锁相红外热成像系统的工作原理围绕 “周期性激励与同频信号提取” 构建,是实现弱热信号精细检测的关键。其重要逻辑在于,通过信号发生器向被测目标施加周期性激励(如光、电、热激励),使目标内部存在缺陷或异常的区域,因热传导特性差异,产生与激励频率同步的周期性热响应。红外探测器实时采集目标的红外热辐射信号,此时采集到的信号中混杂着环境温度波动、电磁干扰等大量噪声,信噪比极低。锁相放大器通过引入与激励信号同频同相的参考信号,对采集到的混合信号进行相干检测,保留与参考信号频率一致的热信号成分,从而滤除绝大部分无关噪声。这一过程如同为系统 “装上精细的信号过滤器”,即使目标热信号微弱到为环境噪声的千分之一,也能被有效提取,终实现对目标热分布的精细测量与分析。故障定位:常用于短路、漏电、接触不良等失效分析。国产锁相红外热成像系统价格

锁相热成像系统的电激励检测方式,在多层电路板质量检测中展现出优势。多层电路板由多个导电层与绝缘层交替叠加组成,层间通过过孔实现电气连接,结构复杂,极易在生产过程中出现层间短路、盲孔堵塞、绝缘层破损等缺陷,进而影响电气性能,甚至引发故障。通过电激励方式,可在不同层级的线路中施加电流,使其在多层结构中流动,缺陷区域因电流分布异常而产生局部温升。锁相热成像系统则可高灵敏度地捕捉这种细微温度差异,实现对缺陷位置与类型的定位。例如,在检测层间短路时,短路点处的温度会高于周围区域;盲孔堵塞则表现为局部温度分布异常。相比传统X射线检测技术,锁相热成像系统检测速度更快、成本更低,且能直观呈现缺陷位置,助力企业提升多层电路板的质量控制效率与良率。厂家锁相红外热成像系统内容LIT技术已成为微光显微镜(EMMI)之后重要的热类失效分析手段之一。

LIT 即 Lock-in Thermography(锁相热成像)技术,是半导体失效分析领域的检测技术之一,而致晟光电的实时瞬态锁相热分析系统(RTTLIT)则是基于 LIT 技术的专有的升级方案,在传统技术基础上实现了 “实时性” 与 “瞬态分析” 的双重突破。传统 LIT 技术虽能通过锁相原理过滤噪声,但在信号响应速度与瞬态缺陷捕捉上存在局限,致晟 RTTLIT 则通过自主研发的周期性激励源控制算法,可根据待测样品(如 IC 芯片、IGBT 模块)的特性,动态调整电信号激励频率(范围覆盖 1Hz-10kHz),让目标物体产生同步且稳定的热响应。
锁相红外热成像系统的重要原理可概括为 “调制 - 锁相 - 检测” 的三步流程,即通过调制目标红外辐射,使探测器响应特定相位信号,实现微弱信号的准确提取。第一步调制过程中,系统通过调制器(如机械斩波器、电光调制器)对目标红外辐射进行周期性调制,使目标信号具备特定的频率与相位特征,与环境干扰信号区分开。第二步锁相过程,探测器与参考信号发生器同步工作,探测器对与参考信号相位一致的调制信号产生响应,过滤掉相位不匹配的干扰信号。第三步检测过程,系统对锁相后的信号进行放大、处理,转化为可视化的红外图像。在侦察领域,这一原理的优势尤为明显,战场环境中存在大量红外干扰源(如红外诱饵弹),锁相红外热成像系统通过调制目标(如敌方装备)的红外辐射,使探测器响应特定相位的信号,有效规避干扰,实现对目标的准确识别与追踪。锁相技术可区分深层与表面热源。

不同于单一技术的应用,致晟光电将锁相红外、热红外显微镜与InGaAs微光显微镜进行了深度融合,打造出全链路的检测体系。锁相红外擅长发现极其微弱的热缺陷,热红外显微镜则能够在更大范围内呈现器件的热分布,而InGaAs微光显微镜可提供光学通道,实现对样品结构的直观观察。三者结合后,研究人员能够在同一平台上实现“光学观察—热学定位—电学激励”的分析,提升了失效诊断的效率与准确性。对于半导体设计公司和科研机构而言,这不仅意味着测试效率的提升,也表示着从研发到量产的过渡过程更加稳健可控。致晟光电的方案,正在成为众多先进制造企业实现可靠性保障的关键工具。热像图分析分三步:整体观、精定位、判类型,速缩失效分析周期。无损检测锁相红外热成像系统销售公司
锁相解调单元做互相关运算,滤环境噪声。国产锁相红外热成像系统价格
在工业生产与设备运维中,金属构件内部微小裂纹、复合材料层间脱粘等隐性缺陷,往往难以通过目视、超声等传统检测手段发现,却可能引发严重的安全事故。锁相红外热成像系统凭借非接触式检测优势,成为工业隐性缺陷检测的重要技术手段。检测时,系统通过激光或热流片对工件施加周期性热激励,当工件内部存在裂纹时,裂纹处热传导受阻,会形成局部 “热堆积”;而复合材料脱粘区域则因界面热阻增大,热响应速度与正常区域存在明显差异。系统捕捉到这些细微的热信号差异后,经锁相处理转化为清晰的热图像,工程师可直观识别缺陷的位置、大小及形态。相较于传统检测方法,该系统无需拆解工件,检测效率提升 3-5 倍,且能检测到直径小于 0.1mm 的微小裂纹,广泛应用于航空发动机叶片、风电主轴、压力容器等关键工业构件的质量检测与运维监测。国产锁相红外热成像系统价格