锁相红外热成像系统平台的重要优势之一,在于其具备灵活的多模式激励信号输出能力,可根据被测目标的材质、结构及检测需求,精细匹配比较好激励方案。平台内置的信号发生器支持正弦波、方波、三角波等多种波形输出,频率调节范围覆盖 0.01Hz-1kHz,输出功率可根据目标尺寸与导热特性进行 0-50W 的连续调节。例如,检测金属等高热导率材料时,因热传导速度快,需采用高频(100-500Hz)正弦波激励,确保缺陷区域形成稳定的周期性热响应;而检测塑料、陶瓷等低热导率材料时,低频(0.1-10Hz)方波激励能减少热扩散损失,更易凸显材料内部的热阻差异。同时,平台还支持自定义激励信号编辑,工程师可通过配套软件设置激励信号的占空比、相位差等参数,适配特殊检测场景,如航空复合材料层合板的分层检测、动力电池极耳的焊接质量检测等。这种多模式适配能力,使系统突破了单一激励方式的局限性,实现了对不同行业、不同类型目标的多方面覆盖检测。致晟 Thermal 用 InGaAs 探测器,900-1700nm 波段量子效率 70%+,捕微弱热辐射。红外光谱锁相红外热成像系统内容

在工业生产与设备运维中,金属构件内部微小裂纹、复合材料层间脱粘等隐性缺陷,往往难以通过目视、超声等传统检测手段发现,却可能引发严重的安全事故。锁相红外热成像系统凭借非接触式检测优势,成为工业隐性缺陷检测的重要技术手段。检测时,系统通过激光或热流片对工件施加周期性热激励,当工件内部存在裂纹时,裂纹处热传导受阻,会形成局部 “热堆积”;而复合材料脱粘区域则因界面热阻增大,热响应速度与正常区域存在明显差异。系统捕捉到这些细微的热信号差异后,经锁相处理转化为清晰的热图像,工程师可直观识别缺陷的位置、大小及形态。相较于传统检测方法,该系统无需拆解工件,检测效率提升 3-5 倍,且能检测到直径小于 0.1mm 的微小裂纹,广泛应用于航空发动机叶片、风电主轴、压力容器等关键工业构件的质量检测与运维监测。thermal锁相红外热成像系统订制价格该系统广泛应用于芯片失效分析。

从技术实现角度来看,致晟光电独有的锁相红外热成像系统的核心竞争力源于多模块的深度协同设计:其搭载的高性能近红外探测器(如 InGaAs 材料器件)可实现 900-1700nm 波段的高灵敏度响应,配合精密显微光学系统(包含高数值孔径物镜与电动调焦组件),能将空间分辨率提升至微米级,确保对芯片局部区域的精细观测。系统内置的先进信号处理算法则通过锁相放大、噪声抑制等技术,将微弱热辐射信号从背景噪声中有效提取,信噪比提升可达 1000 倍以上。
锁相红外技术凭借独特的技术设计,兼具高信噪比、深度分辨与微弱信号检测三大优势,同时在关键参数应用上具备灵活适配性:其通过保留与激励同频的有效信号,能高效滤除背景辐射、相机噪声等环境干扰,确保检测信号纯净度;针对不同深度缺陷,可利用热波相位延迟差异,通过相位差分析实现亚表面缺陷的定位,突破传统热成像的表层检测局限;还能捕捉传统热成像难以识别的微小温度变化,比如微电子器件中虚焊产生的微弱热信号,满足精细检测需求。在关键参数上,频率选择可按需调整,低频激励适用于探测深层缺陷,高频激励则适配表面或浅层缺陷检测;且相位图像相比幅值图像,更能清晰反映器件内部结构差异,为各类检测场景提供良好的技术支撑。
温度分辨率可达 0.0001°C,细微变化尽收眼底。

不同于单一技术的应用,致晟光电将锁相红外、热红外显微镜与InGaAs微光显微镜进行了深度融合,打造出全链路的检测体系。锁相红外擅长发现极其微弱的热缺陷,热红外显微镜则能够在更大范围内呈现器件的热分布,而InGaAs微光显微镜可提供光学通道,实现对样品结构的直观观察。三者结合后,研究人员能够在同一平台上实现“光学观察—热学定位—电学激励”的分析,提升了失效诊断的效率与准确性。对于半导体设计公司和科研机构而言,这不仅意味着测试效率的提升,也表示着从研发到量产的过渡过程更加稳健可控。致晟光电的方案,正在成为众多先进制造企业实现可靠性保障的关键工具。锁相红外凭借高灵敏度与抗干扰能力,能在复杂环境下定位 PCB、PCBA 板上的微小热故障。锁相红外热成像系统选购指南
锁相红外技术能捕捉电子器件失效区域微弱热信号,结合算法抑制干扰为半导体器件失效分析提供关键支持。红外光谱锁相红外热成像系统内容
尤其在先进制程芯片研发过程中,锁相红外热成像系统能够解析瞬态热行为和局部功耗分布,为优化电路布局、改善散热方案提供科学依据。此外,该系统还可用于可靠性评估和失效分析,通过对不同环境和工况下器件的热响应进行分析,为量产工艺改进及产品稳定性提升提供数据支撑。凭借高灵敏度、高空间分辨率和可靠的信号提取能力,锁相红外热成像系统已经成为半导体研发与失效分析中不可或缺的技术手段,为工程师实现精细化热管理和产品优化提供了有力保障。红外光谱锁相红外热成像系统内容