高性能CAF测试系统定制价格

    车规芯片是专为汽车严苛环境设计的，必须满足生命保障的安全底线。但是先进节点的引入又带来了晶体管密度的指数级增长，导致工艺变异性和缺陷敏感性大幅上升。因而，对其高稳定性、长寿命（10-15年）及零缺陷（DPPM每百万缺陷数）都提出了极高的要求，其质量标准是消费电子和工业芯片的100-1000倍。为了实现高覆盖率测试，需要更长的测试时间、更复杂的三温测试（芯片耐受温度通常在-40℃至150℃之间），这些都对ATE测试提出了极为严苛的要求，从实验室内的验证到测试车间内的量产测试，测试环境、测试稳定性以及精度可靠性都是重要的技术门坎。测试环境一般而言车规芯片特别重视不同温度环境的测试，尤其在CP晶圆测试阶段高温(150℃)与低温(-40℃)的两道工序是不可避免的，因此在测试机的测试载具要求与温度管控上要求很高。G97系统已经通过数家车规芯片设计公司的量产验证，量产环境获得充分保证，积累了大量量产经验。例如，以下为一家车规MCU芯片的量产流程，G97系统被采用于CP1/CP4/CP5/FT1/FT2五道工序的制程中。 国磊G97-ADC 覆盖研发验证→小批量试产→大规模量产，高精度、模块化、低成本替代，价格海外设备 1/3 左右。高性能CAF测试系统定制价格

    低功耗是蓝牙耳机芯片的**竞争力，更长的续航时间、更少次数的充电需求可以典型的蓝牙耳机芯片测试方案既涵盖了逻辑（数字）测试、音频相关（数模混合）测试，也需要对蓝牙（射频）部分进行测试。G97系列ATE测试平台的不同产品上，使用了相同的功能板卡插槽设计，可以按照客户需求实现不同功能板卡组合的配置，亦可以连接业界常用的RF仪器（如罗德施瓦茨/LITEPOINT/NI/KEYSIGHT旗下的电子测试测量仪器仪表），从而可以轻松覆盖以上所有的测试需求。大幅提升用户体验，使用更小的电池也有利于耳机的持续轻量化，从而从体验和产品两方面增强其便携性，并且符合当前绿色电子的环保趋势。在芯片架构上，普遍使用了动态电压频率调整（DVFS）技术，可以根据负载实时调节芯片电压/频率和分段供电、关闭限制模块电源域。因此，通常一颗蓝牙耳机芯片上会出现5V。G97系列ATE平台上，每块DIGI板卡上均自带8个DPS通道和8个GPMU通道，可以为被测芯片提供充足的电源资源。如果在少数多site并行测试场景下，无法满足电源资源数量的需求，那么用户还可以在平台中搭配专门的DPSI板卡（单板64路DPS通道）和MVPI板卡（单板32路中高压VI通道）进一步对电源资源扩展。 常州导电阳极丝测试系统精选厂家国磊G97-ADC 可自动生成 INL/DNL 曲线、FFT 频谱分析图表。

    Fabless芯片设计企业流片后样品数量少、迭代速度快，实验室需要小型化、灵活易用的ATE完成全参数摸底、极限工况验证、可靠性预测试，无需大规模量产配置，兼顾低成本租赁与采购双重需求，缩短芯片迭代周期。进口小型桌面ATE租赁费用高昂，按月结算成本难以控制，且排期紧张，新品研发调试无设备可用；市面国产小型设备精度缩水，无法复现量产机台同等测试条件，实验室验证数据无法对标量产标准；设备操作软件复杂，IC设计工程师无专业测试培训难以操作；硬件固定不可拓展，后续芯片迭代新增测试项目需要重新采购整机；海外设备售后远程调试时差大，样品故障复现调试周期漫长。杭州国磊推出G97桌面小型研发**机型，占地面积只传统量产机40%，摆放不受实验室空间限制；硬件主要测量精度与量产G97-X200完全一致，实验室摸底数据可直接对标量产产线标准；可视化极简操作软件，配套图文操作教程，芯片设计工程师无需专业测试培训即可完成样品验证；模块化拓展插槽，后续芯片迭代新增模拟、数字测试项目只需加装板卡，无需更换整机；支持采购、短期租赁两种合作模式，灵活匹配研发小批量样品测试需求；杭州本地技术工程师一对一协助开发测试程序，加速芯片迭代验证。

