GEN高阻测试设备

    在Fabless芯片设计企业的研发与小批量试产环节，很多团队都会遇到这样的现实痛点：进口ATE设备价格高昂、交期漫长，直接上量产大设备投入过重，而简易测试平台精度不足，无法完成模拟类芯片完整参数校验。很多人并不了解，ATE设备并非只有大规模量产机型，针对研发、中小批量场景的中端平台，能够很好平衡性能与成本。杭州国磊半导体G97‑X200测试机，作为中端主力ATE设备，依托模块化硬件设计，通过选配更换不同功能板卡，就可以匹配电源管理IC、驱动芯片、部分混合信号芯片的测试工作。无需采购多台整机，依靠板卡切换，同一台机器完成样品调试、工程验证、小批量FT测试。整机软硬件本土自研，没有海外软件锁死问题，支持二次开发，可对接MES系统。不管是设计公司内部实验室，还是中小型封测厂的试产工位，G97‑X200都可以快速落地。本土技术团队提供板卡选型、程序调试支持，缩短设备导入周期，帮助企业摆脱进口设备供应链制约，在可控预算之下，完成多品类芯片的电性测试，兼顾研发迭代效率与固定资产投入控制。 国磊G97-ADC -122dBc AWG 信号源，解决高精度 ADC 失真测试痛点。GEN高阻测试设备

    国磊G97-X200通用模拟ATE是针对运放、电压基准源、比较器、模拟开关等通用线性模拟芯片打造的高精度测试平台，搭载行业高精度浮动SMU与失真AWG波形发生器，彻底解决传统测试设备地回路干扰、测量精度不足的行业痛点。设备可***覆盖线性模拟芯片全主要参数测试，包括输入失调电压、输入偏置电流、开环增益、共模抑制比、温漂特性、输出摆幅、负载驱动能力等关键指标，测量精度完全匹配工业级、汽车级芯片设计标准。在芯片研发阶段，可精细捕捉电路微小性能偏差，为电路优化、参数调试提供量化数据支撑；在量产阶段，可实现全参数自动化筛选，有效剔除性能临界、参数漂移的不良芯片。同时设备支持常温、高低温联动测试，可模拟复杂工况下的芯片性能变化，充分适配工业控制、智能家居、消费电子等多领域线性模拟芯片的研发验证与规模化量产测试需求，是国产线性模拟芯片迭代升级的主要测试装备。 金华SIR测试系统定制国磊G97-ADC 有大量成功案例，对市场上一些经典热门的AD芯片，如LT2313、AD7276、AD7616等提供准确的测量。

    国磊ATE设备针对音频、工业控制、雷达传感、精密仪器等场景DAC数模转换芯片，打造了全自动化、高精度量产测试方案，通用适配各类位数、架构DAC芯片的研发验证与批量生产测试场景。设备搭载高纯净度多频段波形激励与高精度采集模块，可精细测试DAC芯片转换精度、通道一致性、信号失真度、建立时间、输出阻抗、动态响应等主要参数，有效解决DAC量产过程中通道偏移、波形畸变、响应滞后等良率痛点。针对音频DAC的低失真、高保真严苛需求，设备可精细捕捉细微谐波失真与底噪问题，保障音频输出纯净度；针对工业高精度DAC，可完成高低温工况下参数漂移测试，验证芯片复杂环境适应性。同时设备支持多Site并行测试模式，可同时完成多颗DAC芯片全参数测试，大幅提升量产测试效率，降低单颗芯片测试成本。搭配自研自动化测试软件，可实现测试流程一键启动、数据自动记录、不良品自动筛选，多角度满足中高精DAC芯片的标准化量产测试需求。

    针对SAR、Sigma-Delta、Pipeline等全架构ADC模数转换芯片，国磊G97-ADC ATE搭载24bit超高精度高速Digitizer采集单元与ps级时序测量模块，构建了全套专业化、高精度测试体系，完美适配AI感知、工业传感、车载信号采集等**场景ADC测试需求。设备可一站式完成ADC芯片**性能参数测试，涵盖积分非线性、微分非线性、信噪比、总谐波失真、无杂散动态范围、采样抖动、通道串扰、建立时间等全维度指标，解决了传统仪器测试参数零散、精度不足、时序校准不准的问题。依托**失真激励输出能力，可输出纯净标准测试波形，规避激励信号杂波导致的测试误差，精细还原芯片真实转换性能。同时支持多通道同步采样测试，可有效验证多传感器融合场景下ADC的信号同步性与一致性，助力企业快速排查芯片失真、采样偏移、噪声异常等隐性问题，大幅提升**ADC芯片的研发效率与量产良率，成为国产高精度ADC芯片国产化替代的**测试支撑。 国磊G97-ADC 动态指标：SNR 信噪比、THD 总谐波失真、SFDR 无杂散动态范围、ENOB 有效位数。

    多路驱动IC***用于电机驱动、栅极驱动场景，测试比较大难点在于多通道信号同步性，通道时序偏差过大，测试就无法还原芯片真实工况，极易出现误判。科普，驱动IC测试板卡，必须保障多路通道同步输出、同步采集，时序误差控制在极小范围，才可以保障动态功能测试有效。杭州国磊半导体G97‑X300测试机，面向工程与中批量产的ATE设备，可配置多路同步**测试板卡。更换对应板卡，即可完成多通道驱动IC的功能、参数测试，保障通道之间时序一致性，还原芯片真实工作状态。同时更换其他板卡，也可承接电源管理芯片等其他器件测试，实现一机多用。设备兼顾CP晶圆测试与FT成品测试，适配封测厂多品种业务。本土技术团队配合调试测试方案，快速落地驱动芯片全套测试项目，减少误判带来的物料损耗，为多路驱动芯片提供稳定的国产ATE测试解决方案。 国磊G97-X200多路高速 LVDS 数字通道，单通道速率可达 1.25Gbps。SIR测试系统生产厂家

国磊G97-ADC是基于G97通用平台的ADC测试系统，以低成本、高精度、高扩展性为特点。GEN高阻测试设备

    模拟小信号芯片是电源、传感器、音频设备的基础主要，主要参数为失调电压、温漂、nA级静态电流，测试依赖高精度SMU（源测量单元）完成微弱电信号激励与采集，是芯片流片前必做的工程摸底测试，直接决定量产良率天花板。当前行业高度依赖进口模拟ATE，设备采购周期超10个月，年度维保费用占设备原值15%以上；市面普通国产机电压测量精度只mV级，无法捕捉μV级失调漂移，温漂测试长时间运行后数据离散度超标；研发阶段芯片迭代速度快，固定板卡架构无法灵活增减模拟通道，新品NPI（新产品导入）调试周期动辄1-2个月；分立台式仪器搭建测试环境自动化程度低，人工记录数据误差高，无法联动探针台实现晶圆自动化验证。杭州国磊G97-X200通用模拟平台搭载自研浮动高精度SMU，电压测量精度达μV、电流分辨率至10pA，完美覆盖微弱信号检测；采用模块化PXIe插槽，模拟、数字板卡可按需自由插拔，单台设备适配多款模拟芯片研发；内置标准化运放、LDO测试脚本模板，工程师无需从零编写程序，新品验证周期缩短60%；原生支持探针台、三温机通讯联动，全流程自动采集、存储、导出测试数据；整机采购+三年维保总成本只进口设备50%，杭州本地7×24小时工程师驻场调试。GEN高阻测试设备