用范围

由于元件存储时间过长或存储不当造成的引脚氧化，造成引脚可焊性下降，搪揚工艺可以提高引脚的可焊性。广东直销搪锡机共同合作

图14是除金搪锡后的正面实物照片，用的是锡锅加自制工装去金搪锡。缺点是不易掌握，容易桥接，如图15所示。图16是搪锡后贴片机的识别情况。2.无引线表面贴装器件焊端镀金层搪锡除金工艺对于航空航天**等对环境条件要求比较苛刻且可靠性要求较高的产品来说，若焊接前无引线镀金表面贴装器件（例如LCCC、PQFN等封装器件）不进行搪锡处理，器件引线和Sn-Pb焊料之间有不同程度的金层堆积现象，使得器件和焊料之间容易产生金脆现象，器件和焊料之间的机械强度**降低，产品很难经受上百次的温度循环试验，可靠性**降低。所以高可靠产品中的无引线镀金表面贴装器件必须经过有效、可靠的搪锡处理；若金层厚度大于μm，还需进行二次搪锡，以达到完全除金的目的，满足产品可靠性方面的要求。对于QFN器件中心的接地焊端，可以采取手工智能焊台进行二次去金搪锡工艺；对于LCCC城堡形器件需要用预热台或锡锅对镀金焊端进行二次去金搪锡处理。在分别对QFN器件中心的镀金接地焊端和LCCC城堡形器件的镀金焊端进行二次去金处理后，才允许进行焊接。3.射频电连接器焊杯除金工艺1）射频电连接器焊杯。广东直销搪锡机共同合作