    国磊ATE设备创新性打通芯片研发验证与量产测试全流程闭环，单台设备支持研发调试、量产自动化两种工作模式无缝切换，彻底解决传统设备“研发机不能量产、量产机不便调试”的行业痛点。在实验室研发阶段，设备可实现芯片流片前仿真对标、流片后性能表征、参数精细化调试、缺陷精细定位，帮助研发团队快速优化电路设计、修正性能偏差、缩短芯片研发迭代周期。在量产阶段，设备可一键切换自动化量产模式，适配晶圆CP探针测试、封装成品FT测试全流程，对接自动化产线实现批量测试、不良筛选、数据归档。两套模式共用同一套硬件主要与软件算法，保证研发测试参数与量产测试标准完全统一，避免模式切换带来的测试偏差与标准脱节，大幅降低企业设备投入、产线转换与人员培训成本，实现芯片从研发到量产的无缝衔接、高效流转。 国磊G97-X200整机硬件、测量算法、测试软件均为杭州国磊自主研发，无底层国外器件依赖。

    PMIC集成多路降压、升压、LDO稳压通道，为MCU、存储、传感器提供稳定供电，晶圆CP测试筛选裸片短路漏电，成品FT验证上电时序、负载稳压、各路轨协同工作特性，车载PMIC需额外满足宽温、低漏电严苛标准，多路**供电通道同步测试是主要难点。市面通用ATE采用共享功率池架构，多路电源同步加载时单通道压降过大，无法模拟芯片真实满载工况；普通设备动态负载仿真功能缺失，无法复现设备瞬间上电、负载跳变场景，量产漏筛稳压失效芯片；高低温测试时硬件温补能力弱，-40℃~125℃区间电流漂移明显，参数判定标准偏移；进口车载**PMIC测试设备单价超千万，中小封测厂固定资产投入压力巨大；多轨电压、电流数据分散存储，无法一键生成车规品质统计报表。G97-X200搭载**大功率浮动DPS电源板卡，每通道专属功率回路无共享压降，完美模拟多路电压轨同步启停；内置动态电子负载仿真模块，可自定义毫秒级负载跳变曲线，精细复现终端设备上电工况；全通道硬件温补电路，全温区间电流温漂控制在nA级；原生联动冷热冲击机自动循环三温测试，实时同步采集每一路轨电压、电流、漏电数据；内置AEC-Q100车规报表模板，一键导出良率、CPK、失效统计数据，采购成本只进口设备45%。 国磊G97-ADC 是G97 通用 PXIe 模块化平台下的 ADC / 混合信号测试系统，专为模数转换芯片打造。苏州导电阳极丝测试系统厂家供应

国磊G97-X200高速并行测试能力，大幅提升量产吞吐效率。高性能CAF测试系统定制价格

    ADC/DAC实现模拟信号与数字信号互相转换，广泛应用工业采集、医疗设备、车载传感，8~32bit高精度型号对同步时序、信噪比SNR、总谐波失真THD指标要求严苛，测试需搭配高速波形发生器AWG与多通道同步测量单元，多工位并行是量产降本主要手段。高精度ADCATE长期被海外厂商垄断，受出口管制影响交付周期拉长至12个月；多数国产通用ATE缺少**波形发生模块，多通道同步采样时序偏移达纳秒级，THD、SNR测试误差超标，出现大量误判漏筛；传统设备同测工位上限16Sites，单颗芯片测试时长久，千万级月出货产线产能瓶颈突出；软件向量存储深度不足，多阶失真度测试中途卡顿；设备不支持多档位增益自动切换，高低幅值信号需分两次上机，大幅增加产线流转成本。国磊专属G97-ADC模数混合测试平台，内置定制化高速AWG与皮秒级同步TMU测量单元，多通道时序同步校准误差＜10ps，精细完成32bit以内全规格ADC/DAC失真度、信噪比测试；硬件原生支持32/64Sites并行量产方案，单条产线产能提升2-3倍；超大向量存储空间，支持上万阶谐波失真连续测试；自动增益档位切换，单次插卡完成全幅值参数检测；配套国产自研闭环软件，开放底层接口对接工厂MES系统，数据实时上传溯源。 高性能CAF测试系统定制价格